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태양전지 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015053526
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요약 본 발명은 태양전지 및 그 제조방법에 관련된 것으로서, 보다 상세하게는 중간 반사층의 기능을 가지는 2 이상의 P-N 도핑층이 구비된 적층형 태양전지 및 그 제조방법과 관련된다. 본 발명의 실시예에 따른 태양전지는, 기판; 상기 기판 위에 형성되어 있는 투명 전극층; 상기 투명 전극층 위에 형성되어 있는 제1 p형 반도체층; 상기 제1 p형 반도체층 위에 형성되는 제1 진성 반도체층; 상기 제1 진성 반도체층 위에 형성되어 있는 제1 P-N 도핑층; 상기 제1 P-N 도핑층 위에 형성되어 있는 제2 진성 반도체층; 상기 제2 진성 반도체층 위에 형성되어 있는 후면 전극을 포함하되, 여기서, 상기 제1 P-N 도핑층은 상기 제1 진성 반도체층 상에 제1 n형 반도체층과 제2 p형 반도체층이 차례로 적층되어 결합된 반도체층이며, 상기 제1 n형 반도체층과 상기 제1 p형 반도체층 중 하나 이상은 SiOx, SiNy, SiOxNy 중 어느 하나의 물질을 포함하고, 상기 x는 0.5 내지 1.5, 상기 y는 0.5 내지 1.5, 상기 x와 상기 y의 합은 0.5 내지 1.5를 만족하는 것을 특징으로 한다. 제조공정을 단순화하면서 태양전지의 효율을 향상시킬 수 있다.
Int. CL H01L 31/075 (2014.01) H01L 31/04 (2014.01)
CPC H01L 31/076(2013.01) H01L 31/076(2013.01) H01L 31/076(2013.01) H01L 31/076(2013.01)
출원번호/일자 1020110017214 (2011.02.25)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0097786 (2012.09.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 30

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이승윤 대한민국 서울특별시 서초구
2 황선태 대한민국 서울특별시 서초구
3 정진원 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박병창 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 *, 동주빌딩 *층 팍스국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2011-0139770-14
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판;상기 기판 위에 형성되어 있는 투명 전극층;상기 투명 전극층 위에 형성되어 있는 제1 p형 반도체층;상기 제1 p형 반도체층 위에 형성되는 제1 진성 반도체층;상기 제1 진성 반도체층 위에 형성되어 있는 제1 P-N 도핑층;상기 제1 P-N 도핑층 위에 형성되어 있는 제2 진성 반도체층; 상기 제2 진성 반도체층 위에 형성되어 있는 후면 전극을 포함하되,여기서, 상기 제1 P-N 도핑층은 상기 제1 진성 반도체층 상에 제1 n형 반도체층과 제2 p형 반도체층이 차례로 적층되어 결합된 반도체층이며, 상기 제1 n형 반도체층과 상기 제1 p형 반도체층 중 하나 이상은 SiOx, SiNy, SiOxNy 중 어느 하나의 물질을 포함하고, 상기 x는 0
2 2
제1항에 있어서,상기 투명 전극층과 상기 제1 p형 반도체층 사이에 제3 p형 반도체층, 제3 진성 반도체층, 제3 n형 반도체층을 더 포함하는 태양전지
3 3
제1항에 있어서,상기 제2 진성 반도체층과 상기 후면 전극 사이에 제2 n형 반도체층, 제3 p형 반도체층, 제3진성 반도체층, 제3 n형 반도체층을 더 포함하는 태양전지
4 4
제3항에 있어서,상기 제2 n형 반도체층과 상기 제3 p형 반도체층은 제2 P-N 도핑층을 형성하며, 상기 제2 n형 반도체층과 상기 제3 p형 반도체층 중 하나 이상은 SiOx, SiNx, SiOxNy 중 어느 하나의 물질을 포함하고, 상기 x는 1
5 5
제1항에 있어서, 상기 제1 P-N 도핑층은 상기 제2 P-N 도핑층에 비하여 두께가 얇은 것을 특징으로 하는 태양전지
6 6
제5항에 있어서, 상기 제1 P-N 도핑층의 두께는 30nm 이하, 상기 제2 P-N 도핑층의 두께는 30nm 이상 100nm 이하인 것을 특징으로 하는 태양전지
7 7
제1항에 있어서, 상기 제2 P-N 도핑층은 상기 제1 P-N 도핑층에 비하여 산소 함량이 더 높은 것을 특징으로 하는 태양전지
8 8
제1항에 있어서, 상기 제2 P-N 도핑층은 상기 제1 P-N 도핑층에 비하여 굴절률이 작은 것을 특징으로 하는 태양전지
9 9
제8항에 있어서, 상기 제1 P-N 도핑층의 굴절률 범위는 1
10 10
