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태양 전지 및 그의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015070815
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요약 본 발명은 태양 전지 및 그의 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 태양 전지의 일례는 제1 도전성 타입의 불순물을 함유하는 기판; 기판의 전면에 위치하며, 제1 도전성 타입의 불순물과 반대인 제2 도전성 타입의 불순물을 함유하는 에미터부; 에미터부 위에 위치하는 보호막; 보호막 위에 위치하는 제1 반사 방지막; 제1 반사 방지막 위에 위치하는 도금 방지막; 기판의 전면 위에 위치하며, 보호막, 제1 반사 방지막 및 도금 방지막을 통과하여 에미터부에 연결되는 제1 전극; 및 기판의 전면과 반대면인 후면 위에 위치하며, 기판에 연결되는 제2 전극;을 포함하고, 도금 방지막은 비정질 실리콘(a-Si) 또는 비정질 실리콘 카바이드(a-SiC)를 포함할 수 있다.
Int. CL H01L 31/0216 (2014.01) H01L 31/042 (2014.01) H01L 31/18 (2006.01) H01L 31/0224 (2006.01)
CPC H01L 31/02168(2013.01) H01L 31/02168(2013.01) H01L 31/02168(2013.01) H01L 31/02168(2013.01) H01L 31/02168(2013.01) H01L 31/02168(2013.01)
출원번호/일자 1020130015705 (2013.02.14)
출원인 엘지전자 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0102786 (2014.08.25) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.11.14)
심사청구항수 24

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이유진 대한민국 서울 서초구
2 윤은혜 대한민국 서울 서초구
3 박상욱 대한민국 서울 서초구
4 심승환 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인로얄 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로 ***, *층(서초동,서일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.02.14 수리 (Accepted) 1-1-2013-0132249-10
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.11.14 수리 (Accepted) 1-1-2017-1132077-25
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.11.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0782990-66
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2019.01.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0071396-13
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 도전성 타입의 불순물을 함유하는 기판;상기 기판의 전면에 위치하며, 상기 제1 도전성 타입의 불순물과 반대인 제2 도전성 타입의 불순물을 함유하는 에미터부;상기 에미터부 위에 위치하는 보호막;상기 보호막 위에 위치하는 제1 반사 방지막;상기 제1 반사 방지막 위에 위치하는 도금 방지막;상기 기판의 전면 위에 위치하며, 상기 보호막, 상기 제1 반사 방지막 및 상기 도금 방지막을 통과하여 상기 에미터부에 연결되는 제1 전극; 및상기 기판의 전면과 반대면인 후면 위에 위치하며, 상기 기판에 연결되는 제2 전극;을 포함하고,상기 도금 방지막은 비정질 실리콘(a-Si) 또는 비정질 실리콘 카바이드(a-SiC)를 포함하는 태양전지
2 2
