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반도체 메모리장치 및 그 제어방법

  • 기술번호 : KST2015060641
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 반도체 메모리장치는 데이터를 기록하기 전의 블럭과 데이터를 기록할 때의 블럭 상태를 별도로 관리함으로써, 전원 오류, 또는 시스템 오류에 의해 데이터를 기록중인 블럭에 오류가 발생 시, 데이터를 기록하기 전의 블럭을 대상으로 복구를 수행토록 함으로써, 오류 복구에 소요되는 시간을 크게 단축시킬 수 있다.
Int. CL G06F 12/08 (2006.01) G06F 11/08 (2006.01) G06F 12/16 (2006.01) G06F 12/06 (2006.01)
CPC G06F 3/0619(2013.01) G06F 3/0619(2013.01) G06F 3/0619(2013.01)
출원번호/일자 1020100016311 (2010.02.23)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0096829 (2011.08.31) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.09.19)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종명 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박병창 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 *, 동주빌딩 *층 팍스국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0118654-55
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.09.19 수리 (Accepted) 1-1-2014-0890695-62
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.03.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.05.11 수리 (Accepted) 9-1-2015-0029927-96
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.06.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0422218-90
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2015.10.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0725191-18
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 블럭으로 구획되며 데이터 기록이 가능한 블럭은 기록 블럭으로 설정되고, 데이터가 기록된 유효 블럭에는 호스트의 논리 어드레스가 마련되는 메모리 모듈; 및상기 기록 블럭들 중 적어도 하나는 데이터 기록을 수행하는 액티브 블럭으로 활성화하며, 상기 데이터 기록 중 전원 오류가 발생 시, 상기 기록 블럭 중 데이터가 존재하는 기록 블럭을 조회하여 매핑 테이블을 갱신하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치
2 2
제1항에 있어서,상기 액티브 블럭은,상기 기록 블럭들 중 상기 데이터 기록에 소요되는 개수의 기록 블럭이 선택되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치
3 3
제2항에 있어서,상기 액티브 블럭은,상기 기록 블럭들 중 마모도 값의 크기를 참조하여 선택되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치
4 4
제1항에 있어서,상기 제어부는,상기 메모리 모듈에 형성되는 복수의 블럭을,데이터가 기록된 상태의 유효 블럭, 삭제 대상의 무효 블럭, 데이터가 삭제된 삭제 블럭, 삭제 블럭 중 데이터 기록이 가능한 기록 블럭, 및 데이터 기록을 위해 활성화된 액티브 블럭 중 어느 하나로 설정하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치
5 5
제1항에 있어서,상기 기록 블럭은,상기 삭제 블럭들의 마모도를 참조하여 선택되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치
6 6
제1항에 있어서,상기 제어부는,상기 전원 오류가 발생 시, 상기 메모리 모듈을 구성하는 블럭들 중 상기 기록 블럭들을 조회하여 데이터의 존재 여부를 판단하며, 판단결과, 데이터가 존재할 때, 상기 데이터에 대한 호스트 논리 주소를 매핑 테이블 측 논리주소와 비교하여 상기 매핑 테이블의 메타 정보(meta data)를 갱신하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치
7 7
제1항에 있어서,상기 제어부는,상기 기록 블럭의 개수가 미리 정해진 개수를 초과할 때, 상기 기록 블럭을 상기 매핑 테이블에 등록하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치
8 8
메모리 모듈을 구성하는 복수의 블럭들 중 데이터 기록이 가능한 블럭을 기록 블럭으로 설정하는 단계;호스트의 데이터 기록을 위해 상기 기록 블럭들 중 적어도 하나를 액티브 블럭으로 활성화하는 단계;상기 데이터 기록 중 전원 오류 발생 시, 상기 기록 블럭들 중 데이터가 존재하는 블럭을 조회하여 매핑 테이블을 갱신하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 데이터 제어방법
9 9
제8항에 있어서,상기 기록 블럭의 개수가 미리 정해진 기준 개수를 초과 시, 상기 기록 블럭에 대한 정보를 상기 매핑 테이블에 등록하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 데이터 제어방법
10 10
제8항에 있어서,상기 기록 블럭은,상기 삭제 블럭들 중에서 마모도가 적은 순서로 선택하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 데이터 제어방법
11 11
제8항에 있어서,상기 액티브 블럭은,상기 기록 블럭들 중 마모도가 적은 순서로 선택하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리장치의 데이터 제어방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.