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표시 장치의 검사 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015068484
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요약 본 발명은 저비용 및 고속으로 얼룩을 검사할 수 있는 표시 장치의 검사 장치 및 방법을 제공하는 것이다.본 발명에 따른 표시 장치의 검사 방법은 검사 대상물을 스테이지 상에 안착시키는 단계와; 인포커스 모드 또는 아웃 포커스 모드로 조정된 라인 카메라를 이용하여 상기 검사 대상물의 외관 및 패턴을 검사하는 단계와; 아웃 포커스 모드로 조정된 상기 라인 카메라를 이용하여 상기 검사 대상물의 얼룩을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01N 21/88 (2006.01)
CPC G01N 21/958(2013.01) G01N 21/958(2013.01) G01N 21/958(2013.01) G01N 21/958(2013.01) G01N 21/958(2013.01) G01N 21/958(2013.01)
출원번호/일자 1020120068675 (2012.06.26)
출원인 엘지디스플레이 주식회사
등록번호/일자 10-1362171-0000 (2014.02.06)
공개번호/일자 10-2014-0001366 (2014.01.07) 문서열기
공고번호/일자 (20140213) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.06.26)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 황석주 대한민국 인천 부평구
2 황규득 대한민국 경기 파주시 평화로***번길 *
3 서동식 대한민국 인천 부평구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)
2 박영복 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층(역삼동, 삼화빌딩)(특허법인 두성)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.06.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-0509792-87
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.10.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0711325-09
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.12.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-1148226-13
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.12.16 수리 (Accepted) 1-1-2013-1148228-04
5 등록결정서
Decision to grant
2014.01.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0058418-96
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
검사 대상물이 안착되는 스테이지와;상기 검사 대상물을 라인 단위로 스캔하는 라인 카메라를 구비하는 촬상부와;상기 검사 대상물의 셀 불량 검사시 상기 라인 카메라를 인포커스 모드로 조정하고, 상기 상부 외관 불량 검사시 상기 라인 카메라를 인포커스 모드 또는 아웃 포커스 모드로 조정하고, 상기 검사 대상물의 얼룩 불량 검사시 상기 라인 카메라를 아웃 포커스 모드로 조정하는 촬상 제어부와;상기 검사 대상물의 상기 상부 외관 불량 검사시 이용되는 동축 낙사 조명을 구비하며,상기 동축 낙사 조명은 상기 라인 카메라의 중심축과 수직하게 배열되는 광원과;상기 광원에서 생성되는 광을 상기 카메라의 중심축과 동축으로 반사시키는 빔스플리터와;상기 검사 대상물 내에 형성된 금속성 패턴의 반사율을 저감시키기 위해 상기 광원과 빔스플리터 사이에 위치하여 상기 광원에서 생성된 광을 균일하게 확산시키는 확산 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 촬상 제어부는 상기 라인 카메라와 상기 검사 대상물의 이격 거리를 조절하는 이동 제어부인 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 장치
3 3
제 2 항에 있어서,상기 이동 제어부는 상기 검사 대상물의 상부 외관 불량 검사시 상기 인 포커스 모드일 때보다 상기 라인 카메라와 상기 검사 대상물의 이격 거리가 길어지도록 상기 라인 카메라를 상기 아웃 포커스 모드로 상향시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 확산 부재는 아크릴 재질로 형성되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 장치
5 5
제1 항 또는 제 3 항에 있어서,상기 이동 제어부는 상기 검사 대상물의 얼룩 불량 검사시 상기 인 포커스 모드일 때보다 상기 라인 카메라와 상기 검사 대상물의 이격 거리가 짧아지도록 상기 라인 카메라를 상기 아웃 포커스 모드로 하향시키는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 촬상 제어부는 상기 라인 카메라의 초점 조절링인 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 장치
7 7
검사 대상물을 스테이지 상에 안착시키는 단계와;인 포커스 모드로 조정된 라인 카메라를 이용하여 상기 검사 대상물의 셀 불량을 검사하는 단계와;상기 인 포커스 모드 또는 아웃 포커스 모드로 조정된 라인 카메라를 이용하여 상기 검사 대상물의 상부 외관 불량을 검사하는 단계와;아웃 포커스 모드로 조정된 상기 라인 카메라를 이용하여 상기 검사 대상물의 얼룩 불량을 검사하는 단계를 포함하며,상기 검사 대상물의 상부 외관 불량을 검사하는 단계는상기 라인 카메라의 중심축과 수직하게 배열되는 광원, 상기 광원에서 생성되는 광을 상기 카메라의 중심축과 동축으로 반사시키는 빔스플리터, 상기 검사 대상물 내에 형성된 금속성 패턴의 반사율을 저감시키기 위해 상기 광원과 빔스플리터 사이에 위치하여 상기 광원에서 생성된 광을 균일하게 확산시키는 확산 부재를 구비하는 동축 낙사 조명을 이용하여 상기 검사 대상물의 상부 외관 불량을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 검사 대상물의 상부 외관 불량을 검사하는 단계는 상기 인 포커스 모드일 때보다 상기 라인 카메라와 상기 검사 대상물의 이격 거리가 길어지도록 상기 라인 카메라를 상향시켜 상기 검사 대상물의 상부 외관 불량을 검사하는 단계인 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 방법
9 9
제 8 항에 있어서,상기 확산 부재는 아크릴 재질로 형성되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 방법
10 10
제 7 항에 있어서,상기 검사 대상물의 얼룩 불량을 검사하는 단계는상기 인 포커스 모드일 때보다 상기 라인 카메라와 상기 검사 대상물의 이격 거리가 짧아지도록 상기 라인 카메라를 하향시켜 상기 검사 대상물의 얼룩 불량을 검사하는 단계인 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 방법
11 11
제 7 항에 있어서,상기 라인 카메라의 초점 조절링을 이용하여 상기 라인 카메라를 인 포커스 모드 및 아웃 포커스 모드로 조정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.