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저온절연막을이용한게이트금속의형성방법

  • 기술번호 : KST2015073917
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 ECR절연막의 수평성장을 이용한 게이트 금속의 형성방법에 관한 것으로서, 종래의 게이트 주변의 알루미늄 갈륨비소 표면에서 생기는 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명에서는 T형 금속게이트 감광막(5,6)의 형성공정(가)과, 저온절연막(8)을 전면에 증착하는 공정(나)과, 건식식각에 의한 절연막의 되식각 공정(다)과, 상기 공정(다)의 형상을 이용한 리쎄스 식각된 부분(7)을 형성하는 공정(라)과, 게이트 금속(9)을 증착하는 공정(마)과, 리프트 오프 방법에 의해서 짧은 T형 게이트(9a)를 형성하는 공정(바)를 제공함으로써 게이트 금속실이를 짧게하여 소자의 성능을 향상시키고 게이트 주변의 알루미늄 갈륨비소 표면에서 생기는 문제점을 해결하고, 소자의 신뢰도를 향상시켜 경제성을 개선시킬 수 있다.
Int. CL H01L 21/336 (2006.01)
CPC H01L 21/28114(2013.01) H01L 21/28114(2013.01) H01L 21/28114(2013.01)
출원번호/일자 1019930027216 (1993.12.10)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0126556-0000 (1997.10.16)
공개번호/일자 10-1995-0021255 (1995.07.26) 문서열기
공고번호/일자 1019970011618 (19970712) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1993.12.10)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이진희 대한민국 대전직할시유성구
2 박철순 대한민국 대전직할시유성구
3 박형무 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1993.12.10 수리 (Accepted) 1-1-1993-0137485-24
2 특허출원서
Patent Application
1993.12.10 수리 (Accepted) 1-1-1993-0137484-89
3 출원심사청구서
Request for Examination
1993.12.10 수리 (Accepted) 1-1-1993-0137486-70
4 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1994.02.22 수리 (Accepted) 1-1-1993-0137487-15
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1997.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0064041-70
6 협의통지서
Notice of Consultation
1997.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0064042-15
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1997.03.19 수리 (Accepted) 1-1-1993-0137489-17
8 의견서
Written Opinion
1997.03.19 수리 (Accepted) 1-1-1993-0137488-61
9 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.21 수리 (Accepted) 1-1-1993-0137490-53
10 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1997.06.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0064043-61
11 등록사정서
Decision to grant
1997.10.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0064044-17
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

반절연성 갈륨비소 기판(1) 위에 2차원 전자 가스층(2)을 형성하고, 그 위에 식각정지용 알루미늄 갈륨비소층(3)을 형성하고, 그 위에 소자의 저항을 줄이기 위해 도핑된 갈륨비소층(4)을 성장한 기판 위에 1차 감광막(5) 및 2차 감광막(6)을 각각 차례로 도포 및 열처리한 후 소정 리소그라피 기술에 의해서 상기 감광막(5,6)에 원하는 T형 게이트 형상을 만드는 공정(가)과, 상기 공정(가)의 형상에 의해 노출된 상기 도핑된 갈륨비소층(4)을 식각하여 리쎄스 식각된 부분(7)을 형성하는 공정(나)과, ECR 방법에 의해서 상기 공정(나)에 의한 형상의 전면에 저온 절연막(8)을 증착하는 공정(다)과, 상기 저온 절연막(8)을 수평방향으로 되식각하여 남은 측면 절연막(8a,8b)를 형성한 공정(라)과, 상기 공정(라)위에 증착에 의해서 게이트 금속(9)을 형성하는 공정(마)과, 리프트 오프 방법에 의해서 T형 게이트(9a)의 길이가 상기 공정 (가) 및 (나)에서 형성된 T형 게이트 형상의 길이보다 상기 저온 절연막(8)층의 두께의 2배만큼 짧아진 게이트 금속을 형성하는 공정(바)를 포함하는 것을 특징으로 하는 저온 절연막을 이용한 게이트 금속의 형성법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.