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도전성 기판;상기 도전성 기판 상에 위치하는 제 1전극;상기 제 1전극 상에 위치하고, 질화물계 반도체를 포함하며, 제 1전도성 반도체층, 활성층, 및 제 2전도성 반도체층을 포함하는 반도체 구조;상기 반도체 구조 상에 위치하는 무 도핑 반도체층;상기 무 도핑 반도체층을 관통하여 상기 제 2전도성 반도체층에 이르는 개구부;상기 개구부에 위치하며, 상기 제 2전도성 반도체층에 삽입되어 접촉하는 삽입부, 상기 삽입부의 주변부 측에서 상기 무 도핑 반도체층 상측까지 연장되는 연장부 및 상기 삽입부 상에 형성되는 수납부를 포함하고, 상기 삽입부가 상기 제 2전도성 반도체층에 삽입된 깊이와 상기 제 2전도성 반도체층과의 접촉 면적의 비율은 1:1 내지 1:5인 제 2전극; 상기 수납부 내에 위치하고 와이어 본딩을 위한 패드; 및상기 무 도핑 반도체층에 형성되는 광 추출 구조를 포함하여 구성되고, 상기 제 2전극은 상기 광 추출 구조의 형성을 위한 식각 용액에 반응하지 않는 금속 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자
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제 1항에 있어서, 상기 제 2전극은, 상기 연장부 단부에서 상기 무 도핑 반도체층 상면 측으로 절곡되는 절곡부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자
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제 1항에 있어서, 상기 연장부는, 상기 삽입부에 대하여 경사진 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자
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제 3항에 있어서, 상기 경사진 연장부의 각도는, 상기 제 2전도성 반도체층과의 접촉 평면에 대하여 20°내지 70°인 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자
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제 1항에 있어서, 상기 삽입부 및 연장부는 연속된 곡면을 이루는 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자
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제 1항에 있어서, 상기 제 2전극은, Cr, Pt, Au, Ni, Mo, W, Pd, Ta, Pb, Cu, Te, Rh, 또는 Cd를 포함하는 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자
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실리콘 반도체를 포함하는 성장 기판 상에 무 도핑 반도체층을 성장시키는 단계;상기 무 도핑 반도체층 상에 질화물계 반도체를 이용하여 제 1전도성 반도체층, 활성층, 및 제 2전도성 반도체층을 포함하는 반도체 구조를 성장시키는 단계;상기 반도체 구조 상에 제 1전극을 형성하는 단계;상기 제 1전극 상에 도전성 기판을 부착하는 단계;상기 성장 기판을 제거하는 단계;상기 무 도핑 반도체층의 일부에 삽입홀을 형성하는 단계;상기 삽입홀 상에 상기 반도체 구조와 접촉하는 삽입부, 상기 삽입부의 주변부 측에서 상기 무 도핑 반도체층 상측까지 연장되는 연장부를 포함하고, 상기 삽입부가 상기 제 2전도성 반도체층에 삽입된 깊이와 상기 제 2전도성 반도체층과의 접촉 면적의 비율은 1:1 내지 1:5가 되도록 제 2전극을 형성하는 단계; 및상기 무 도핑 반도체층을 식각하여 광 추출 구조를 형성하는 단계를 포함하여 구성되고, 상기 제 2전극은 상기 광 추출 구조의 형성을 위한 식각 용액에 반응하지 않는 금속 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자의 제조 방법
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제 8항에 있어서, 상기 제 2전극은, 상기 연장부 단부에서 상기 무 도핑 반도체층 상면 측으로 절곡되는 절곡부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자의 제조 방법
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제 8항에 있어서, 상기 제 2전극은, Cr, Pt, Au, Ni, Mo, W, Pd, Ta, Pb, Cu, Te, Rh, 또는 Cd를 포함하는 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자의 제조 방법
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제 8항에 있어서, 상기 무 도핑 반도체층과 반도체 구조를 합한 두께는 4 내지 10 ㎛인 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자의 제조 방법
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제 8항에 있어서, 상기 삽입부 및 연장부는 연속된 곡면을 이루는 것을 특징으로 하는 수직형 질화물계 반도체 발광 소자의 제조 방법
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