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X-레이 이미지 검출용 디텍터

  • 기술번호 : KST2015055113
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요약 본 발명은 X-레이 이미지 검출용 디텍터에 관한 것으로서, 본 발명의 구성은 내부에 가스가 충진되는 밀폐공간을 갖는 디텍터 몸체와 상기 디텍터 몸체에 형성되는 전극과 상기 디텍터 몸체의 내부에 형성되어 픽셀을 구현하는 적어도 1 이상의 차단격벽, 그리고 상기 차단격벽으로 구획되어 픽셀을 형성하는 다수의 리드아웃 전극을 구비하며, 상기 리드아웃 전극의 하부에 형성되는 광도전체층을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.본 발명에 따르면, 기존의 박막트랜지스터를 이용한 엑스레이 검출기의 구조에서 벗어나, 각 픽셀에 전계가 인가되는 전극층과 정보를 읽기 위한 한 개의 리드아웃 전극을 형성하고, 그 하부에 광도전체층을 각각 형성함으로써, 검출신호량을 극대화시켜, 검출기 내부에 형성되는 전자를 효율적으로 읽을 수 있으며, 신호노이즈를 감소하여 고감도의 이미지를 구현할 수 있도록 한다. X-레이, 리드아웃 전극, 차단격벽, 유전체, 광도전체(Photoconductor)
Int. CL H01L 31/115 (2006.01)
CPC H01L 31/115(2013.01) H01L 31/115(2013.01) H01L 31/115(2013.01)
출원번호/일자 1020080103591 (2008.10.22)
출원인 엘지이노텍 주식회사
등록번호/일자 10-1475043-0000 (2014.12.15)
공개번호/일자 10-2010-0044451 (2010.04.30) 문서열기
공고번호/일자 (20141223) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.10.07)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지이노텍 주식회사 대한민국 서울특별시 강서구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 허성철 대한민국 서울특별시 서초구
2 송광섭 대한민국 경기도 안산시 상록구
3 신종배 대한민국 대구광역시 서구
4 김경진 대한민국 경기도 안산시 상록구
5 김만중 대한민국 경기도 수원시 영통구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김인한 대한민국 서울특별시 서초구 사임당로 **, **층 (서초동, 신영빌딩)(특허법인세원)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지이노텍 주식회사 서울특별시 중구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.10.22 수리 (Accepted) 1-1-2008-0733081-59
2 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2009.11.13 수리 (Accepted) 1-1-2009-0698962-36
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.02.24 수리 (Accepted) 4-1-2010-5032116-06
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2013.10.07 수리 (Accepted) 1-1-2013-0903488-88
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.04.30 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.06.11 수리 (Accepted) 9-1-2014-0046440-72
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.08.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0600142-15
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.10.27 수리 (Accepted) 4-1-2014-0093826-77
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.10.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-1045367-38
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2014-1045368-84
11 등록결정서
Decision to grant
2014.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0816054-49
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.03.08 수리 (Accepted) 4-1-2017-5035901-08
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.18 수리 (Accepted) 4-1-2018-5136723-03
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.01.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5011221-01
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
내부에 가스가 충진되는 밀폐공간을 갖는 디텍터 몸체와 상기 디텍터 몸체에 형성되는 전극;상기 디텍터 몸체의 내부에 형성되어 픽셀을 구현하는 적어도 1 이상의 차단격벽;상기 차단격벽으로 구획되어 픽셀을 형성하는 다수의 리드아웃 전극; 및상기 리드아웃 전극의 하부에 형성되는 광도전체층;을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
2 2
청구항 1에 있어서,상기 광도전체층은 MgO, HgI2, CdS, CdTe, a-Se 중 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
3 3
청구항 1에 있어서,상기 디텍터 몸체는 상부기판과 하부기판을 포함하며, 상기 전극은 상부기판에 형성되는 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
4 4
청구항 1에 있어서,상기 디텍터 몸체는 상부기판과 하부기판을 포함하며, 상기 전극은 상부기판에 형성되는 제1전극과 하부기판상에 형성되는 제2전극으로 형성되는 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
5 5
청구항 4에 있어서,상기 제2전극의 상부에는 유전체층을 더 형성하는 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
6 6
청구항 3 또는 4에 있어서,상기 차단격벽은 상기 리드아웃 전극보다 높게 형성되며, 적어도 일부가 상부기판과 맞닿지 않는 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
7 7
청구항 6에 있어서,상기 차단격벽은 세라믹, 플라스틱, 고분자막 중 선택된 어느 하나의 재료에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
8 8
청구항 4 또는 5에 있어서,상기 제1전극 및 제2전극에 인가된 전압에 의해 형성되는 전자 및 정공에 의한 신호량을 리드아웃 전극으로부터 읽어들이는 회로부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
9 9
청구항 3 또는 4에 있어서,상기 전극 또는 리드아웃 전극은 실버(sliver) 전극인 것을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
10 10
청구항 1에 있어서,상기 충진되는 가스는 순수 페닝가스로서 Xe, Kr, Ar, Ne, He 중 선택된 어느 하나 또는 이들 중 선택되는 2 이상의 가스를 혼합한 것임을 특징으로 하는 X-레이 이미지 검출용 디텍터
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.