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피검사체인 영상기기의 패널을 테스트하기 위한 장치로서, 상기 패널을 구성하는 복수의 회로 기판 중 테스트 대상이 되는 하나의 회로 기판인 테스트 회로 기판에 대해서 테스트 환경을 가하는 테스트 커버를 포함하고, 상기 테스트 커버는 상기 테스트 대상 회로 기판을 구성하는 하나 이상의 전기 소자의 온도, 전류, 전압 중 하나 이상을 측정하기 위한 하나 이상의 센서를 포함하고,상기 테스트 대상 회로 기판을 덮을 수 있는 형상으로 이루어지는 영상기기의 패널 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 테스트 커버는 상기 테스트 대상 회로 기판의 주변부를 덮을 수 있도록 형성되는 메인 커버와, 상기 메인 커버 내측으로 소정의 열기를 가하기 위한 히팅장치 또는 소정의 냉기를 가하기 위한 쿨링장치를 포함하는 영상기기의 패널 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 테스트 커버는 상기 테스트 대상 회로 기판에 대하여 밀폐된 공간을 제공하는 메인 커버와, 상기 메인 커버 주변부를 덮는 서브 커버와, 상기 서브 커버의 상측에 위치하여 상기 메인 커버와 서브 커버를 보호하기 위한 보호 덮개를 포함하는 영상기기의 패널 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 테스트 커버는상기 테스트 커버의 외주면 일측에 투명 재질로 이루어진 모니터 윈도우를 구비하는 영상기기의 패널 테스트 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 테스트 커버에 연결되어, 상기 테스트 대상 회로 기판을 구성하는 하나 이상의 전기 소자의 전류, 전압 중 하나 이상을 측정하는 프로브를 더 포함하는영상기기의 패널 테스트 장치
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패널을 구성하는 복수의 회로 기판 중 테스트 대상이 되는 하나의 회로 기판인 테스트 대상 회로 기판에 대하여 테스트 환경을 가하고, 상기 테스트 대상 회로 기판을 구성하는 하나 이상의 전기 소자의 온도, 전류, 전압 중 하나 이상을 측정하는 센서를 포함하는 테스트 커버;상기 테스트 커버 내측에 소정의 열기를 가하는 히팅장치 또는 냉기가 가하는 쿨링장치를 제어하기 위한 컨트롤러;상기 센서에 연결되어, 상기 테스트 대상 회로 기판의 전기적인 동작을 측정하는 측정장치; 및상기 컨트롤러 및 측정장치와 네트워크 연결되어, 상기 테스트 대상 회로 기판의 전기적인 동작을 모니터링하기 위한 메인 컴퓨터를 포함하는 영상기기의 패널 테스트 시스템
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제 7 항에 있어서, 상기 테스트 커버가 복수로 구비되고,상기 복수의 테스트 커버 각각은 복수의 패널에 포함된 복수의 테스트 대상 회로 기판 각각에 대해 테스트 환경을 가하는영상기기의 패널 테스트 시스템
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제 8 항에 있어서, 상기 측정장치는상기 복수의 테스트 커버 각각에 포함된 센서에 연결되고,상기 메인 컴퓨터는상기 측정장치를 이용하여, 상기 복수의 패널에 포함된 복수의 테스트 대상 회로 기판 각각에 모니터링을 수행하는영상기기의 패널 테스트 시스템
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