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스캐닝 마이크로 미러

  • 기술번호 : KST2015070231
  • 담당센터 :
  • 전화번호 :
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 실시예는 제1 방향에서 서로 마주보는 한 쌍의 제1 탄성체의 사이에 배치되는 미러; 상기 한 쌍의 제1 탄성체를 통하여 상기 미러와 연결되는 짐벌(gimbal); 제2 방향에서 서로 마주보는 한 쌍의 제2 탄성체를 통하여 짐벌과 연결되는 한 쌍의 앵커; 및 상기 제1 탄성체와 미러에 대응하여 제1 홈이 형성된 자성체를 포함하는 스캐닝 마이크로 미러를 제공한다.
Int. CL G02B 26/08 (2006.01.01) G02B 26/10 (2006.01.01) H04N 1/113 (2006.01.01) G02B 5/09 (2006.01.01) G02B 7/182 (2006.01.01) B81B 7/02 (2017.01.01)
CPC G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01) G02B 26/085(2013.01)
출원번호/일자 1020130000231 (2013.01.02)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-2014784-0000 (2019.08.21)
공개번호/일자 10-2014-0088400 (2014.07.10) 문서열기
공고번호/일자 (20191021) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.12.29)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안재용 대한민국 서울 서초구
2 이병구 대한민국 서울 서초구
3 정문기 대한민국 서울 서초구
4 최동준 대한민국 서울 서초구
5 정치환 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)
2 방해철 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2013-0002248-04
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2014.12.01 수리 (Accepted) 1-1-2014-1163790-73
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.12.29 수리 (Accepted) 1-1-2017-1311540-63
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.07.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.09.10 수리 (Accepted) 9-1-2018-0048134-01
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0818503-33
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.01.24 수리 (Accepted) 1-1-2019-0087398-76
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.01.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0087397-20
10 등록결정서
Decision to grant
2019.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0368499-94
11 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2019.09.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-5029287-07
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 방향에서 서로 마주보는 한 쌍의 제1 탄성체의 사이에 배치되는 미러;상기 한 쌍의 제1 탄성체를 통하여 상기 미러와 연결되는 짐벌(gimbal);제2 방향에서 서로 마주보는 한 쌍의 제2 탄성체를 통하여 짐벌과 연결되는 한 쌍의 앵커; 및상기 제1 탄성체와 미러에 대응하여 제1 홈이 형성된 자성체;를 포함하고,상기 자성체는상기 짐벌과 대응되는 영역을 사이에 두고 배치되는 제1 자성체와 제2 자성체로 구분되고,상기 제1 홈은상기 제1 자성체에 형성되는 것을 특징으로 하는 스캐닝 마이크로 미러
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제1 항에 있어서,상기 제2 탄성체와 대응하여 상기 제2 자성체에 형성된 제2 홈을 더 포함하는 스캐닝 마이크로 미러
5 5
제4 항에 있어서,상기 제1 홈의 깊이는 상기 제2 홈의 깊이와 동일한 스캐닝 마이크로 미러
6 6
제1 항에 있어서,상기 제1 방향과 제2 방향은 서로 수직인 스캐닝 마이크로 미러
7 7
제1 항에 있어서,상기 미러의 바닥면의 높이는 상기 제1 자성체의 윗면의 높이와 동일한 스캐닝 마이크로 미러
8 8
제1 항에 있어서,상기 제1 탄성체의 바닥면의 높이는 상기 제1 자성체의 윗면의 높이와 동일한 스캐닝 마이크로 미러
9 9
제1 항에 있어서,상기 짐벌의 바닥면의 높이는 상기 제2 자성체의 윗면의 높이와 동일한 스캐닝 마이크로 미러
10 10
제1 항에 있어서,상기 제2 탄성체의 바닥면의 높이는 상기 제 2자성체의 윗면의 높이와 동일한 스캐닝 마이크로 미러
11 11
제1 항에 있어서,상기 미러와 상기 제1 탄성체는 상기 제1 홈이 형성된 상기 자성체의 바닥면과 기설정된 간격 이격되어 배치되는 스캐닝 마이크로 미러
12 12
제4 항에 있어서,상기 제2 탄성체는 상기 제2 홈이 형성된 상기 제2 자성체의 바닥면과 기설정된 간격 이격되어 배치되는 스캐닝 마이크로 미러
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.