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스캐닝 마이크로미러

  • 기술번호 : KST2015054669
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요약 본 발명은 광원으로부터 출사된 빔을 1차원 또는 2차원의 영역에 주사(scan)하여 화상을 결상하거나 데이터를 읽어들이는 스캐닝 마이크로미러에 관한 것으로서, 본 발명에 의한 스캐닝 마이크로미러는 개방영역이 형성된 기판; 제1탄성체를 통하여 상기 개방영역 상에서 상기 기판과 결합되고, 상기 제1탄성체를 회전축으로 하여 구동되는 링형 김블; 제2탄성체를 통하여 상기 김블 안쪽에서 결합되는 링형 강화틀; 제3탄성체를 통하여 상기 강화틀 안쪽에서 결합되고, 상기 제2탄성체 및 제3탄성체를 회전축으로 하여 상기 강화틀과 함께 구동되는 미러판; 상기 김블, 상기 강화틀 및 상기 미러판 상에 결합되고 전자계를 형성하여 구동력을 발생시키는 코일; 및 상기 기판의 저면측으로 결합되고, 상기 코일과 함께 전자계를 형성하는 자석을 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 반도체 일관 공정 및 마이크로머시닝 기술을 적용하여 보다 경량화되고 소형화된 스캐닝 마이크로미러를 구현할 수 있으며, 따라서 마이크로미러가 집적된 광스캐닝 소자를 제작할 수 있다. 또한, 조사 속도가 보다 빨라지고 조사각의 범위가 넓어짐으로써 광학적 성능이 향상되고, 구조적 개선을 통하여 고속 동작에 따른 물리적 변형을 방지할 수 있는 효과가 있다.
Int. CL G02B 26/08 (2006.01) G02B 26/10 (2006.01)
CPC G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01)
출원번호/일자 1020080090913 (2008.09.17)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-0941798-0000 (2010.02.03)
공개번호/일자 10-2008-0096731 (2008.11.03) 문서열기
공고번호/일자 (20100210) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자 10-2006-0055679 (2006.06.21)
관련 출원번호 1020060055679
심사청구여부/일자 Y (2008.11.03)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 지창현 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 허용록 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층 (역삼동, 현죽빌딩)(선영특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2008.09.17 수리 (Accepted) 1-1-2008-0653127-17
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.11.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0760748-26
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2008.11.03 수리 (Accepted) 1-1-2008-0760794-16
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.02.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0051205-08
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.02.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0115539-74
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2009-0115540-10
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2009.08.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0363371-42
9 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2009.09.24 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2009-0048598-92
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
11 등록결정서
Decision to grant
2009.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0489048-20
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
개방영역이 형성된 기판; 제 3 탄성체를 통해 상기 기판에 지지되고, 상기 제 3 탄성체를 회전축으로 하여 구동하는 김블; 제 2 탄성체를 통해 상기 김블의 내측에 지지되는 강화틀; 상기 제 2 탄성체와 일직선 상에 위치하는 제 1 탄성체를 통해 상기 강화틀의 내측에 지지되고, 상기 제 1 탄성체 및 상기 제 2 탄성체를 회전축으로 하여 상기 강화틀과 함께 구동하는 미러판; 상기 김블, 상기 강화틀 및 상기 미러판 상에 위치하여 구동전류가 흐르는 코일; 및 상기 기판의 저면에 위치하여, 상기 구동전류와 상호작용하여 구동력을 생성하는 자석을 포함하며, 상기 제 1 탄성체 및 제 2 탄성체가 구성하는 회전축은 상기 제 3 탄성체가 구성하는 회전축과 직교하고, 상기 미러판은 빔을 반사하는 미러가 다수의 연결살에 의해 프레임과 결합하도록 구성되고, 상기 제 1 탄성체, 제 2 탄성체 및 제 3 탄성체 중 적어도 하나는 "V"자 형상의 이중 토션바로 구성되어 일단은 두 개의 지지점을 구비하고 타단은 하나의 지지점을 구비하도록 구성되는 스캐닝 마이크로미러
2 2
제 1항에 있어서, 상기 자석은 링형 자석; 및 상기 링형 자석의 내측에 소정 간격 이격되어 위치하는 원통형 자석; 을 포함하는 스캐닝 마이크로미러
3 3
제 1항에 있어서, 상기 코일에 저대역의 제 1 주파수 신호를 인가하면 소정의 회전축을 중심으로 강제 구동하고, 상기 코일에 고대역의 제 2 주파수 신호를 인가하면 상기 소정의 회전축과 수직인 회전축을 중심으로 공진 구동하는 스캐닝 마이크로미러
4 4
제 1항에 있어서, 상기 강화틀은 상기 미러판의 회전 방향 및 회전 각도와 동일한 방향 및 동일한 각도로 구동하는 스캐닝 마이크로미러
5 5
제 1항에 있어서, 상기 코일은 단선 및 단층 구조로서, 일측 제 3 탄성체로부터 일측 제 2 탄성체까지 김블 경로를 구성하고, 상기 강화틀의 일측 반원 경로를 구성한 뒤 타측 제 2 탄성체로부터 상기 일측 제2탄성체까지 상기 미러판을 관통하며, 상기 일측 제 2 탄성체로부터 타측 제 3 탄성체까지의 김블 경로를 구성하는 제 1 코일부; 및 상기 일측 제 3 탄성체로부터 타측 제 2 탄성체까지 김블 경로를 구성하고, 상기 타측 제 2 탄성체로부터 상기 일측 제 2 탄성체까지 상기 미러판을 관통하며, 상기 강화틀의 타측 반원 경로를 구성한 뒤 상기 타측 제 2 탄성체로부터 상기 타측 제 3 탄성체까지의 김블 경로를 구성하는 제 2 코일부; 를 포함하는 스캐닝 마이크로미러
6 6
제 1항에 있어서, 상기 코일은 복선 및 다층 구조로서, 일측 제 3 탄성체의 입력 라인으로부터 분기되어 상기 김블 상에서 원형 경로를 구성하고 타측 제 3 탄성체로 출력 라인을 형성하는 제 1 코일부; 및 상기 제 1 코일부와 절연되고, 상기 일측 제 3 탄성체로부터 일측 제 2 탄성체를 거쳐 상기 강화틀로 진입되며, 상기 강화틀 상에서 원형 경로를 구성한 뒤 타측 제 2 탄성체를 거쳐 상기 타측 제 3 탄성체로 출력 라인을 형성하는 제 2 코일부; 를 포함하는 스캐닝 마이크로미러
7 7
제 1항에 있어서, 상기 코일은 복선 및 단층 구조로서, 일측 제 3 탄성체로부터 타측 제 3 탄성체까지 상기 김블 상에서 각각 반원형 경로를 구성하는 제 1 코일부; 및 상기 일측 제 3 탄성체로부터 일측 제 2 탄성체를 거쳐 상기 강화틀로 진입하며, 상기 강화틀 상에서 원형 경로를 구성한 뒤 타측 제 2 탄성체를 거쳐 상기 타측 제 3 탄성체로 출력 라인을 형성하는 제 2 코일부; 를 포함하는 스캐닝 마이크로미러
8 8
삭제
9 9
제 1항에 있어서, 상기 지지점이 두 개인 일단은 상기 지지점이 하나인 타단보다 상기 스캐닝 마이크로미러의 내측에 위치하도록 구성되는 스캐닝 마이크로미러
10 10
삭제
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1 KR1020070121082 KR 대한민국 FAMILY

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