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광디스크 표면의 잔여오차(Residual Error)를 측정하는 단계;
상기 측정에 기초하여, 상기 광디스크를 구획할 임계위치를 결정하는 단계; 및
상기 광디스크의 내주측부터 상기 임계위치까지는 제 1속도로 기록하고, 상기 임계위치부터 상기 광디스크의 외주측까지는 제 2속도로 기록하는 단계를 포함하는 광디스크 기록방법
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2
제 1항에 있어서,
상기 잔여오차는,
상기 광디스크의 반경방향 잔여오차(Radial Residual Error)와 상기 광디스크의 축방향 잔여오차(Axial Residual Error) 중 적어도 어느 하나인 광디스크 기록방법
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제 2항에 있어서,
상기 임계위치는,
상기 반경방향 잔여오차가 20 나노미터(nm) 이고, 상기 축방향 잔여오차가 80 나노미터(nm)인 지점에서 결정되는 광디스크 기록방법
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4
제 1항에 있어서,
상기 잔여오차를 측정하는 단계는,
상기 광디스크의 내주에서 외주방향 또는 외주에서 내주방향 중 어느 하나의 방향으로 수행되는 광디스크 기록방법
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5
제 1항에 있어서,
상기 잔여오차를 측정하는 단계는,
상기 임계위치를 확인할 때까지 이루어지는 광디스크 기록방법
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6
제 1항에 있어서,
상기 제 1속도는,
상기 제 2속도와 같거나 낮은 속도인 광디스크 기록방법
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7
제 1항에 있어서,
상기 제 2속도는,
상기 광디스크에서 독취된 기록가능속도정보에 의하여 결정되는 광디스크 기록방법
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8
제 1항에 있어서,
상기 제 1속도는 4배속이며,
상기 제 2속도는 6배속인 광디스크 기록방법
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9
제 1항에 있어서,
상기 광디스크는,
블루레이 디스크(Blu Ray Disc)인 광디스크 기록방법
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10
광디스크 표면의 잔여오차를 상기 광디스크의 내주에서 외주방향으로 측정하여 임계위치를 결정하는 단계;
상기 광디스크의 내주에서부터 상기 임계위치까지는 제 1속도로 기록하는단계; 및
상기 임계위치부터 상기 외주까지는 제 2속도로 기록하는 단계를 포함하며,
상기 제 2속도는 상기 제 1속도와 같거나 상기 제 1속도보다 빠른 광디스크 기록방법
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11
제 10항에 있어서,
상기 잔여오차는,
상기 광디스크의 반경방향 잔여오차와 상기 광디스크의 축방향 잔여오차 중 적어도 어느 하나인 광디스크 기록방법
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제 11항에 있어서,
상기 임계위치는,
상기 반경방향 잔여오차가 20 나노미터(nm)이고, 상기 축방향 잔여오차가 80 나노미터(nm)인 지점에서 결정되는 광디스크 기록방법
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13
제 10항에 있어서,
상기 제 1속도는 4배속이며,
상기 제 2속도는 6배속인 광디스크 기록방법
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14
광픽업장치와, 상기 광픽업장치의 작동을 제어하는 콘트롤러를 포함하며,
상기 콘트롤러는,
광디스크 표면의 잔여오차를 측정하고,
상기 측정에 기초하여, 상기 광디스크를 구획할 임계위치를 결정하며,
결정된 상기 임계위치를 기준으로 하여, 상기 광디스크의 내주측부터 상기 임계위치까지는 제 1속도로 기록하고, 상기 임계위치부터 상기 광디스크의 외주측까지는 상기 제 1속도와 같거나 빠른 제 2속도로 기록하는 광디스크 드라이브
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15
제 14항에 있어서,
상기 잔여오차는,
상기 광디스크의 반경방향 잔여오차와 상기 광디스크의 축방향 잔여오차 중 적어도 어느 하나인 광디스크 드라이브
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16
제 15항에 있어서,
상기 콘트롤러는,
상기 반경방향 잔여오차가 20 나노미터(nm)이고, 상기 축방향 잔여오차가 80 나노미터(nm)인 지점을 상기 임계위치로 설정하는 광디스크 드라이브
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17
제 14항에 있어서,
상기 제 1속도는 4배속이며,
상기 제 2속도는 6배속인 광디스크 드라이브
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