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절연 패턴이 형성된 전하 수집층을 갖는 엑스-선 영상 검출기 및 이의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015069862
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 절연 패턴이 형성된 전하 수집층을 갖는 광 스위칭 방식을 이용한 엑스-선 영상 검출기 및 이의 제조 방법으로서, 광 스위칭 방식의 엑스-선 영상 검출기에 있어서, 복수개의 전극 라인이 형성된 유리 기판과 상기 유리 기판에 상부로부터 순차적으로 적층된 엑스선 광전도층(X-ray PCL; photoconducting layer), 전하 수집층(CAL; charge accumulation layer) 및 리드아웃 광전도층(readout PCL)을 포함하되, 상기 전하 수집층은, 전하 축적을 영역별로 집중시키거나 상기 리드아웃 광전도층의 내부 전계를 영역별로 유도하기 위해 상기 유리 기판의 전극 라인에 대응하여 절연 패턴이 형성된 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기와 이를 제조하는 방법이며, 이와 같은 본 발명에 의하면 본 발명에 따른 절연 패턴이 형성된 전하 수집층을 갖는 엑스-선 영상 검출기는 절연 패턴을 통해 전하 수집층의 전하 축적을 픽셀 영역별로 집중시키거나 또는 리드아웃 광전도층의 내부 전계를 영역별로 유도함으로써 영상의 해상도를 더욱 높일 수 있다.
Int. CL H01L 27/14 (2006.01) G01T 1/24 (2006.01)
CPC G01T 1/241(2013.01) G01T 1/241(2013.01)
출원번호/일자 1020120135781 (2012.11.28)
출원인 한국전기연구원
등록번호/일자 10-1456084-0000 (2014.10.23)
공개번호/일자 10-2014-0068386 (2014.06.09) 문서열기
공고번호/일자 (20141031) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.11.28)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 허두창 대한민국 경기 용인시 수지구
2 양기동 대한민국 경기 안양시 동안구
3 전성채 대한민국 경기 안산시 상록구
4 차보경 대한민국 경기 안산시 상록구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 경상남도 창원시 성산구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2012-0984168-70
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.06.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.07.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0057265-01
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0718231-13
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2013-1170446-12
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2014-0053322-04
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.02.20 수리 (Accepted) 1-1-2014-0165235-78
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.02.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0165234-22
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0356274-19
10 [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Extension of Legal Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)
2014.06.25 수리 (Accepted) 7-1-2014-0024020-36
11 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2014.07.25 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2014-0703775-86
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.07.25 수리 (Accepted) 1-1-2014-0703774-30
13 등록결정서
Decision to Grant Registration
2014.08.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0538375-46
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006987-25
