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반도체 웨이퍼 검사 장치 및 그 제어 방법

  • 기술번호 : KST2015067545
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요약 본 발명은 반도체 웨이퍼 검사 장치에 관한 것이다. 이러한 반도체 웨이퍼 검사 장치의 한 예는 반도체 웨이퍼를 감지하여 웨이퍼 감지 신호를 출력하는 웨이퍼 감지부, 상기 웨이퍼 감지부와 연결되어 있고, 상기 웨이퍼 감지부로부터의 상기 웨이퍼 감지 신호의 상태에 따라 제1 제어 신호나 제2 제어 신호를 출력하는 제어부, 정해진 크기의 압력을 갖는 공기를 출력하는 공기 출력부, 상기 제어부와 상기 공기 출력부에 연결되어 있고, 상기 제어부로 인가되는 제1 제어 신호 또는 제2 제어 신호에 따라 개방 상태 또는 폐쇄 상태로 변하여 상기 공기 출력부로부터 인가되는 상기 공기를 공급하거나 차단하는 솔레노이드 밸브, 그리고 상기 솔레노이드 밸브와 연결되어 있고, 상기 솔레노이드 밸브가 개방 상태일 때, 상기 솔레노이드 밸브로 인가되는 상기 공기를 상기 반도체 웨이퍼 위에 분사하는 복수의 노즐을 포함한다.
Int. CL H01L 21/66 (2006.01)
CPC H01L 21/67259(2013.01) H01L 21/67259(2013.01) H01L 21/67259(2013.01)
출원번호/일자 1020120023867 (2012.03.08)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0102769 (2013.09.23) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.09.20)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강동훈 대한민국 서울 서초구
2 김정길 대한민국 서울 서초구
3 최천오 대한민국 서울 서초구
4 이정환 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인로얄 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로 ***, *층(서초동,서일빌딩)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.03.08 수리 (Accepted) 1-1-2012-0188823-18
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2016.09.20 수리 (Accepted) 1-1-2016-0909747-52
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.02.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.04.07 수리 (Accepted) 9-1-2017-0010411-85
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.03.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0174768-97
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2018.05.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0344894-29
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 웨이퍼를 감지하여 웨이퍼 감지 신호를 출력하는 웨이퍼 감지부,상기 웨이퍼 감지부와 연결되어 있고, 상기 웨이퍼 감지부로부터의 상기 웨이퍼 감지 신호의 상태에 따라 제1 제어 신호나 제2 제어 신호를 출력하는 제어부,정해진 크기의 압력을 갖는 공기를 출력하는 공기 출력부,상기 제어부와 상기 공기 출력부에 연결되어 있고, 상기 제어부로 인가되는 제1 제어 신호 또는 제2 제어 신호에 따라 개방 상태 또는 폐쇄 상태로 변하여 상기 공기 출력부로부터 인가되는 상기 공기를 공급하거나 차단하는 솔레노이드 밸브, 그리고상기 솔레노이드 밸브와 연결되어 있고, 상기 솔레노이드 밸브가 개방 상태일 때, 상기 솔레노이드 밸브로 인가되는 상기 공기를 상기 반도체 웨이퍼 위에 분사하는 복수의 노즐을 포함하는 반도체 웨이퍼 검사 장치
