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광 측정장치

  • 기술번호 : KST2015058973
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  • 전화번호 :
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요약 본 발명은 광 측정장치에 관한 것이다. 실시예에 따른 광 측정장치는 광 측정소자가 설치된 광 측정부; 상기 광 측정부의 개구부에 대향하여 배치되는 테스트 척; 상기 광 측정부와 상기 테스트 척 사이에 프로브 카드; 및 상기 테스트 척과 상기 프로브 카드 사이에 제1 반사부재와, 상기 광 측정부와 상기 프로브 카드 사이에 제2 반사부재를 포함하는 반사부재를 포함한다. 광 측정장치
Int. CL G01J 1/02 (2006.01)
CPC G01J 1/0238(2013.01) G01J 1/0238(2013.01) G01J 1/0238(2013.01) G01J 1/0238(2013.01)
출원번호/일자 1020090099925 (2009.10.20)
출원인 엘지이노텍 주식회사
등록번호/일자 10-1103890-0000 (2012.01.02)
공개번호/일자 10-2011-0043014 (2011.04.27) 문서열기
공고번호/일자 (20120112) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.10.20)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지이노텍 주식회사 대한민국 서울특별시 강서구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한재천 대한민국 광주 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서교준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길**, **층 (역삼동, 케이앤아이타워)(특허사무소소담)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지이노텍 주식회사 대한민국 서울특별시 강서구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.10.20 수리 (Accepted) 1-1-2009-0642618-00
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.02.24 수리 (Accepted) 4-1-2010-5032116-06
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.03.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0151358-45
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.04.27 수리 (Accepted) 1-1-2011-0314432-14
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.04.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0314434-05
6 등록결정서
Decision to grant
2011.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0707641-03
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.10.27 수리 (Accepted) 4-1-2014-0093826-77
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.03.08 수리 (Accepted) 4-1-2017-5035901-08
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.18 수리 (Accepted) 4-1-2018-5136723-03
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.01.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5011221-01
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광 측정소자가 설치된 광 측정부; 상기 광 측정부의 개구부에 대향하여 배치되는 테스트 척; 상기 광 측정부와 상기 테스트 척 사이에 프로브 카드; 및 상기 테스트 척과 상기 프로브 카드 사이에 배치되며 제1 개구가 형성된 제1 반사부재와, 상기 광 측정부와 상기 프로브 카드 사이에 배치되며 제2 개구가 형성된 제2 반사부재를 포함하는 반사부재를 포함하고, 상기 제1 개구 및 상기 제2 개구는 상기 테스트 척과 상기 광 측정부 사이에 광 경로를 형성하는 광 측정장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 광 측정소자는 포토 디텍터 및 분광기 중 적어도 어느 하나를 포함하는 광 측정장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 광 측정부는 경통 형태 또는 적분구 형태로 형성된 광 측정장치
4 4
제 1항에 있어서, 상기 프로브 카드는 회로기판과, 상기 회로기판에 설치된 프로빙 니들이 형성된 브레이드를 포함하는 광 측정장치
5 5
제 1항에 있어서, 상기 제1 반사부재 및 제2 반사부재는 상기 프로브 카드와 결합된 광 측정장치
6 6
제 4항에 있어서, 상기 제1 반사부재에는 돌출부가 형성되고, 상기 돌출부는 상기 회로기판에 형성된 개구에 삽입되는 광 측정장치
7 7
제 4항에 있어서, 상기 제2 반사부재에는 브레이드 홈이 형성되고, 상기 브레이드는 상기 브레이드 홈에 배치되는 광 측정장치
8 8
제 1항에 있어서, 상기 제1 반사부재와 상기 제2 반사부재는 서로 접촉하는 광 측정장치
9 9
제 1항에 있어서, 상기 제1 반사부재 또는 제2 반사부재는 금속 재질, 고반사도를 갖는 플라스틱 또는 레진으로 형성된 광 측정장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.