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단결정실리콘기판상에화합물반도체층이형성된기판의제조방법

  • 기술번호 : KST2015073704
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음.
Int. CL H01L 21/3205 (2006.01)
CPC H01L 21/02543(2013.01) H01L 21/02543(2013.01) H01L 21/02543(2013.01) H01L 21/02543(2013.01) H01L 21/02543(2013.01)
출원번호/일자 1019910007962 (1991.05.16)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0072270-0000 (1994.03.28)
공개번호/일자 10-1992-0022452 (1992.12.19) 문서열기
공고번호/일자 1019930011909 (19931222) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.05.16)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강상원 대한민국 대전직할시중구
2 이경수 대한민국 대전직할시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1991.05.16 수리 (Accepted) 1-1-1991-0045992-12
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.05.16 수리 (Accepted) 1-1-1991-0045993-57
3 출원심사청구서
Request for Examination
1991.05.16 수리 (Accepted) 1-1-1991-0045994-03
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1993.08.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0017229-96
5 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1993.09.22 수리 (Accepted) 1-1-1991-0045995-48
6 의견서
Written Opinion
1993.09.22 수리 (Accepted) 1-1-1991-0045996-94
7 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1993.11.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0017230-32
8 등록사정서
Decision to grant
1994.03.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0017231-88
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

실리콘 기판의 제조방법에 있어서, 사진식각에 의해 화합물 반도체 기판(1) 상에 바둑판 모양으로 가로 및 세로로 다수의 메사구조의 홈(2)을 소정의 길이로 형성하는 단계와, 상기 다수의 홈(2)이 형성된 상기 화합물 반도체 기판(1) 상에 저온 실리콘 산화막(3)을 증착하여 상기 홈(2)을 채운 후 상기 저온 실리콘 산화막(3) 상에 기판 접착을 위한 접촉막(4)을 소정의 두께로 형성하고 상기 접촉막(4)의 표면을 연마하는 단계와, 표면으로서 상기 연마된 접촉막(4)을 갖는 상기 화합물 반도체 기판(1)을 뒤집어서 단결정 실리콘 기판(5)의 상면(6)과 상기 접촉막(4)을 접착시킨 다음 소정의 온도범위에서 열처리를 수행하는 단계와, 상기 화합물 반도체 기판(1)을 연마처리하여 화합물 반도체체층(1a)을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 기판상에 화합물 반도체층이 형성된 기판의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 화합물 반도체 기판(1)으로 2층 이상의 화합물 반도체 에피텍셜층이 형성된 기판을 사용하는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 기판상에 화합물 반도체층이 형성된 기판의 제조방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 접촉막(4)은 다결정 실리콘막으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 기판상에 화합물 반도체층이 형성된 기판의 제조방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 다수의 홈(2)내에 채워진 상기 저온 실리콘 산화막(3)이 열팽창시 응력 흡수층의 역할을 하는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 기판상에 화합물 반도체층이 형성된 기판의 제조방법

5 5

제1항에 있어서, 상기 접착 열처리 공정을 100 내지 1100℃의 온도 범위에서 수행하는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 기판상에 화합물 반도체층이 형성된 기판의 제조방법

6 6

제1항에 있어서, 상기 접착 열처리 공정을 1차로 300℃ 이하의 온도에서 수행하고, 2차로 100 내지 1100℃의 온도 범위에서 수행하는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 기판상에 화합물 반도체층이 형성된 기판의 제조방법

7 7

제1항에 있어서, 상기 단결정 실리콘 기판(5)과 접착되는 상기 화합물 반도체 기판(1) 상의 상기 접촉막(4)은 비결정 실리콘막으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 기판상에 화합물 반도체층이 형성된 기판의 제조방법

8 8

제1항에 있어서, 상기 다수의 홈(2)내에 채워진 상기 저온 실리콘 산화막(3)을 연마정지층으로 이용하여 상기 화합물 반도체 기판(1)을 식각하는 것에 의해 상기 화합물 반도체층(1a)을 형성하는 것을 특징으로 하는 단결정 실리콘 기판상에 화합물 반도체층이 형성된 기판의 제조방법

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1 JP06168860 JP 일본 FAMILY
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DOCDB 패밀리 정보

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1 JP2059275 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP6168860 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 JP7058675 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 JPH06168860 JP 일본 DOCDBFAMILY
5 JPH0758675 JP 일본 DOCDBFAMILY
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