2 2
제1항에서, 상기 공기 출력부는 공기를 압축하여 제1 압력을 갖는 공기를 생산하는 공기 압축기, 그리고 상기 공기 압축기와 연결되어 있고 상기 공기 압축기에서 공급되는 공기를 제2 압력을 갖는 공기로 변환하여 상기 솔레노이드 밸브로 인가하는 공기 압력 조정부를 포함하는 반도체 웨이퍼 검사 장치
3 3
제2항에서, 상기 제1 압력은 1㎏f/㎠ 이상이고, 상기 제2 압력은 0
4 4
제2항에서, 상기 제2 압력은 일정 압력인 반도체 웨이퍼 검사 장치
5 5
제2항에서, 상기 제2 압력은 시간에 따라 변하는 가변 압력인 반도체 웨이퍼 검사 장치
6 6
제1항에서, 상기 반도체 웨이퍼는 상기 복수의 노즐에서 분사되는 상기 공기에 의해 휘게 되고, 상기 반도체 웨이퍼의 휨 정도는 10㎜ 내지 15㎜인 반도체 웨이퍼 검사 장치
7 7
제1항에서, 상기 제어부는 상기 웨이퍼 감지 신호에 의해 상기 반도체 웨이퍼가 감지된 상태로 판단되면 상기 제1 제어 신호를 설정 시간 동안 상기 솔레노이드 밸브로 출력하고, 상기 솔레노이드 밸브는 상기 제1 제어 신호에 의해 개방 상태로 되는반도체 웨이퍼 검사 장치
8 8
제7항에서,상기 설정 시간은 0
9 9
제7항에서상기 반도체 웨이퍼가 위치하고 서로 이격되어 나란하게 배치된 두 개의 이송 벨트를 더 포함하고, 상기 두 개의 이송 벨트는 상기 반도체 웨이퍼를 상기 복수의 노즐 하부로 이송하는 반도체 웨이퍼 검사 장치
10 10
제9항에서,상기 두 개의 이송 벨트 간의 간격은 70㎜ 내지 80㎜인 반도체 웨이퍼 검사 장치
11 11
제9항에서,상기 반도체 웨이퍼의 표면은 복수의 소잉 마크(sawing mark)를 구비하고 있고, 상기 소잉 마크는 상기 두 개의 이송 벨트와 나란한 방향으로 연장되어 있는 반도체 웨이퍼 검사 장치
12 12
제1항에서,제1 방향으로 인접한 두 노즐 간의 거리와 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 인접한 두 노즐 간의 거리는 각각 100㎜ 내지 150㎜인 반도체 웨이퍼 검사 장치
13 13
제1항에서,상기 복수의 노즐 각각의 끝단과 그 하부에 위치한 상기 반도체 웨이퍼의 상부면간의 간격은 10㎜ 내지 20㎜인 반도체 웨이퍼 검사 장치
14 14
제1항에서,상기 솔레노이드 밸브와 상기 복수의 노즐 각각을 연결하는 공급관을 더 포함하는 반도체 웨이퍼 검사 장치
15 15
제14항에서,상기 공급관의 내부 직경은 8㎜ 내지 20㎜인 반도체 웨이퍼 검사 장치
16 16
제14항 또는 제15항에서,상기 솔레노이드 밸브와 복수의 노즐 각각의 끝단까지의 거리는 1
17 17
웨이퍼 감지부로부터 출력되는 웨이퍼 감지 신호를 판독하여 반도체 웨이퍼가 감지되었는지를 판단하는 단계,상기 반도체 웨이퍼가 감지된 상태로 판단되면, 설정 시간 동안 솔레노이드 밸브를 개방하는 솔레노이드 개방 신호를 상기 솔레노이드 밸브로 출력하여, 공기 출력부로부터 공급되는 공기를 복수의 노즐로 인가하여 상기 복수의 노즐을 통해 상기 공기를 상기 반도체 웨이퍼 위로 분사하는 단계, 그리고상기 설정 시간이 경과하면 상기 솔레노이드 밸브를 폐쇄하는 솔레노이드 폐쇄 신호를 출력하여, 상기 복수의 노줄에서 상기 반도체 웨이퍼 위로 분사되는 상기 공기를 차단하는 단계를 포함하고,상기 반도체 웨이퍼는 상기 복수의 노즐 하부에 위치하며,상기 복수의 노즐의 하부에 위치한 반도체 웨이퍼 위로 상기 공기가 분사되면 상기 반도체 웨이퍼는 휘게 되어, 상기 반도체 웨이퍼에 이미 발생한 크랙의 크기는 증가하는반도체 웨이퍼 감지 장치의 제어 방법
18 18
제17항에서, 상기 설정 시간은 0
19 19
제17항에서,상기 공기 출력부에서 출력되는 상기 공기의 압력은 0
20 20
제17항에서,상기 반도체 웨이퍼의 휨 정도는 10㎜ 내지 15㎜인 반도체 웨이퍼 감지 장치의 제어 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.