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기판접합법을이용하여소자격리한동종접합및이종접합쌍극자트랜지스터장치의제조방법

  • 기술번호 : KST2015073887
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 내용 없음
Int. CL H01L 21/331 (2006.01) H01L 29/73 (2006.01)
CPC H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01)
출원번호/일자 1019910024508 (1991.12.26)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0079467-0000 (1994.11.22)
공개번호/일자 10-1993-0015052 (1993.07.23) 문서열기
공고번호/일자 1019940007656 (19940822) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1991.12.26)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 염병렬 대한민국 대전직할시중구
2 강상원 대한민국 대전직할시중구
3 이경수 대한민국 대전직할시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1991-0133763-50
2 출원심사청구서
Request for Examination
1991.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1991-0133762-15
3 특허출원서
Patent Application
1991.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1991-0133761-69
4 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1991.12.26 수리 (Accepted) 1-1-1991-0133764-06
5 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1994.07.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0064510-13
6 등록사정서
Decision to grant
1994.11.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1991-0064511-58
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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P+형 규소기판(30)상에 규소층(31, 32)을 순차 형성하고, 이 규소층을 식각하여 소자영역을 정의한 다음 절연막(33)을 도포하는 공정과, 상기 소자영역에 다결정규소(34)를 도포 및 평탄화한 다음 다른 P형 규소기판(35)과 접합하는 공정과, 상기 절연막(33)의 표면까지 상기 규소층(31)을 연마하고 아울러 상기 규소층(32)의 일부에 불순물 이온주입으로 금속접촉시키기 위한 연결부분(36)을 형성함과 동시에 그위에 절연막(37), 다결정규소(38) 및 절연막(39)을 순차 형성하는 공정과, 이어 식각공정으로 소자의 활성영역을 정의하고, 상기 절연막(37)의 측면에 흠을 형성한 다음 다결정규소를 도포 및 열산화하는 공정과, 상기 열산화된 다결정규소를 제거한 다음 이 위에 성장된 베이스박막(42)과 다결정규소를 동시에 식각하고 아울러 절연막(43, 44)을 순차 형성하는 공정과, 상기 절연막(43, 44)을 식각하여 에미터영역을 형성하는 공정과, 상기 절연막(43, 44)을 제거한 다음 상기 컬렉터의 연결부분(36)과 금속이 접촉될 부분을 식각으로 형성하는 공정과, 이어 다결정규소(45)를 증착한 다음 마스크로 에미터 다결정규소와 컬렉터 다결정규소를 동시에 정의하는 공정과, 접점을 형성한 다음 금속(47)을 증착하는 공정을 포함하는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 에미터 다결정규소 및 컬렉터 다결정규소를 정의하는 공정에서 다결정규소(45)를 증착하기 전에, 선택적 결정박막 성장법을 사용하여 규소결정박막을 성장하여 에미터를 형성하는 공정을 부가하는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.