제1 항에 있어서,상기 보호막 및 상기 제1 반사 방지막은 상기 제1 전극이 통과되는 부분을 제외한 나머지 부분 중 일부분에서 상기 에미터부가 노출되는 블리스터(blister) 개구부를 포함하고,상기 보호막 및 상기 제1 반사 방지막의 상기 블리스터(blister) 개구부에 의해 노출되는 상기 에미터부 위에는 상기 도금 방지막이 접촉하는 태양전지
3 3
제1 항에 있어서,상기 도금 방지막의 두께는 상기 보호막 및 상기 제1 반사 방지막의 두께보다 얇은 태양전지
4 4
제3 항에 있어서,상기 도금 방지막의 두께는 1nm ~ 5nm 사이인 태양전지
5 5
제1 항에 있어서,상기 도금 방지막의 밴드갭 에너지는 상기 보호막 및 상기 제1 반사 방지막의 밴드갭 에너지보다 높은 태양전지
6 6
제5 항에 있어서,상기 도금 방지막의 밴드갭 에너지는 1
7 7
제1 항에 있어서,상기 보호막은 알루미늄 산화물(AlOx)를 포함하는 태양전지
8 8
제1 항에 있어서,상기 제1 반사 방지막은 실리콘 질화막(SiNx) 및 실리콘 산화막(SiOx) 중 적어도 하나를 포함하는 태양전지
9 9
제1 항에 있어서,상기 보호막의 두께는 상기 제1 반사 방지막의 두께보다 얇은 태양전지
10 10
제9 항에 있어서,상기 보호막의 두께는 5nm ~ 10nm 사이인 태양전지
11 11
제9 항에 있어서,상기 제1 반사 방지막의 두께는 80nm ~ 100nm 사이인 태양전지
12 12
제1 항에 있어서,상기 제1 전극은 도금 방식으로 형성되는 태양전지
13 13
제1 항에 있어서,상기 기판의 후면 위에는 제2 반사 방지막이 더 위치하는 태양전지
14 14
제13 항에 있어서,상기 제2 전극은 상기 제2 반사 방지막을 통과하여 상기 기판에 연결되는 태양전지
15 15
제1 항에 있어서,상기 에미터부는 제1 면저항값을 갖는 저농도 에미터 영역과 상기 제1 면저항값보다 낮은 제2 면저항값을 갖는 고농도 에미터 영역을 포함하고, 상기 제1 전극은 상기 고농도 에미터 영역에 접속하는 태양전지
16 16
제1 도전성 타입의 불순물을 함유하는 기판의 전면 위에 상기 제1 도전성 타입의 불순물과 반대인 제2 도전성 타입의 불순물을 함유하고, 전면저항 값을 갖는 저농도 에미터 영역을 포함하는 에미터부를 형성하는 단계;상기 에미터부 위에 보호막을 형성하는 단계;상기 보호막 위에 제1 반사 방지막을 형성하는 단계;상기 제1 반사 방지막 위에 도금 방지막을 형성하는 단계;상기 도금 방지막, 상기 보호막 및 상기 제1 반사 방지막의 일부분을 식각하여 상기 에미터부가 노출되는 제1 전극 패턴을 형성하는 단계;상기 에미터부가 노출된 상기 제1 전극 패턴에 도금 방식으로 제1 전극을 형성하는 단계; 및상기 기판의 후면 위에 제2 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 태양 전지 제조 방법
17 17
제16 항에 있어서,상기 제1 전극 패턴을 형성하는 단계는 레이저 빔을 조사하여 상기 도금 방지막, 상기 보호막 및 상기 제1 반사 방지막의 일부분을 식각하여 형성하는 태양 전지 제조 방법
18 18
제16 항에 있어서,상기 제1 반사 방지막 형성 단계에서의 공정 온도는 상기 보호막 형성 단계에서의 공정 온도보다 높은 태양 전지 제조 방법
19 19
제16 항에 있어서,상기 도금 방지막 형성 단계에서의 공정 온도는 상기 제1 반사 방지막 형성 단계에서의 공정 온도보다 낮은 태양 전지 제조 방법
20 20
제16 항에 있어서,상기 도금 방지막 형성 단계에서 공정 온도는 150℃ ~ 200℃ 사이인 태양 전지 제조 방법
21 21
제16 항에 있어서,상기 보호막 형성 단계에서 공정 온도는 150℃ ~ 250℃ 사이인 태양 전지 제조 방법
22 22
제16 항에 있어서,상기 제1 반사 방지막 형성 단계에서 공정 온도는 400℃ ~ 450℃ 사이인 태양 전지 제조 방법
23 23
제16 항에 있어서,상기 제1 전극 패턴을 형성하는 단계는 상기 도금 방지막 위에 제2 도전성 타입의 불순물을 함유하는 도펀트 페이스트를 도포하는 단계; 및 상기 레이저 빔으로 상기 도펀트 페이스트가 도포된 상기 도금 방지막에 레이저 빔을 조사하여 상기 제1 전극 패턴을 형성하는 단계;를 포함하는 태양 전지 제조 방법
24 24
제23 항에 있어서,상기 도펀트 페이스트가 도포된 상기 도금 방지막에 레이저 빔을 조사하여, 상기 제1 면저항값보다 낮은 제2 면저항값을 갖는 고농도 에미터 영역을 상기 저농도 에미터 영역의 일부분에 형성시키는 태양 전지 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.