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수직컬렉터전극을갖는바이폴라소자구조및제조방법

  • 기술번호 : KST2015073714
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 정보의 고속처리와 신호의 선형성을 요하는 시스템에 적용될 수 있는 PSA바이폴라소자 제조방법에 관한 것으로서, 현재까지의 PSA바이폴라소자는 베이스와 컬렉터 전극이 자기정렬되지 않기 때문에 칩집적도의 향상과 기판 접합용량의 감소에 한계가 있으며, 비활성베이스 전극파 컬렉터 전극을 격리시키기 위한 산화막영역은 매몰층 면적의 증가를 초래하여 결과적으로 소자의 칩집적도와 스위칭속도를 저하시키는 등의 문제점이 있었다.본 발명은 자기정렬된 수직구조의 컬렉터전극을 형성함으로써 바이폴라 소자의 칩 집적도와 스위칭 속도를 향상시킬 수 있도록 바이폴라소자 제조방법을 제공하는 것이다.
Int. CL H01L 29/732 (2006.01)
CPC H01L 29/41708(2013.01) H01L 29/41708(2013.01)
출원번호/일자 1019910021082 (1991.11.25)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0080874-0000 (1994.12.28)
공개번호/일자 10-1993-0011272 (1993.06.24) 문서열기
공고번호/일자 1019940009362 (19941007) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.11.25)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김귀동 대한민국 대전직할시유성구
2 구진근 대한민국 대전직할시유성구
3 한태현 대한민국 대전직할시유성구
4 구용서 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
2 한국전기통신공사 대한민국 서울시종로구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1991.11.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116560-45
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.11.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116559-09
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.11.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116558-53
4 특허출원서
Patent Application
1991.11.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116557-18
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1994.07.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0055363-86
6 의견서
Written Opinion
1994.08.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116561-91
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1994.08.25 수리 (Accepted) 1-1-1991-0116562-36
8 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1994.09.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0055364-21
9 등록사정서
Decision to grant
1994.12.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0055365-77
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

P형 실리콘기판(0)상에 N+와 P 메몰층(1), (2)을 형성한 후 N형의 에피층(3)을 성장시키고, 선택적 산화막 성장과 실리콘 건식식각을 위하여 완충산화막(4)위에 질화막(5)과 산화막(6)을 증착한 후 미세형상방법에 의하여 컬렉터띠를 정의하는 제1공정과, 소자간의 격리를 제공하기 위하여 상기 N+메몰층(1)까지의 일부를 포함하여 에피층(3)을 건식식각한 후 컬렉터 격리 산화막(10)을 성장시키는 제2공정과, N+ 컬렉터 전극띠를 형성하기 위하여 질화막(5)위에 1차 다결정 실리콘(12)을 증착한 후 인(POCL3)을 도핑하고 다시 다결정 실리콘(12)위에 2차 다결정 실리콘(15)을 증착하여 고온 열처리하는 공정과, N+ 다결정 실리콘 컬렉터 전극(20)의 표면을 평탄화 하기 위하여 감광막(18)을 도포한 후 질화막(5)이 노출될때까지 감광막(18)과 N+ 다결정 실리콘(12), (15)을 건식식각하는 제3공정과, 절연을 위하여 상기 컬렉터 전극(20) 상부에 다결정 실리콘 산화막(23)을 성장시키는 제4공정과, 다결정 실리콘 산화막(23)위에 질화막(25)을 증착한 후 미세형상 방법에 의하여 질화막(25), 산화막(4), N형 에피층(3)의 일부를 건식식각하는 제5공정과, 피일드 산화막의 수평성장을 지연시키기위하여 노출된 실리콘 표면에 건식산화막(27)을 성장시킨 후 측벽다결정 실리콘(28)을 형성하는 제6공정과, 소자간의 격리를 최종적으로 실현시키기 위하여 피일드 산화막(29)을 성장한 후 질화막(25)과 완충산화막(4)을 제거하는 제7공정과, 에미터와 베이스 전극을 정의하기 위하여 에미터(50)와 베이스의 전극(52)이 되는 다결정 실리콘, 비활성 베이스 확산원으로 사용되는 BSG(33), 선택적 건식식각을 위한 다결정 실리콘(40)을 차례로 증착한 후 미세형상 방법에 의하여 에미터와 베이스 전극을 정의한 후 측벽질화막(45)과 다결성 실리콘(46)을 형성하는 제8공정과, 산화막을 증착하여 에미터 다결정 실리콘(50)의 표면에 노출될때까지 증착산화막을 건식식각하여 에미터와 베이스 다결정 실리콘 전극(50), (52)간의 전기적 절연 산화막(55)을 형성하는 제9공정과, 에미터 다결정 실리콘(50)을 통한 붕소 이온주입과 열처리를 통하여 진성 베이스영역(57)과 비활성 베이스영역(58)을 형성하고, 에미터영역(60)은 에미터 다결정 실리콘(50)내로 비소를 이온주입하여 열처리하여 최종적으로 PSA 바이폴라 소자가 형성되는 제10공정에 의한 수직 컬렉터 전극을 갖는 바이폴라 소자 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.