맞춤기술찾기

이전대상기술

다결정실리콘을이용한바이폴라소자의제조방법

  • 기술번호 : KST2015073798
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음.
Int. CL H01L 29/735 (2006.01)
CPC H01L 29/66234(2013.01) H01L 29/66234(2013.01) H01L 29/66234(2013.01)
출원번호/일자 1019910012523 (1991.07.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0068239-0000 (1993.12.03)
공개번호/일자 10-1993-0003412 (1993.02.24) 문서열기
공고번호/일자 1019930008901 (19930916) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.07.22)
심사청구항수 7

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한태현 대한민국 대전직할시유성구
2 김귀동 대한민국 대전직할시유성구
3 구용서 대한민국 대전직할시유성구
4 구진근 대한민국 대전직할시유성구
5 김영민 대한민국 대전직할시서구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1991.07.22 수리 (Accepted) 1-1-1991-0070658-53
2 특허출원서
Patent Application
1991.07.22 수리 (Accepted) 1-1-1991-0070656-62
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.07.22 수리 (Accepted) 1-1-1991-0070657-18
4 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1993.08.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0030624-78
5 등록사정서
Decision to grant
1993.11.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0030625-13
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

에미터 다결정 실리콘을 먼저 형성하고 측면 산화막으로 격리층을 형성한 후 베이스 다결정 실리콘을 적층하는 바이폴라 소자의 제조방법에 있어서, 집적도를 개선하고 콜렉터와 기판 사이의 접합용량을 줄이기 위해 트렌치를 이용하여 소자를 접지 및 격리 시키는 제 1 공정과, 활성 베이스(16)를 형성하기 위해 에미터 다결정 실리콘(9)에 불순물을 이온 주입하고 제 2 질화막(10)과 제 3 산화막(11) 및 제 3 질화막(12)을 차례로 적층한 후 소자의 활성영역 및 에미터 다결정 실리콘(9)을 정의하는 제 2 공정과, 에미터와 비활성 베이스를 격리시키기 위하여 제 2 측면 산화막(13)과 측면 질화막(14)을 차례로 형성하고 비활성 베이스폭을 줄이기 위해 열산화막(15)을 성장시키는 제 3 공정과, 이중 포토레지스트(19,20)를 이용하여 평탄화 한 후 상기 에미터 다결정 실리콘(9) 상부의 베이스 다결정 실리콘(17)부분을 제거하기 위하여 상기 에미터 다결정 실리콘(9) 상부의 상기 베이스 다결정 실리콘(17)이 노출될때까지 상기 포토레지스터(19,20)와 제 4 산화막(18)을 식각하고 다시 노출된 상기 베이스 다결정 실리콘(17)과 상기 제 3 산화막(11)을 차례로 식각하는 제 4 공정과, 상기 제 2 질화막(10)을 마스크 층으로 하여 상기 베이스 다결정 실리콘(17)을 산화시켜 제 5 산화막(21)을 형성한 다음 상기 제 2 질화막(10)을 제거하고 상기 에미터 다결정 실리콘(9)에 비소를 이온주입한 후 고온 급속 열처리 방법으로 얕은 에미터와 베이스 접합을 형성하는 제 5 공정 및, 베이스와 콜렉터 접점을 정의하여 제 4 산화막(18)을 제거한 후 금속층(23)을 스퍼터링(sputtering)하고 필요없는 부분을 제거하여 배선을 형성하는 제 6 공정으로 구성됨을 특징으로 하는 다결정 실리콘을 이용한 바이폴라 소자의 제조방법

2 2

제 1 항의 제 1 공정에 있어서, 소자격리 및 접지를 동시에 하기 위하여 트렌치에 500Å 두께의 다결정 실리콘(5a)을 적층하고 920℃에서 상기 다결정 실리콘(5a)에 보론(boron)을 도핑한 후 상기 다결정 실리콘(5a) 상에 다시 9000Å 두께의 다결정 실리콘(5)을 적층하고 925℃ 온도에서 열처리 함을 특징으로 하는 다결정 실리콘을 이용한 바이폴라 소자의 제조방법

3 3

제 1 항의 제 2 공정에 있어서, 활성베이스(16)를 형성하기 위해 에미터 다결정 실리콘(9)에 주입하는 불순물로 보론을 사용하고 제 2 질화막(10)의 두께는 1000Å이고, 제 3 산화막(11)의 두께는 1000Å이며, 제 3 질화막(12)의 두께는 1500Å로 하여 LPCVD방법으로 적층함을 특징으로 하는 다결정 실리콘을 이용한 바이폴라 소자의 제조방법

4 4

제 1 항의 제 3 공정에 있어서, 측면 질화막(14)의 두께를 조절하여 비활성 베이스 영역의 크기를 줄임으로써 소수 캐리어 축적에 의한 동작속도의 감소를 방지하는 것을 특징으로 하는 다결정 실리콘을 이용한 바이폴라 소자

5 5

제 1 항의 제 4 공정에 있어서, 에미터 다결정 실리콘(9) 상부의 베이스 다결정 실리콘(17)을 제거하기 위해 1㎛ 두께의 제 4 산화막(18)을 LPCVD방법으로 적층하고, 1㎛ 두께의 1차 포토레지스트(19)를 도포한 후 사진식각법으로 에미터 상부의 포토레지스트를 제거한 다음 점도가 낮은 2차 포토레지스트(20)를 다시 도포하고 160℃에서 열처리 하여 표면을 평탄화 시킴을 특징으로 하는 다결정 실리콘을 이용한 바이폴라 소자

6 6

제 1 항의 제 4 공정에 있어서, 에미터 다결정 실리콘(9) 상부의 베이스 다결정 실리콘(17)을 제거하기 위하여 포토레지스트(19,20) 보다 제 4 산화막(18)의 식각비를 크게하여 베이스 다결정 실리콘(17)이 노출될때까지 건식식각 한 후 제 3 산화막(11)이 노출될때까지 에미터 상부의 상기 베이스 다결정 실리콘(17)을 건식식각하고 이어서 제 3 산화막(11)을 습식식각함을 특징으로 하는 다결정 실리콘을 이용한 바이폴라 소자의 제조방법

7 7

제 1 항의 제 5 공정에 있어서, 상기 에미터 다결정 실리콘(9) 상에 상기 제 2 질화막(10)을 마스크로 하여 노출된 상기 베이스 다결정 실리콘(17)을 습식산화하여 제 5 산화막(21)을 성장시킴으로써 활성영역 상에 에미터 접점을 형성함을 특징으로 하는 바이폴라 제조방법

지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP02500831 JP 일본 FAMILY
2 JP02500831 JP 일본 FAMILY
3 JP07142500 JP 일본 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2500831 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP7142500 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 JPH07142500 JP 일본 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.