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광 스위칭 방식의 엑스-선 영상 검출기에 있어서,복수개의 전극 라인이 형성된 유리 기판과상기 유리 기판에 상부로부터 순차적으로 적층된 엑스선 광전도층(X-ray PCL; photoconducting layer), 전하 수집층(CAL; charge accumulation layer) 및 리드아웃 광전도층(readout PCL)을 포함하되,상기 전하 수집층은, 상면, 하면 또는 두면 모두에 전하 축적을 영역별로 집중시키거나 상기 리드아웃 광전도층의 내부 전계를 영역별로 유도하기 위해 상기 유리 기판의 전극 라인에 대응하여 절연 패턴이 형성되며,상기 절연 패턴은, 상기 유리 기판의 전극 라인과 직교하는 방향으로 서로 일정간격 이격되어 평행한 복수개의 스트립 라인으로 형성된 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제 1 항에 있어서,상기 절연 패턴은, 상기 전극 라인과 평행한 복수개의 스트립 라인을 더 포함하여, 격자 배열 형태로 형성되되, 상기 유리 기판의 전극 라인이 상기 격자의 중심부를 지나도록 형성된 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기
5 5
제 1 항에 있어서,상기 절연 패턴은,상기 전하 수집층의 상면 또는 하면 중 어느 하나의 면에는 상기 유리 기판의 전극 라인과 직교하는 방향으로 서로 일정간격 이격되어 평행한 스트립 라인으로 형성되고, 다른 하나의 면에는 상기 유리 기판의 전극 라인과 평행하게 상기 전극 라인 간의 사이에 형성된 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기
6 6
제 1 항, 제 4 항 또는 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 절연 패턴은, 절연성을 가지는 폴리머 계열의 파릴렌(parylene), 폴리에틸렌(Polyethylene : PE), 또는 폴리테트라플루오르에틸렌(Polytetrafluoroethylene : PTFE) 중 어느 하나 이상을 포함한 물질로 형성된 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기
7 7
광 스위칭 방식의 엑스-선 영상 검출기의 제조 방법에 있어서,(A) 유리 기판의 상면에 복수개의 전극 라인을 형성하고, 그 상부에 리드아웃 광전도층(readout PCL)을 형성시키는 단계;(B) 전하 수집층의 하면에 절연 패턴이 형성되도록 상기 절연 패턴을 형성한 후 상기 전하 수집층을 형성하거나 상기 전하 수집층의 상면에 절연 패턴이 형성되도록 상기 전하 수집층을 형성한 후 그 상면에 절연 패턴을 형성시키는 단계; 및(C) 엑스선 광전도층(x-ray PCL)을 형성시키는 단계를 포함하며,상기 (B) 단계는,상기 전극 라인에 직교하는 방향으로 일정 간격 평행하게 이격되어 복수개의 스트립 라인을 형성하기 위한 홀이 형성된 쉐도우 마스크를 이용하여 절연 패턴을 증착하는 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기의 제조 방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 (B) 단계는,상기 전극 라인에 대응하는 일정 패턴을 형성시키기 위한 쉐도우 마스크를 상기 리드아웃 광전도층의 상부에 위치시키는 단계;증착 공정으로 절연 패턴을 형성시키고 상기 쉐도우 마스크를 제거하는 절연패턴 형성 단계; 및상기 전하 수집층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기의 제조 방법
9 9
제 7 항에 있어서,상기 (B) 단계는,상기 전하 수집층을 형성하는 단계;상기 전극 라인에 대응하는 일정 패턴을 형성시키기 위한 쉐도우 마스크를 상기 전하 수집층의 상부에 위치시키는 단계; 및증착 공정으로 절연 패턴을 형성시키고 상기 쉐도우 마스크를 제거하는 절연패턴 형성 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기의 제조 방법
10 10
삭제
11 11
제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,상기 절연 패턴 형성 단계는,상기 전극 라인에 직교하는 방향으로 일정 간격 평행하게 이격되어 복수개의 스트립 라인을 형성하기 위한 홀이 형성된 직교 패턴 쉐도우 마스크를 이용하여 절연 패턴을 증착하고 상기 직교 패턴 쉐도우 마스크를 제거하는 단계; 및상기 전극 라인에 직교하는 방향으로 복수개의 스트립 라인의 절연 패턴이 형성된 그 상부에, 상기 전극 라인과 평행한 방향으로 일정 간격 이격되어 복수개의 스트립 라인을 형성하기 위한 홀이 형성된 평행 패턴 쉐도우 마스크를 이용하여 절연 패턴을 증착하고 상기 평행 패턴 쉐도우 마스크를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기의 제조 방법
12 12
제 7 항에 있어서,상기 (B) 단계는,상기 전극 라인에 직교하는 방향으로 일정 간격 이격되어 서로 평행한 스트립 라인을 형성하기 위한 제1 쉐도우 마스크를 상기 리드아웃 광전도층의 상부에 위치시키는 단계;증착 공정으로 제1 절연 패턴을 형성시키고 상기 제 1쉐도우 마스크를 제거하는 단계; 상기 전하 수집층을 형성하는 단계;상기 전극 라인과 사이에 상기 전극 라인과 평행한 스트립 라인을 형성하기 위한 제2 쉐도우 마스크를 상기 전하 수집층의 상부에 위치시키는 단계; 및증착 공정으로 제2 절연 패턴을 형성시키고 상기 제2 쉐도우 마스크를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스-선 영상 검출기의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.