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디스크 표면의 내오염성 평가 방법

  • 기술번호 : KST2015056634
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요약 본 발명은 디스크 표면의 안정도 특성을 향상시키기 위한 보호층(protective layer)의 특성을 정량화할 수 있도록 한 광디스크 표면의 내오염성 평가 방법에 관한 것으로, 인공지문 물질이 점착된 스탬프를 디스크에 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하여 그 결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는데 있다. 디스크, 내오염성, 스탬프, 인공 지문, SER
Int. CL G11B 7/26 (2006.01) G11B 20/18 (2006.01)
CPC G11B 7/268(2013.01) G11B 7/268(2013.01) G11B 7/268(2013.01) G11B 7/268(2013.01) G11B 7/268(2013.01)
출원번호/일자 1020090015651 (2009.02.25)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-0964704-0000 (2010.06.10)
공개번호/일자 10-2009-0027235 (2009.03.16) 문서열기
공고번호/일자 (20100621) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자 10-2003-0080601 (2003.11.14)
관련 출원번호 1020030080601
심사청구여부/일자 Y (2009.02.25)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이승윤 대한민국 서울특별시 서초구
2 서훈 대한민국 서울특별시 서초구
3 김진홍 대한민국 서울특별시 서초구
4 김진용 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)
2 박영복 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층(역삼동, 삼화빌딩)(특허법인 두성)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2009.02.25 수리 (Accepted) 1-1-2009-0116252-44
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2009-5080835-50
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.06.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.07.14 수리 (Accepted) 9-1-2009-0042119-75
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.03 수리 (Accepted) 4-1-2009-0023850-26
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0084990-96
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.03.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0149575-62
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.03.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0149577-53
9 등록결정서
Decision to grant
2010.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0234734-44
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
스탬프, 측정부 그리고 제어부를 포함하는 내오염성 검사 장치를 이용한 디스크 표면의 내오염성 평가 방법에 있어서, 인공지문 물질이 점착된 상기 스탬프를 디스크에 접촉하여 기설정된 압력으로 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 측정부를 이용하여 상기 점착된 인공지문이 형성된 영역에서 오류율을 측정하는 단계와; 상기 제어부를 이용하여 상기 측정된 오류율로부터 상기 인공지문에 대한 민감도를 결정하되, 상기 오류율은 LDC (Long Distance Code)에 있는 데이터 블록중 오류가 있는 데이터 블록의 비율인 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 인공지문에 대한 민감도를 결정하는 단계는 상기 측정된 오류율이 4
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 스탬프와 상기 디스크와의 접촉은 500g의 하중으로 접촉되는 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 스탬프를 인공지문 물질이 점착된 패드에 일정한 압력을 가하여, 상기 스탬프에 인공지문 물질을 점착시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 스탬프의 직경은 약 10mm인 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 방법
6 6
인공지문 물질을 점착시켜 디스크의 표면에 인공지문을 형성하기 위한 스탬프와; 상기 인공지문이 형성된 영역에서 오류율을 측정하기 위한 측정부와; 상기 측정 장치를 제어하고 상기 측정된 오류율을 기준값과 비교하여 상기 디스크의 불량 여부를 판단할 수 있는 제어부를 포함하되, 상기 오류율은 LDC (Long Distance Code)에 있는 데이터 블록중 오류가 있는 데이터 블록의 비율인 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 장치
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 제어부가 상기 디스크의 내오염성에 대한 불량 여부를 판단함에 있어서, 상기 측정된 오류율이 4
8 8
제 6 항에 있어서, 상기 스탬프와 상기 디스크와의 접촉은 500g의 하중으로 접촉되는 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 장치
9 9
제 6 항에 있어서, 상기 스탬프의 직경은 약 10mm인 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 장치
10 10
스탬프, 측정부 그리고 제어부를 포함한 내오염성 검사 장치를 이용하여 내오염성이 판단되는 기록매체에 있어서, 인공지문 물질이 점착된 상기 스탬프를 디스크에 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 측정부를 이용하여 상기 점착된 인공지문의 오류율을 측정하되, 상기 오류율은 LDC (Long Distance Code)에 있는 데이터 블록중 오류가 있는 데이터 블록의 비율인 단계와, 상기 제어부를 이용하여 상기 측정된 오류율과 기준값을 비교하여 그 비교결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하는 방법을 이용하여 상기 디스크가 내오염성에 대해서 양/불량인지를 판단될 수 있는 것을 특징으로 하는 기록매체
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 인공지문에 대한 민감도를 결정함에 있어서, 상기 측정된 오류율이 4
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN101297364 CN 중국 FAMILY
2 EP01692548 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 EP01692548 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
4 JP19535081 JP 일본 FAMILY
5 JP21205795 JP 일본 FAMILY
6 KR100964686 KR 대한민국 FAMILY
7 US07536275 US 미국 FAMILY
8 US07571077 US 미국 FAMILY
9 US20050106354 US 미국 FAMILY
10 US20070109531 US 미국 FAMILY
11 WO2005047936 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
12 WO2005047936 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 AU2004290262 AU 오스트레일리아 DOCDBFAMILY
2 CA2542868 CA 캐나다 DOCDBFAMILY
3 CA2542868 CA 캐나다 DOCDBFAMILY
4 CN101297364 CN 중국 DOCDBFAMILY
5 CN101297364 CN 중국 DOCDBFAMILY
6 JP2007535081 JP 일본 DOCDBFAMILY
7 JP2009205795 JP 일본 DOCDBFAMILY
8 US2005106354 US 미국 DOCDBFAMILY
9 US2007109531 US 미국 DOCDBFAMILY
10 US7536275 US 미국 DOCDBFAMILY
11 US7571077 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.