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질화물 반도체 소자 제조방법

  • 기술번호 : KST2015060661
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 비극성 질화물 반도체 소자 제조방법에 관한 것으로, 비극성 (1-100)면 기판을 준비하는 단계와, 003c#±11-20003e#의 a 방향과 003c#±0001003e#의 c 방향이 수직을 이루는 방향성 성장 인자를 조절하여, 기판 위에 제 1 반도체층을 형성하는 단계와, 제 1 반도체층 위에 활성층을 형성하는 단계와, 003c#±11-20003e#의 a 방향과 003c#±0001003e#의 c 방향이 수직을 이루는 방향성 성장 인자를 조절하여, 활성층 위에 제 2 반도체층을 형성하는 단계와, 제 1, 제 2 반도체층 위에 각각 전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어질 수 있다.
Int. CL H01S 3/0941 (2006.01) H01S 5/00 (2006.01)
CPC H01S 5/1053(2013.01) H01S 5/1053(2013.01) H01S 5/1053(2013.01)
출원번호/일자 1020100016612 (2010.02.24)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0097006 (2011.08.31) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.01.09)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전기성 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)
2 방해철 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.02.24 수리 (Accepted) 1-1-2010-0120667-41
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2014.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2014-1253295-17
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2015.01.09 수리 (Accepted) 1-1-2015-0023204-12
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.07.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.09.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0056241-17
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0238639-15
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.05.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0423533-23
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2016-0423540-43
10 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2016.09.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0652255-97
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.10.10 수리 (Accepted) 1-1-2016-0976286-65
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.10.10 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2016-0976285-19
13 등록결정서
Decision to grant
2017.03.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0227732-41
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
비극성 (1-100)면 기판을 준비하는 단계;003c#±11-20003e#의 a 방향과 003c#±0001003e#의 c 방향이 수직을 이루는 방향성 성장 인자를 조절하여, 상기 기판 위에 제 1 반도체층을 형성하는 단계;상기 제 1 반도체층 위에 활성층을 형성하는 단계;003c#±11-20003e#의 a 방향과 003c#±0001003e#의 c 방향이 수직을 이루는 방향성 성장 인자를 조절하여, 상기 활성층 위에 제 2 반도체층을 형성하는 단계; 그리고,상기 제 1, 제 2 반도체층 위에 각각 전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지고,상기 제 1, 제 2 반도체층의 표면 위에는, 다수의 피라미드 형상들이 형성되고,상기 피라미드 형상을 형성할 때,상기 003c#±11-20003e#의 a 방향으로의 성장 속도를 조절하여 상기 피라미드 형상의 길이를 조정하고,상기 003c#±0001003e#의 c 방향으로의 성장 속도를 조절하여 상기 피라미드 형상의 높이를 조정하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 제조방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 제 1, 제 2 반도체층의 성장 온도는 800 - 1200도인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 제조방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 반도체층을 형성하는 단계는,003c#±11-20003e#의 a 방향과 003c#±0001003e#의 c 방향이 수직을 이루는 방향성 성장 인자를 조절하여, 상기 기판 위에 제 1 콘택층, 제 1 클래드층, 및 제 1 광가이드층을 순차적으로 성장시키는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 제조방법
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 제 1 콘택층은 0
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 제 2 반도체층을 형성하는 단계는,003c#±11-20003e#의 a 방향과 003c#±0001003e#의 c 방향이 수직을 이루는 방향성 성장 인자를 조절하여, 상기 활성층 위에 제 2 광가이드층, 제 2 클래드층, 및 제 2 콘택층을 순차적으로 성장시키는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 제조방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 제 2 콘택층은 100Å - 1um인 두께를 가지고, 1e17/cm3 - 5e21/cm3 범위의 농도를 갖는 p형 불순물이 도프되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 제조방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 제 1, 제 2 반도체층은 표면이 연속적인 피라미드 형상을 유지하면서 성장하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 제조방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 기판은 질화갈륨 기판이고, 비극성 (1-100)면에 대해 0도 이상 2도 이하의 범위를 갖는 경사면을 갖는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 제조방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 기판의 비극성 (1-100)면에 대해 0도 이상 2도 이하의 범위를 갖는 경사면으로부터 성장되는 제 1, 제 2 반도체층은 850 - 1100도의 온도 범위에서 성장되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 제조방법
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패밀리정보가 없습니다
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