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자기정렬된실리사이드전극을갖는단일다결정실리콘바이폴라소자의제조방법

  • 기술번호 : KST2015073713
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 정보의 고속처리를 요하는 시스템에 사용되는 바이폴라 소자구조 및 제조방법에 관한 것으로서, 종래의 바이폴라 소자의 구조는 다결정 실리콘 전극들간의 트렌치 격리영역을 정의하기 위한 측벽 질화막을 에미터다결정 실리콘 전극의 안쪽에 정의함으로써 공정 신뢰도 측면에서 두가지의 문제점을 가지고 있다.첫째로 P+다결정 실리콘의 선택적 건식식각을 위한 다결정 실리콘 산화막 성장시 다결정 실리콘 내에서의 붕소 역산화에 의한 베이스-컬렉터 접합 깊이의 불균일성 활성 및 비활성 베이스 영역을 형성하기 위한 붕소의 동시 주입 등을 베이스 접합깊이와 불순물 분포의 제어를 곤란하게 한다.둘째로 소자의 전체 크기를 결정하는 P+다결정 실리콘의 선행 정의는 각 전극간의 전기적 격리를 위한 다결정실리콘의 건식식각시 식각종점의 결정을 곤란하게 한다.또한 증착 산화막에 의한 트렌치 격리영역의 목구공정은 다결정 실리콘 에미터 표면의 손상을 가져올 수 있다. 본 발명은 각 다결정 실리콘 전극간의 트렌치 격리영역을 정의하기 위한 측멱 질화막을 에미터 다결정 실리콘전극의 바깥쪽으로 형성함으로써, 다결정 실리콘의 식각종짐의 결정을 용이하게 하고, 또한 에미터 다결정 실리콘 전극상에 질화막과 N+다결정 실리콘을 이용함으로써 트렌치 격리영역의 복구를 위한 증착산화막의 건식식각의 종점의 절정과 베이스 영역에서의 불순물 분포의 제어를 용이하게 하고, 또한 다결정 실리콘 전극상에 실리사이드가 선택적으로 자기 정렬되는 구조척 개선을 통하여 공정 신뢰도와 바이폴라 소자의 성능을 향상시키도록한 것이다.
Int. CL H01L 29/70 (2006.01)
CPC H01L 29/66234(2013.01) H01L 29/66234(2013.01)
출원번호/일자 1019910021081 (1991.11.25)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0084560-0000 (1995.05.04)
공개번호/일자 10-1993-0011282 (1993.06.24) 문서열기
공고번호/일자 1019950001147 (19950211) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.11.25)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김귀동 대한민국 대전직할시유성구
2 구진근 대한민국 대전직할시유성구
3 한태현 대한민국 대전직할시유성구
4 구용서 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기통신공사 대한민국 서울시종로구
2 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전광역시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1991.11.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116550-99
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.11.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116552-80
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.11.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116551-34
4 특허출원서
Patent Application
1991.11.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116549-42
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1994.06.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0055359-03
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1994.07.29 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116553-25
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1994.08.29 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116554-71
8 의견서
Written Opinion
1994.09.30 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116555-16
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1994.09.30 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116556-62
10 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1995.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0055360-49
11 등록사정서
Decision to grant
1995.05.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0055361-95
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
25 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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소자격리 산화막(23)의 보호를 위하여 산화막(23)상에 질화막(22)을 형성하고 질화막(22)위에는 에미터, 베이스, 컬렉터 전극을 형성하기 위하여 다결정 실리콘(1)을 증착하고, 다결정 실리콘(1) 위에는 다결정 실리콘 에미터 표면의 보호를 위하여 건식산소 분위기에서 완충 다결정 실리콘 산화막(2)을 성장하고 N+다결정 실리콘(4)의 습식식각의 종점을 제공하기 위하여 산화막(2)위에 질화막(3)을 증착하고 증착 산화막의 건식식각시 질화막(3)의 보호와 식각의 종점을 질화막(3)위에 N+다결정 실리콘(4)을 증착하는 제1공정과, 다결정 실리콘을 선택적으로 건식식각하기 위하여 다결정 실리콘(1),(4)상에 산화막(6)을 성장하여 사진식각 방법에 의해 소자의 전체 크기를 정의하는 제2공정과, 각 전극간의 트랜치 격리영역(7)과 다결정 실리콘 전극(8),(9),(10)들을 동시에 형성하고, 다결정 실리콘 산화막(6)을 제거한 후 건식산소분위기에서 산화막(11) 성장과 붕소 이온을 주입하여 비활성 및 활성베이스 영역간에 P+연결층과 트렌치격리 영역을 형성하는 제3공정과, 저온증착 산화막을 증착하여 N+다결정 실리콘(4)과 베이스 다결정 실리콘(8)의 표면이 노출될떼까지 건식식각하여 트렌치 격리 산화막(12)을 형성하고 N+다결정 실리콘(4)을 제거한 후 붕소의 도핑에 의하여 P++비활성 베이스 전극(25)을 형성하고 에미터 다결정 실리콘(9)내로 분순물의 선택적 이온 주입을 위하여 P++베이스 전극(25)상에 산화막(13)을 성장하여 트렌치 격리산화막과 P++베이스 다결정 실리콘 전극을 형성하는 제4공정과, 질화막(3)을 제거한 후 붕소와 비소를 이온주입하여 질소 분위기에서 열처리함으로써 소자의 확산층(14),(15),(16),(17)들을 최종적으로 형성하여 소자의 활성 영역을 형성하는 제5공정과, 다결정 실리콘 산화막(2),(13)들을 제거한 후 천이금속을 증착하고 질소 분위기에서 열처리에 의하여 천이금속을 실리사이드화한 후, 트렌치 격리산화막(12)상의 천이금속을 제거하여 각 다결정 실리콘 전극(25)(26)(27)상에 실리사이드층과 금속배선을 형성하는 제6공정에 의하여 자기정렬된 실리사이드 전극을 갖는 단일 다결정 실리콘 바이폴라 소자 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.