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상향구조바이폴라트랜지스터및그제조방법

  • 기술번호 : KST2015073971
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 좁은 폭을 갖는 진성 베이스영역을 N+ 매몰층에 접합시킨것으로써 상향동작 특성과 하향동작 특성을 대등하게 하는 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, 에미터와 베이스 및 컬떽터층을 형성하는 단계와, 소자간의 전기적 절연을 제공하는 트렌치 격리를 형성하는 단계와, 필드산화막을 형성하는 단계와. N+단결정 실리콘 전극과 컬렉터 영역을 정의하는 단계와, 베이스 접점영역을 정의하는 단계 및 베이스 전극 및 금속 배선을 형성하는 단계를 포함하는 것이 특징이다.
Int. CL H01L 29/70 (2006.01)
CPC H01L 29/73(2013.01) H01L 29/73(2013.01) H01L 29/73(2013.01)
출원번호/일자 1019920009982 (1992.06.09)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티, 재단법인한국전자통신연구소
등록번호/일자 10-0089981-0000 (1995.10.09)
공개번호/일자 10-1994-0001438 (1994.01.20) 문서열기
공고번호/일자 1019950007348 (19950710) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1992.06.09)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전광역시 유성구
3 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김귀동 대한민국 대전직할시유성구
2 구용서 대한민국 대전직할시유성구
3 한태현 대한민국 대전직할시유성구
4 구진근 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1992.06.09 수리 (Accepted) 1-1-1992-0055140-53
2 출원심사청구서
Request for Examination
1992.06.09 수리 (Accepted) 1-1-1992-0055143-90
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.06.09 수리 (Accepted) 1-1-1992-0055142-44
4 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.06.09 수리 (Accepted) 1-1-1992-0055141-09
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1993.12.17 수리 (Accepted) 1-1-1992-0055144-35
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1995.02.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0017811-94
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1995.03.07 수리 (Accepted) 1-1-1992-0055145-81
8 의견서
Written Opinion
1995.03.07 수리 (Accepted) 1-1-1992-0055146-26
9 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1995.06.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0017812-39
10 등록사정서
Decision to grant
1995.09.29 발송처리중 (Ready to be dispatched) 1-5-1992-0017813-85
11 등록사정서
Decision to grant
1995.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0017814-20
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
23 출원인정보변경(경정)신고서
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2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
25 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

바이폴라 트랜지스터 소자에 있어서, 실리콘 기판(1)상에 n+매몰층(2)으로 형성되는 에미터와 ; 상기 n+매몰층(2)상에 성장되어진 폴리실리콘층(3)을 베이스로 하고, 상기 폴리실리콘층(3)상에 순차적으로 성장되는 n- 에피택셜층(4)과 완충산화막(5)과 질화막(6) 및 저온증착 산화막(7)과 ; 상기 실리콘 기판(1)상에 성장되어 있는 각 성장층을 식각하여 형성되어진 트랜치면에 도포되어 성장되는 격리산화막(8)과 ; 활성영역이 상기 산화막과 실리콘의 계면이 n+매몰층(2)에 위치하도록 선택적으로 성장되는 필드산화막(9)과 ; N+다결정 실리콘(10)과 실리사이드막(11)과 저온증착 산화막(12) 및 다결정 실리콘층(13)을 순차적으로 성장시킨 후 형성된 각 성장층들(13~14)을 선택적으로 식각하여 형성되어진 N+다결정 실리콘 전극 및 컬렉터와, 상기 컬렉터와 베이스간의 자기정렬된 전기적 절연을 제공하는 측벽산화막(14)을 성장시킨 후 N-실리콘층(4)을 n+매몰층(2)이 노출될 때까지 선택적으로 식각하고 상기 에미터와 베이스간의 자기정렬된 전기적 절연을 제공하기 위해 측벽질화막(15)을 형성한 후 상기 측벽질화막(15)을 선택적으로 식각함으로써 형성되어진 베이스 접점영역(17)과 ; P+다결정 실리콘층(18)과 실리사이드막(19)을 성장시켜 형성되어진 베이스 전극 ; 및 접촉개구에 알루미늄 도포를 수행함으로써 형성되는 금속배선을 포함하여 에미터-베이스 전극 및 베이스-컬렉터 전극이 자기정렬되고 진성 베이스영역이 n+매몰층(2)상에 접합된 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 상향구조 바이폴라 트랜지스터

2 2

바이폴라 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 실리콘 기판(1)상에 에미터가 되는 n+매몰층(2)을 형성하고 베이스가 되는 폴리실리콘층(3)을 성장시키는 제1공정과 ; 상기 제1공정에서 형성된 폴리실리콘층(3)상에 추후 형성될 컬렉터와 상기 에미터간의 항복전압을 제어하기 위한 n- 에피택셜층(4)을 성장시킨 후 차기 공정들을 위한 완충산화막(5), 질화막(6) 및 저온증착 산화막(7)을 순차로 성장시키는 제2공정과 ; 상기 제1공정과 제2공정을 통하여 성장된 각 성장층을 미세형상 방법에 의하여 트랜치를 정의한 후 상기 실리콘 기판(1)이 노출될 때까지 건식식각 방법에 의해 순차로 식각하여 트랜치를 형성하는 제3공정과 ; 상기 제3공정에서 형성되어진 트랜치면에 산화막을 도포하고 평탄화시켜 트랜치 격리산화막(8)을 성장시키는 제4공정과 ; 활성영역을 정의한 후 산화막과 실리콘의 계면이 n+매몰층(2)에 위치하도록 필드산화막(9)을 선택적으로 성장시키는 제5공정과 ; 상기 제5공정까지 완료되어진 웨이퍼상에 N+다결정 실리콘(10), 실리사이드막(11), 저온증착 산화막(12) 및 다결정 실리콘층(13)을 순차적으로 성장시킨 후 형성된 각 성장층들(13~14)을 선택적으로 식각하여 N+다결정 실리콘 전극과 컬렉터 영역을 형성시키는 제6과정과 ; 상기 컬렉터와 베이스간의 자기정렬된 전기적 절연을 제공하는 측벽산화막(14)을 성장시킨 후 N-실리콘층(4)을 n+매몰층(2)이 노출될 때까지 선택적으로 식각하고 상기 에미터와 베이스간의 자기정렬된 전기적 절연을 제공하기 위해 측벽질화막(15)을 형성한 후 상기 측벽질화막(15)을 선택적으로 식각함으로써 베이스 접점영역(17)을 형성하는 제7공정 ; 및 P+다결정 실리콘층(18)과 실리사이드막(19)을 형성한 후 평탄화 공정과 미세형상 공정에 의하여 베이스 전극을 형성하고 이후 형성되는 접촉개구에 알루미늄 도포공정과, 미세형상 공정 및 열처리 공정을 순차로 수행함으로써 금속배선을 형성하는 제8공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 상향구조 바이폴라 트랜지스터의 제조방법

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP02524079 JP 일본 FAMILY
2 JP06069219 JP 일본 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2524079 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP6069219 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 JPH0669219 JP 일본 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.