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스캐닝 마이크로 미러

  • 기술번호 : KST2015070150
  • 담당센터 :
  • 전화번호 :
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 실시예는 제1 방향에서 서로 마주보는 한 쌍의 제1 탄성체의 사이에 배치되는 미러; 상기 한 쌍의 제1 탄성체를 통하여 상기 미러와 연결되는 짐벌(gimbal); 제2 방향에서 서로 마주보는 한 쌍의 제2 탄성체를 통하여 짐벌과 연결되는 한 쌍의 앵커; 및 상기 미러의 배면에 편심되어 배치되는 배치되는 홀 센서를 포함하는 스캐닝 마이크로 미러를 제공한다.
Int. CL G02B 26/08 (2006.01.01) G02B 26/10 (2006.01.01) H04N 1/113 (2006.01.01) G02B 5/09 (2006.01.01) G02B 7/182 (2006.01.01) B81B 7/02 (2017.01.01)
CPC G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01)
출원번호/일자 1020130000229 (2013.01.02)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-2014782-0000 (2019.08.21)
공개번호/일자 10-2014-0088398 (2014.07.10) 문서열기
공고번호/일자 (20190827) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.12.29)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정치환 대한민국 서울 서초구
2 이병구 대한민국 서울 서초구
3 안재용 대한민국 서울 서초구
4 정문기 대한민국 서울 서초구
5 최동준 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)
2 방해철 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2013-0002244-11
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2014.12.01 수리 (Accepted) 1-1-2014-1163790-73
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2017-1311538-71
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.08.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.11.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0139662-69
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.11.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0791947-13
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.01.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0045713-93
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2019-0045714-38
10 등록결정서
Decision to grant
2019.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0368498-48
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 방향에서 서로 마주보는 한 쌍의 제1 탄성체의 사이에 배치되는 미러;상기 한 쌍의 제1 탄성체를 통하여 상기 미러와 연결되는 짐벌(gimbal);제2 방향에서 서로 마주보는 한 쌍의 제2 탄성체를 통하여 상기 짐벌과 연결되는 한 쌍의 앵커; 상기 미러의 배면과 마주보며 배치되는 자성체; 및상기 미러의 배면에 편심되어 배치되고, 상기 자성체와의 거리 변화를 통해 상기 미러의 회전각을 검출하는 홀 센서;를 포함하고,상기 홀 센서는상기 미러의 중심을 지나는 상기 제1 방향의 축 및 상기 제2 방향의 축에서 각각 이격되어 구비되는 것을 특징으로 하는 스캐닝 마이크로 미러
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제1 항에 있어서,상기 자성체와 상기 미러는 기설정된 간격만큼 이격되어 배치되는 스캐닝 마이크로 미러
5 5
삭제
6 6
제1 항에 있어서,상기 홀 센서와 전기적으로 연결되는 적어도 하나의 도선 쌍을 더 포함하는 스캐닝 마이크로 미러
7 7
제6 항에 있어서,상기 도선 쌍은 적어도 2개 포함하고, 상기 2개의 도선 쌍은 서로 평행하지 않은 스캐닝 마이크로 미러
8 8
제7 항에 있어서,상기 2개의 도선 쌍은 서로 수직하게 배치되는 스캐닝 마이크로 미러
9 9
제1 항에 있어서,상기 제1 방향과 제2 방향은 서로 수직인 스캐닝 마이크로 미러
10 10
제1 항에 있어서,상기 미러는 상기 제1 방향의 축과 상기 제2 방향의 축을 중심으로 회전할 수 있고, 각각의 회전 진동수가 서로 다른 스캐닝 마이크로 미러
11 11
제1 항에 있어서, 상기 홀 센서는,상기 미러의 중심으로부터 상기 제1 방향의 축과 제2 방향의 축에서 서로 다른 거리만큼 이격되어 배치되는 스캐닝 마이크로 미러
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.