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평판 표시 소자의 검사 장치 및 검사 방법

  • 기술번호 : KST2015071264
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요약 본 발명은 검사 접촉핀의 접촉 미스 불량을 저감할 수 있는 평판 표시 소자의 검사 장치 및 검사 방법을 제공하는 것이다.본 발명에 따른 평판 표시 소자의 검사 장치는 표시 패널 상에 형성된 다수의 검사 패드와 일대일 접촉하여 상기 다수의 검사 패드에 검사 신호를 공급하는 검사 접촉핀과, 상기 다수의 검사 패드들이 공통으로 접속되는 가이드 라인과 접촉하는 기준 접촉핀을 포함하는 프로브 유닛과; 상기 기준 접촉핀과 상기 검사 패드 사이에 형성되는 저항값을 측정하여 상기 검사 접촉핀과 상기 검사 패드의 접촉 불량을 판단하는 검사부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01R 31/28 (2006.01.01) G01R 1/073 (2006.01.01) G09G 3/00 (2006.01.01)
CPC G01R 31/2808(2013.01) G01R 31/2808(2013.01) G01R 31/2808(2013.01) G01R 31/2808(2013.01)
출원번호/일자 1020130051956 (2013.05.08)
출원인 엘지디스플레이 주식회사, 엘지전자 주식회사
등록번호/일자 10-2016076-0000 (2019.08.23)
공개번호/일자 10-2014-0132577 (2014.11.18) 문서열기
공고번호/일자 (20191021) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.04.05)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
2 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김기석 대한민국 경기 파주시 미래로 ***, **
2 김슬기 대한민국 경기 파주시 가람로***번길 ***,
3 황일한 대한민국 경기 평택시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박영복 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층(역삼동, 삼화빌딩)(특허법인 두성)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 서울특별시 영등포구
2 엘지전자 주식회사 서울특별시 영등포구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.05.08 수리 (Accepted) 1-1-2013-0407318-34
2 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2014.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-1253647-96
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.04.05 수리 (Accepted) 1-1-2018-0338753-68
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2018.10.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.11.09 수리 (Accepted) 9-1-2018-0060335-53
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0076637-83
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.03.25 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0301812-43
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.03.25 수리 (Accepted) 1-1-2019-0301813-99
10 등록결정서
Decision to grant
2019.06.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0427857-54
11 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2019.09.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-5029332-64
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
표시 패널 상에 형성된 다수의 검사 패드와 일대일 접촉하여 상기 다수의 검사 패드에 검사 신호를 공급하는 검사 접촉핀과, 상기 다수의 검사 패드들이 공통으로 접속되는 가이드 라인과 접촉하는 기준 접촉핀을 포함하는 프로브 유닛과;상기 기준 접촉핀과 상기 검사 패드 사이에 형성되는 저항값을 측정하여 상기 검사 접촉핀과 상기 검사 패드의 접촉 불량을 판단하는 검사부를 구비하고,상기 가이드 라인은 상기 표시 패널의 정전기를 제거하기 위해 도전층으로 형성되며 스크라이빙 공정시 제거되는 것을 특징으로 하는 표시 소자의 검사 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 검사부는 상기 측정된 저항값이 임계치 이상이면 불량 접촉으로 판단하고, 상기 측정된 저항값이 임계치 미만이면 정상 접촉으로 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 소자의 검사 장치
3 3
삭제
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 검사 접촉핀 및 기준 접촉핀은 니들형 핀 또는 포고형 핀으로 형성되는 것을 특징으로 하는 표시 소자의 검사 장치
5 5
다수의 검사 패드들과, 상기 다수의 검사 패드들이 공통으로 접속되는 가이드 라인이 형성된 표시 패널을 로딩하는 단계와;상기 표시 패널 상부에 다수의 검사 접촉핀들과 기준 접촉핀을 가지는 프로브 유닛을 정렬하는 단계와;상기 검사 패드와 상기 검사 접촉핀을 일대일 접촉시킴과 동시에 상기 가이드 라인과 기준 접촉핀을 접촉시키는 단계와;상기 기준 접촉핀과 상기 검사 패드 사이에 형성되는 저항값을 측정하여 상기 검사 접촉핀과 상기 검사 패드의 접촉 불량을 판단하는 단계를 포함하고,상기 가이드 라인은 상기 표시 패널의 정전기를 제거하기 위해 도전층으로 형성하며 스크라이빙 공정시 제거하는 것을 특징으로 하는 표시 소자의 검사 방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 검사 접촉핀과 상기 검사 패드의 접촉 불량을 판단하는 단계는상기 측정된 저항값이 임계치 이상이면 불량 접촉으로 판단하고, 상기 측정된 저항값이 임계치 미만이면 정상 접촉으로 판단하는 것을 특징으로 하는 표시 소자의 검사 방법
7 7
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.