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이온 주입 장치

  • 기술번호 : KST2015066815
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  • 전화번호 :
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요약 본 발명은 이온 주입 장치에 관한 것이다.본 발명에 따른 이온 주입 장치의 일례는 챔버; 챔버 내부에 위치하고, 비전도성의 절연층 및 절연층 내에 삽입되는 복수의 전극을 포함하는 플레이튼; 플레이튼 위에 배치된 기판의 일면에 이온을 주입하는 이온 주입부; 및 복수의 전극에 인가되는 전압을 제어하는 제어부;를 포함하고, 제어부는 그라운드 전압(GND), 양(+)의 펄스 전압 및 음(-)의 펄스 전압 중 적어도 하나를 복수의 전극 각각에 인가한다.
Int. CL H01J 37/317 (2006.01) H01L 31/18 (2006.01) H01L 31/042 (2006.01)
CPC H01J 37/3171(2013.01) H01J 37/3171(2013.01)
출원번호/일자 1020120002492 (2012.01.09)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0081485 (2013.07.17) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.12.01)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임유봉 대한민국 서울 서초구
2 장우석 대한민국 서울 서초구
3 이제형 대한민국 서울 서초구
4 김대일 대한민국 서울 서초구
5 전종진 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인로얄 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로 ***, *층(서초동,서일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.01.09 수리 (Accepted) 1-1-2012-0020664-61
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.12.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-1181925-31
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2016.12.01 수리 (Accepted) 1-1-2016-1181997-18
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.09.18 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.12.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0860401-70
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.12.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0176800-41
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.02.05 수리 (Accepted) 1-1-2018-0126230-30
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.02.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0126231-86
10 등록결정서
Decision to grant
2018.06.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0386189-22
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
챔버; 상기 챔버 내부에 위치하고, 비전도성의 절연층 및 상기 절연층 내에 삽입되는 복수의 전극을 포함하는 플레이튼; 상기 플레이튼 위에 배치된 기판의 일면에 이온을 주입하는 이온 주입부; 및상기 복수의 전극에 전압을 공급하는 제어부;를 포함하고,상기 복수의 전극은 상기 절연층 내에서 서로 이격되어 동일한 방향으로 길게 뻗어있고,상기 제어부는 그라운드 전압(GND), 양(+)의 펄스 전압 및 음(-)의 펄스 전압 중 적어도 하나를 상기 복수의 전극 각각에 공급하되,상기 기판의 일면에 상기 이온이 주입되는 동안, 상기 제어부는 상기 복수의 전극 중 일부 전극에는 양(+)의 펄스 전압이 인가되고, 상기 복수의 전극 중 나머지 전극에는 음(-)의 펄스 전압이 인가되는 이온 주입 장치
2 2
삭제
3 3
제1 항에 있어서,상기 복수의 전극 각각의 중심 사이의 거리(pitch)는 1
4 4
제1 항에 있어서,상기 복수의 전극 각각의 폭은 0
5 5
제1 항에 있어서,상기 제어부는 상기 기판의 일면에 상기 이온이 주입되는 이외의 기간 동안, 상기 복수의 전극 각각에 양(+)의 펄스 전압 또는 음(-)의 펄스 전압을 인가하여 상기 플레이튼 상부에 배치된 상기 기판을 처킹(chucking)하며, 상기 복수의 전극 각각에 그라운드 전압(GND)을 인가하여 상기 기판을 언처킹(unchucking)하는 이온 주입 장치
6 6
삭제
7 7
제1 항에 있어서,상기 기판의 일면 중 상기 양(+)의 전압이 인가되는 전극 위에 위치하는 상기 기판의 제1 영역에는 상기 음(-)의 전압이 인가되는 전극 위에 위치하는 상기 기판의 제2 영역보다 낮은 농도로 상기 이온이 주입되는 이온 주입 장치
8 8
제3 항에 있어서,상기 기판은 태양 전지용 실리콘 기판이며, 상기 이온 주입부로부터 주입된 이온에 의해 상기 실리콘 기판의 일면에 제1 농도를 갖는 저농도 도핑부 및 상기 제1 농도보다 높은 제2 농도를 갖는 고농도 도핑부를 갖는 선택적 에미터부를 형성하는 이온 주입 장치
9 9
제8 항에 있어서,상기 고농도 도핑부 중심 간의 간격은 상기 복수의 전극 각각의 중심 사이의 거리와 동일한 이온 주입 장치
10 10
제8 항에 있어서,상기 고농도 도핑부 중심 간의 간격은 상기 복수의 전극 각각의 중심 사이의 거리의 2배인 이온 주입 장치
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12 12
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13 13
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14 14
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15 15
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16 16
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17 17
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18 18
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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.