맞춤기술찾기

이전대상기술

웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 시스템과 방법 및 기록매체

  • 기술번호 : KST2015056331
  • 담당센터 :
  • 전화번호 :
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 시스템은 하나 이상의 웨이퍼로 구성되는 웨이퍼군에 대한 초기 세정 공정이 완료되면 상기 웨이퍼군의 상기 초기 세정 공정이 완료된 시간정보가 입력되는 입력부: 상기 완료시간 정보와 현재 시간 정보를 이용하여 상기 웨이퍼군의 리드타임(lead time)을 연산하는 연산부; 및 상기 웨이퍼군에 대한 상기 연산된 리드타임을 출력하는 출력부를 포함하여 구성된다. 상기 본 발명에 의하면, 외부 노출에 의한 오염 또는 입자의 고착화 등이 유발될 수 있는 웨이퍼 제작 공정 구간에 대한 리드 타임을 효과적으로 생성, 관리함으로써 웨이퍼에 발생되는 불량률을 낮추고 공정별 선입 선출 관리를 더욱 효과적으로 수행할 수 있다. 이와 함께 상기 리드 타임의 정도 따라 웨이퍼의 최종 세정 공정이 차등적으로 진행되도록 제어함으로써 더욱 향상된 품질의 웨이퍼 제작이 가능함은 물론, 더욱 실효성 높은 웨이퍼 제작 공정을 실현할 수 있다.
Int. CL H01L 21/02 (2006.01)
CPC H01L 21/67276(2013.01) H01L 21/67276(2013.01)
출원번호/일자 1020090007941 (2009.02.02)
출원인 주식회사 엘지실트론
등록번호/일자 10-1057238-0000 (2011.08.09)
공개번호/일자 10-2010-0088825 (2010.08.11) 문서열기
공고번호/일자 (20110816) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.02.02)
심사청구항수 11

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 에스케이실트론 주식회사 대한민국 경상북도 구미시

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 조하영 대한민국 경상북도 구미시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인필앤온지 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **, *층(서초동, 준영빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 에스케이실트론 주식회사 대한민국 경상북도 구미시
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.02.02 수리 (Accepted) 1-1-2009-0063335-14
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.11.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0514007-60
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2010-0862692-86
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.12.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0862693-21
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2011-5005193-13
6 등록결정서
Decision to grant
2011.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0405314-83
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2015-5070977-42
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.29 수리 (Accepted) 4-1-2015-5071326-18
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.08.31 수리 (Accepted) 4-1-2017-5140469-15
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.02.21 수리 (Accepted) 4-1-2018-5031039-07
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
하나 이상의 웨이퍼로 구성되는 웨이퍼군에 대한 초기 세정 공정이 완료되면 상기 웨이퍼군의 상기 초기 세정 공정이 완료된 시간정보가 입력되는 입력부: 상기 완료시간 정보와 현재 시간 정보를 이용하여 상기 웨이퍼군의 리드타임(lead time)을 연산하여, 상기 웨이퍼군에 대한 최종 세정 공정이 진행되기 전까지의 리드 타임을 생성하는 연산부; 상기 웨이퍼군에 대한 상기 연산된 리드타임을 출력하는 출력부; 및 상기 최종 세정 공정 진행 전까지의 대상 웨이퍼군의 리드타임에 따라 상기 대상 웨이퍼 군의 상기 최종 세정 공정이 차등적으로 진행되도록 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 시스템
2 2
제 1항에 있어서, 상기 웨이퍼군의 리드타임이 기준 경과시간을 초과하는 경우 이에 대한 메시지를 출력하는 알람부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 시스템
3 3
제 1항에 있어서, 상기 출력부는, 상기 초기 세정 공정이 완료된 후 진행되는 후속 단위 공정의 대상이 되는 웨이퍼군 정보가 입력되면, 상기 후속 단위 공정에 해당하는 상기 웨이퍼군의 리드타임을 선별하여 출력하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 시스템
4 4
제 3항에 있어서, 상기 후속 단위 공정은, 웨이퍼 평탄도 검사 공정, 웨이퍼 표면 마킹 공정 또는 비쥬얼 검사 공정 중 하나 이상의 공정인 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 시스템
5 5
제 3항에 있어서, 상기 출력부는, 상기 웨이퍼군의 후속 단위 공정의 진행 정도에 대한 상태 정보를 더 출력하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 시스템
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
하나 이상의 웨이퍼로 구성되는 웨이퍼군에 대한 초기 세정 공정이 완료되면 상기 웨이퍼군의 상기 초기 세정 공정이 완료된 시간정보를 입력받는 입력단계; 상기 완료시간 정보와 현재 시간 정보를 이용하여 상기 웨이퍼군의 리드타임(lead time)을 연산하여 상기 웨이퍼군에 대한 최종 세정 공정이 진행되기 전까지의 리드 타임을 생성하는 연산단계; 상기 웨이퍼군에 대한 상기 연산된 리드타임을 출력하는 출력단계; 및 상기 최종 세정 공정 진행 전까지의 대상 웨이퍼군의 리드타임에 따라 상기 대상 웨이퍼군의 상기 최종 세정 공정이 차등적으로 진행되도록 제어하는 제어단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 방법
9 9
제 8항에 있어서, 상기 웨이퍼군의 리드타임이 기준 경과시간을 초과하는 경우 이에 대한 메시지를 출력하는 알람단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 방법
10 10
제 8항에 있어서, 상기 출력단계는, 상기 초기 세정 공정이 완료된 후 진행되는 후속 단위 공정의 대상이 되는 웨이퍼군 정보가 입력되면, 상기 후속 단위 공정에 해당하는 상기 웨이퍼군의 리드타임을 선별하여 출력하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 방법
11 11
제 10항에 있어서, 상기 후속 단위 공정은, 웨이퍼 평탄도 검사 공정, 웨이퍼 표면 마킹 공정 또는 비쥬얼 검사 공정 중 하나 이상의 공정인 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 방법
12 12
제 10항에 있어서, 상기 출력단계는, 상기 웨이퍼군의 후속 단위 공정의 진행 정도에 대한 상태 정보를 더 출력하는 것을 특징으로 하는 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 방법
13 13
삭제
14 14
삭제
15 15
제 8항 내지 제12항 중 어느 한 항에 따른 웨이퍼의 공정 리드 타임 관리 방법을 컴퓨터에게 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.