제1항에 있어서, 상기 제1 P-N 도핑층은 상기 기판과 상기 투명 전극층 및 상기 제1 진성 반도체층을 투과하여 수광된 빛을 상기 제1 진성 반도체층으로 반사시키는 것을 특징으로 하는 태양전지
11 11
제4항에 있어서, 상기 제2 P-N 도핑층은 상기 상기 기판과 상기 투명 전극층, 상기 제1 진성 반도체층, 상기 제1 P-N 도핑층 및 상기 제2 진성 반도체층을 투과하여 수광된 빛을 상기 제2 진성 반도체층으로 반사시키는 것을 특징으로 하는 태양전지
12 12
제4항에 있어서,상기 제1 진성 반도체층의 굴절률은 상기 제1 P-N 도핑층의 굴절률보다 크고, 상기 제2 진성 반도체층의 굴절률은 상기 제2 P-N 도핑층의 굴절률보다 큰 것을 특징으로 하는 태양 전지
13 13
제12항에 있어서,상기 제1 진성 반도체층의 굴절률과 상기 제1 P-N 도핑층의 굴절률의 차이는 2 이상인 것을 특징으로 하는 태양 전지
14 14
제12항에 있어서, 상기 제2 진성 반도체층의 굴절률과 상기 제2 P-N 도핑층의 굴절률의 차이는 2 이상인 것을 특징으로 하는 태양 전지
15 15
제1항에 있어서,상기 제2 진성 반도체층과 상기 후면 전극 사이에 제2 n형 반도체층 및 후면 반사층을 더 포함하는 태양전지
16 16
기판 상에 투명 전극층을 증착하는 단계;상기 투명 전극층 위에 p형으로 도핑된 제1 p형 반도체층을 형성하는 단계;상기 제1 p형 반도체층 위에 제1 진성 반도체층을 형성하는 단계;상기 제1 진성 반도체층 제1 n형 반도체층과 제2 p형 반도체층을 증착하여 제1 P-N 도핑층을 형성하는 단계;상기 제1 P-N 도핑층 위에 제2 진성 반도체층을 형성하는 단계; 상기 제2 진성 반도체층 위에 후면 전극을 형성하는 단계를 포함하되,여기서, 상기 제1 P-N 도핑층은 제1 n형 반도체층과 제2 p형 반도체층이 차례로 적층되어 결합된 반도체층이며, 상기 제1 n형 반도체층과 상기 제1 p형 반도체층 중 하나 이상은 SiOx, SiNx, SiOxNy 중 어느 하나의 물질을 포함하고, 상기 x는 0
17 17
제16항에 있어서,상기 제1 p형 반도체층을 형성하기 전에, 상기 투명 전극층 상에 제3 p형 반도체층, 제3 진성 반도체층, 제3 n형 반도체층을 형성하는 단계를 더 포함하는 태양전지 제조방법
18 18
제16항에 있어서,상기 후면 전극을 형성하기 전에, 상기 제2 진성 반도체층 상에 제2 n형 반도체층, 제3 p형 반도체층, 제3 진성 반도체층, 제3 n형 반도체층을 형성하는 단계를 더 포함하는 태양전지 제조방법
19 19
제18항에 있어서,상기 제2 n형 반도체층과 상기 제3 p형 반도체층을 차례로 적층하여 제2 P-N 도핑층을 형성하며, 상기 제2 n형 반도체층과 상기 제3 p형 반도체층 중 하나 이상은 SiOx, SiNy, SiOxNy 중 어느 하나의 물질을 포함하고, 상기 x는 1
20 20
제16항에 있어서, 상기 제1 P-N 도핑층은 상기 제2 P-N 도핑층에 비하여 얇은 두께로 형성하는 것을 특징으로 하는 태양전지 제조방법
21 21
제20항에 있어서, 상기 제1 P-N 도핑층은 30nm 이하의 두께로, 상기 제2 P-N 도핑층은 30nm 이상 100nm 이하의 두께로 형성하는 것을 특징으로 하는 태양전지 제조방법
22 22
제16항에 있어서, 상기 제2 P-N 도핑층은 상기 제1 P-N 도핑층에 비하여 산소 함량이 더 높은 것을 특징으로 하는 태양전지 제조방법
23 23
제16항에 있어서, 상기 제2 P-N 도핑층은 상기 제1 P-N 도핑층에 비하여 굴절률이 작은 것을 특징으로 하는 태양전지 제조방법
24 24
제23항에 있어서, 상기 제1 P-N 도핑층의 굴절률 범위는 1
25 25
제16항에 있어서, 상기 제1 P-N 도핑층은 상기 기판과 상기 투명 전극층 및 상기 제1 진성 반도체층을 투과하여 수광된 빛을 상기 제1 진성 반도체층으로 반사시키는 것을 특징으로 하는 태양전지 제조방법
26 26
제19항에 있어서, 상기 제2 P-N 도핑층은 상기 상기 기판과 상기 투명 전극층, 상기 제1 진성 반도체층, 상기 제1 P-N 도핑층 및 상기 제2 진성 반도체층을 투과하여 수광된 빛을 상기 제2 진성 반도체층으로 반사시키는 것을 특징으로 하는 태양전지 제조방법 제조방법
27 27
제19항에 있어서,상기 제1 진성 반도체층의 굴절률은 상기 제1 P-N 도핑층의 굴절률보다 크고, 상기 제2 진성 반도체층의 굴절률은 상기 제2 P-N 도핑층의 굴절률보다 큰 것을 특징으로 하는 태양 전지 제조방법
28 28
제27항에 있어서,상기 제1 진성 반도체층의 굴절률과 상기 제1 P-N 도핑층의 굴절률의 차이는 2 이상인 것을 특징으로 하는 태양 전지 제조방법
29 29
제27항에 있어서, 상기 제2 진성 반도체층의 굴절률과 상기 제2 P-N 도핑층의 굴절률의 차이는 2 이상인 것을 특징으로 하는 태양 전지 제조방법
30 30
제16항에 있어서,상기 후면 전극을 형성하기 전에, 상기 제2 진성 반도체층 상에 제2 n형 반도체층 및 후면 반사층을 형성하는 단계를 더 포함하는 태양전지 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.