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태양 전지 및 이의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015069053
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요약 본 실시예에 따른 태양 전지는, 반도체 기판; 상기 반도체 기판에 형성되며, p형 불순물을 포함하는 p형의 도전형 영역; 및 상기 p형 도전형 영역 위에 형성되며 알루미늄 산화물을 포함하는 패시베이션 막을 포함한다. 상기 패시베이션 막의 두께가 7~17Å이다.
Int. CL H01L 31/0216 (2014.01) H01L 31/042 (2014.01) H01L 31/18 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020120108061 (2012.09.27)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0042063 (2014.04.07) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.06.29)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이현호 대한민국 서울특별시 서초구
2 이경수 대한민국 서울특별시 서초구
3 박창서 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박병창 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 *, 동주빌딩 *층 팍스국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.09.27 수리 (Accepted) 1-1-2012-0790282-27
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.06.29 수리 (Accepted) 1-1-2017-0625939-73
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.09.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.10.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0153773-12
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.10.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0732674-03
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.12.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1292183-75
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.12.26 수리 (Accepted) 1-1-2017-1292182-29
9 등록결정서
Decision to grant
2018.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0362008-26
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 기판; 상기 반도체 기판 일면에 형성되며, p형 불순물을 포함하는 p형의 도전형 영역; 상기 p형 도전형 영역 위에 형성되며 알루미늄 산화물을 포함하는 제1 패시베이션 막; 및상기 제1 패시베이션 막 상에 형성된 실리콘 질화막을 포함하는 반사 방지막을 포함하고, 상기 제1 패시베이션 막의 두께가 7~17Å이며,상기 알루미늄 산화물의 화학식이 AlO1
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서, 상기 알루미늄 산화물의 화학식이 AlO1
4 4
제1항에 있어서, 상기 p형의 도전형 영역이 상기 반도체 기판의 전면에 형성되는 에미터층을 포함하고, 상기 제1 패시베이션 막이 상기 에미터층 위에 형성되는 태양 전지
5 5
제1항에 있어서,상기 p형의 도전형 영역이 상기 반도체 기판의 후면에 형성되는 후면 전계층을 포함하고, 상기 제1 패시베이션 막이 상기 후면 전계층 위에 형성되는 태양 전지
6 6
제5항에 있어서,상기 제1 패시베이션 막 위에 형성되며 상기 p형의 도전형 영역과 전기적으로 연결되는 전극을 더 포함하고, 상기 전극은 상기 제1 패시베이션 막 위에 전체적으로 형성되며, 상기 p형의 도전형 영역에 점 컨택(point contact)되는 태양 전지
7 7
제6항에 있어서,상기 p형의 도전형 영역인 상기 후면 전계층이 상기 전극이 형성된 부분과 인접한 부분에서 국부적으로 형성되는 태양 전지
8 8
제1항에 있어서,상기 p형의 도전형 영역과 이격되어 상기 반도체 기판의 후면에 n형의 도전형 영역이 형성되는 태양 전지
9 9
제8항에 있어서,상기 제1 패시베이션 막이 상기 p형의 도전형 영역 위에 형성되고, 상기 제1 패시베이션 막 및 상기 n형의 도전형 영역을 덮으면서 상기 반도체 기판의 후면에 형성되는 별도의 패시베이션 막이 형성되는 태양 전지
10 10
제8항에 있어서,상기 반도체 기판의 전면에 전면 전계층이 더 형성되는 태양 전지
11 11
반도체 기판에 p형 불순물을 포함하는 p형의 도전형 영역을 형성하는 단계; 상기 p형의 도전형 영역 위에 알루미늄 산화물을 포함하는 제1 패시베이션 막을 형성하는 단계; 및상기 제1 패시베이션막 위에 실리콘 질화막을 포함하는 반사 방지막을 형성하는 단계을 포함하고, 상기 제1 패시베이션 막의 두께가 7~17Å이며,상기 알루미늄 산화물의 화학식이 AlO1
12 12
삭제
13 13
제11항에 있어서, 상기 알루미늄 산화물의 화학식이 AlO1
14 14
제11항에 있어서, 상기 제1 패시베이션 막이 원자층 증착법에 의하여 형성되는 태양 전지의 제조 방법
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1 CN103700713 CN 중국 FAMILY
2 EP02713403 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 EP02713403 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
4 EP02713403 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
5 JP26072530 JP 일본 FAMILY
6 US09269839 US 미국 FAMILY
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1 CN103700713 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN103700713 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 EP2713403 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 EP2713403 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
5 EP2713403 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
6 JP2014072530 JP 일본 DOCDBFAMILY
7 US2014083498 US 미국 DOCDBFAMILY
8 US9269839 US 미국 DOCDBFAMILY
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