맞춤기술찾기

이전대상기술

디스크 검출 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015066619
  • 담당센터 :
  • 전화번호 :
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 디스크 검출을 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.소정 파장의 광을 출사하는 광원, 상기 광원에서 출사된 광을 접속하여 다수의 기록층을 가지는 광디스크에 광 스폿을 형성하는 집광부, 상기 광디스크에서 반사된 반사광을 수광하여 신호를 검출하는 광 검출기, 상기 광디스크에서 반사된 광의 크기를 확인하고, 상기 광의 크기에 따른 고반사 또는 저반사 디스크를 구분하는 제어부를 포함한다.
Int. CL G11B 7/13 (2006.01)
CPC G11B 19/12(2013.01) G11B 19/12(2013.01) G11B 19/12(2013.01) G11B 19/12(2013.01) G11B 19/12(2013.01) G11B 19/12(2013.01) G11B 19/12(2013.01) G11B 19/12(2013.01)
출원번호/일자 1020110139837 (2011.12.22)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0072430 (2013.07.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 7

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 정인수 대한민국 경기 화성

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김기문 대한민국 서울시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동 현죽빌딩)(한미르특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-1021558-97
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2012.08.17 수리 (Accepted) 1-1-2012-0661127-77
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
4 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.05.26 수리 (Accepted) 1-1-2015-0505326-45
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소정 파장의 광을 출사하는 광원;상기 광원에서 출사된 광을 접속하여 다수의 기록층을 가지는 광디스크에 광 스폿을 형성하는 집광부;상기 광디스크에서 반사된 반사광을 수광하여 신호를 검출하는 광 검출기; 상기 광디스크에서 반사된 광의 크기를 확인하고, 상기 광의 크기에 따른 고반사 또는 저반사 디스크를 구분하는 제어부;를 포함하는디스크 검출 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 광원은 BD규격을 만족하는 광을 출사하는 광 출력부인 것을 특징으로 하는 디스크 검출 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 집광부는 BD규격을 만족하는 개구수(NA)를 갖는 대물렌즈인 것을 특징으로 하는 디스크 검출 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 제어부는광의 기준 크기 및 상기 기준 크기에 따른 크기값을 설정하고, 상기 반사된 광의 크기에 따라 상기 크기값을 산출하는 단계;상기 반사된 광에 대한 크기값을 합하여 상기 반사된 광의 크기값을 산출하는 단계;상기 산출된 광의 크기값에 따라 고반사 또는 저반사 디스크로 구분하는디스크 검출 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 제어부는상기 산출된 광의 크기 값이 기준 크기 값을 초과하면 고반사 디스크로 분류하고, 상기 광의 크기 값이 기준 크기 값 이하이면 저반사 디스크로 분류하는디스크 검출 장치
6 6
렌즈를 소정의 위치로 이송하고, 광원에서 출사된 광에 따른 반사광을 검출하는 단계;상기 반사광에 대하여 기 설정된 광의 크기와 비교하는 단계;상기 기 설정된 광의 크기에 대응되는 크기 값에 따라 상기 반사광의 크기 값을 설정하는 단계;상기 반사광의 크기 값을 연산하는 단계;상기 반사광의 크기값에 따라 디스크를 분류하는 단계;를 포함하는디스크 검출 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 반사광의 크기 값에 따라 분류되는 디스크는상기 연산된 반사광의 크기 값이 기 설정된 광의 크기값을 초과하면 고반사 디스크로 분류하고, 상기 기 설정된 광의 크기값 이하이면 저반사 디스크로 분류하는디스크 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.