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매립형레이저다이오드의제조방법

  • 기술번호 : KST2015073517
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음.
Int. CL H01S 5/227 (2006.01) H01S 5/30 (2006.01)
CPC H01S 5/227(2013.01) H01S 5/227(2013.01) H01S 5/227(2013.01)
출원번호/일자 1019890004512 (1989.04.06)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0050787-0000 (1992.04.14)
공개번호/일자 10-1990-0017243 (1990.11.15) 문서열기
공고번호/일자 1019910008439 (19911015) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1989.04.06)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김상배 대한민국 대전시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기통신공사 대한민국 서울특별시종로구
2 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전시유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1989.04.06 수리 (Accepted) 1-1-1989-0026761-23
2 특허출원서
Patent Application
1989.04.06 수리 (Accepted) 1-1-1989-0026760-88
3 출원심사청구서
Request for Examination
1989.04.06 수리 (Accepted) 1-1-1989-0026762-79
4 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1991.09.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1989-0013860-34
5 등록사정서
Decision to grant
1992.01.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1989-0013862-25
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

기판상에 활성층(7)과 클래드층(4)을 역메사(reverse mesa)형으로 형성하고 그 측면에 전류차단층(3,6)과 절연막(2)을 형성하며, 그 위에 전극(1)을 형성한 구조로된 매립형 레이저 다이오드의 제조방법에 있어서, 기판상에 상기 활성층(7)과 클래드층(4)을 1차 액상 에피 성장 시킨후 상기 클래드층(4)상에 SiO2 마스크선(8)을 형성하는 제1공정, 상기 SiO2 마스크선(8)을 마스크로하여 식각용액을 사용하여 식각해 내어 역메사 구조를 형성하는 제2공정, 상기 클래드층(4)을 선택적으로 식각하는 염산계의 식각용액을 사용하여 식각해 내어 상기 활성층(7)을 볼록 튀어나오게 하는 제3공정, 및 상기 활성층(7)의 볼록 튀어나온 부분을 2차 액상 결정 성장시에 자연스럽게 되녹임 되도록 하는 제4공정에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 활성층(7)과 클래드층(4)은 InGaAsP/InP계, GaAlAs/GaAs계, 및 InGaAs/InP계가 속한 III-V족 화합물 반도체 그룹중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 활성층(7)과 클래드층(4)은 HgCdTe/CdTe계, 및 PbSnTe계가 속한 II-VI족 화합물 반도체 그룹중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 제4공정은 상기 활성층(7)의 볼록 튀어나온 부분을 액상 에피층 성장용 흑연 보트의 구멍하나를 되녹임을 위한 용액에 할당하도록 하는 수행되는 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

5 5

제1항에 있어서, 상기 제4공정은 상기 활성층(7)의 볼록 튀어나온 부분을 상기 전류 차단층(3,6)의 성장을 위한 용액으로 되녹임을 동시에 행하도록 수행되는 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

6 6

기판상에 활성층(7)과 클래드층(4)을 역메사 형으로 형성하고, 그 측면에 전류차단층(3,6)과 절연막(2)을 형성하며, 그 위에 전극(1)을 형성한 구조로된 매립형 레이저 다이오드의 제조방법에 있어서, 기판상에 상기 활성층(7)과 클래드층(4)을 1차 액상 에피 성장시킨 후 상기 클래드층(4)상에 SiO2 마스크선(8)을 형성하는 제1공정, 상기 활성층(7)과 클래드층(4)을 역메사형으로 식각할때 상기 활성층(7)보다 상기 클래드층(4)의 식각속도가 빠른 식각용액을 사용하여 상기 활성층(7)을 볼록 튀어나오게 하는 제2공정, 및 상기 활성층(7)의 볼록 튀어나온 부분을 2차 액상 결정시에 자연스럽게 되녹임 되도록 하는 제3공정에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

7 7

제6항에 있어서, 상기 활성층(7)과 클래드층(4)은 InGaAsP/InP계, GaAlAs/GaAs계, 및 InGaAlAs/InP계가 속한 V족 화합물 반도체 그룹중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

8 8

제6항에 있어서, 상기 활성층(7)과 클래드층(4)은 HgCdTe/CdTe계, 및 PbSnTe계가 속한 II-VI족 화합물 반도체 그룹중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

9 9

제6항에 있어서, 상기 제3공정은 상기 활성층(7)의 볼록 튀어나온 부분을 액상 에피층 성장용 축연보트의 구멍하나를 되녹임을 위한 용액에 할당하도록 하여 수행되는 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

10 10

제6항에 있어서, 상기 제3공정을 상기 활성화(7)의 볼록 튀어나온 부분을 상기 전류차단층(3,6)의 성장을 위한 용액으로 되녹임을 동시에 행하도록 수행되는 것을 특징으로 하는 매립형 레이저 다이오드의 제조방법

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP02288288 JP 일본 FAMILY
2 US04994143 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2288288 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JPH02288288 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 US4994143 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.