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반도체 박막 성장 방법 및 이에 의해 성장된 반도체의 박막

  • 기술번호 : KST2015063747
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요약 본 발명은 반도체 박막 성장 방법 및 이에 의해 성장된 반도체의 박막에 관한 것이다. 제1극성 및 제2극성을 가지는 반도체에 대하여, 단일의 제1극성의 반도체 박막을 성장하기 위한, 본 발명의 반도체 박막 성장 방법은, 기판상에 상기 제1극성 및 제2극성-소정의 식각에 대하여 식각률이 상이함-의 반도체의 성장을 수행하고, 상기 소정의 식각을 수행하여, 상기 제2극성의 반도체를 식각하고, 상기 제1극성의 반도체의 수평재성장을 수행한다.
Int. CL H01L 21/02 (2006.01) H01L 33/16 (2010.01)
CPC H01L 21/0254(2013.01) H01L 21/0254(2013.01) H01L 21/0254(2013.01)
출원번호/일자 1020100134843 (2010.12.24)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-1686677-0000 (2016.12.08)
공개번호/일자 10-2012-0072910 (2012.07.04) 문서열기
공고번호/일자 (20161214) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.07.08)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김치선 대한민국 서울특별시 영등포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2010-0858196-02
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2015.07.08 수리 (Accepted) 1-1-2015-0660010-70
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.02.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2016-0049575-82
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.05.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0324797-61
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2016-0635259-89
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.06.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0635272-73
9 등록결정서
Decision to grant
2016.11.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0826249-04
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1극성 및 제2극성을 가지는 반도체에 대하여, 단일의 제1극성의 반도체 박막을 성장하기 위한 반도체 박막 성장 방법에 있어서,(a) 기판상에 상기 제1극성 및 제2극성-소정의 식각에 대하여 식각률이 상이함-의 반도체의 성장을 수행하는 단계;(b) 상기 소정의 식각을 수행하여, 상기 제2극성의 반도체를 식각하는 단계; (c) 상기 제1극성의 반도체의 상부 일부가 드러나도록, 상기 제1극성의 반도체보다 그 두께가 얇도록, 마스크를 증착하는 단계; 및(d) 상기 제1극성의 반도체의 수평재성장을 수행하는 단계를 포함하는 반도체 박막 성장 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 (c)단계는, 상기 마스크를 상기 제1극성의 반도체보다 더 두껍게 증착한 후, 식각을 통해 상기 제1극성의 반도체의 상부 일부가 드러나도록 하는 단계를 더 포함하는 반도체 박막 성장 방법
3 3
제1극성 및 제2극성을 가지는 반도체에 대하여, 단일의 제1극성의 반도체 박막을 성장하기 위한 반도체 박막 성장 방법에 있어서,기판상에 상기 제1극성 및 제2극성의 반도체의 성장을 수행하는 단계;상기 제1극성의 반도체보다 그 두께가 얇고, 상기 제2극성의 반도체와 실질적으로 두께가 동일한 마스크를 증착하는 단계; 및 상기 제1극성의 반도체의 수평재성장을 수행하는 단계를 포함하되,상기 마스크는 상기 제1극성의 반도체의 상부 일부가 드러나도록 증착되는 반도체 박막 성장 방법
4 4
Al극성 AlN 박막을 기판상에 성장하기 위한 반도체 박막 성장 방법에 있어서,상기 기판상에 N극성 AlN과 Al극성 AlN의 성장을 수행하는 단계;습식식각을 수행하여, 상기 N극성 AlN 반도체를 식각하는 단계; 상기 Al극성 AlN의 상부 일부가 드러나도록, 상기 Al극성 AlN의 두께보다 얇은 마스크를 증착하는 단계; 및상기 Al극성 AlN의 수평재성장을 수행하는 단계를 포함하는 반도체 박막 성장 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 Al극성 AlN의 두께보다 얇은 마스크를 증착하는 단계는, 상기 마스크를 상기 Al극성 AlN보다 더 두껍게 증착한 후, 식각을 통해 상기 상기 Al극성 AlN의 상부 일부가 드러나도록 하는 단계를 더 포함하는 반도체 박막 성장 방법
6 6
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항의 방법에 의해 성장된 반도체 박막
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.