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이종접합쌍극자트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015073981
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 고속 정보 처리 시스템에 사용 가능한 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법에 관한 것으로서, 종래에 다결정규소박막을 베이스 전극으로 사용하는 이종접합 소자는 베이스의 기생저항이 소자활성 영역내의 베이스저항보다 훨씬 커서 소자의 속도성능 향상에 한계가 있다는 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명에서는 컬렉터용 규소결정박막(41,42)을 형성한 후, 국부적으로 절연막(43)을 형성하고, 컬렉터를 금속접촉시키기 위한 연결부분(44)을 형성한 다음, 베이스 박막(45), 베이스 전극용 박막(46)을 형성하는 공정(a)과, 상기 베이스 전극용 박막(46)을 식각하고 절연막(47)을 도포한 다음 박막(45,46,47)을 식각하는 공정(b)과, 베이스 전극부분을 격리시키기 위해서 측면절연막(48)을 도포하고 식각하는 공정(c)과, 상기 절연막(47)을 식각하여 에미터영역을 정의하고, 에미터 박막(49)을 형성하는 공정(d)과, 이 공정(d)에 소자를 보호하는 절연막(50)을 도포하고 금속접촉영역을 정의하기 위해 상기 절연막(47)과 (50)을 식각하는 공정(e)을 제공함으로써, 금속성 박막을 베이스 전극으로 사용하며 소자의 공정을 간단화함으로써 초고집적화가 가능하여 고속컴퓨터, 통신기기등의 정보처리 시스템에서 유용하게 이용될 수 있다.
Int. CL H01L 27/082 (2006.01)
CPC H01L 29/66242(2013.01) H01L 29/66242(2013.01) H01L 29/66242(2013.01) H01L 29/66242(2013.01)
출원번호/일자 1019930026311 (1993.12.03)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0128038-0000 (1997.10.28)
공개번호/일자 10-1995-0021715 (1995.07.26) 문서열기
공고번호/일자 (19980402) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1993.12.03)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 염병렬 대한민국 대전직할시유성구
2 조덕호 대한민국 대전직할시유성구
3 한태현 대한민국 대전직할시유성구
4 이수민 대한민국 대전직할시유성구
5 권오준 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
3 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1993.12.03 수리 (Accepted) 1-1-1993-0133297-54
2 출원심사청구서
Request for Examination
1993.12.03 수리 (Accepted) 1-1-1993-0133298-00
3 특허출원서
Patent Application
1993.12.03 수리 (Accepted) 1-1-1993-0133296-19
4 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1994.02.21 수리 (Accepted) 1-1-1993-0133299-45
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1994.10.12 수리 (Accepted) 1-1-1993-0133300-15
6 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.03.12 수리 (Accepted) 1-1-1993-0133301-50
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1997.05.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0061534-52
8 의견서
Written Opinion
1997.07.07 수리 (Accepted) 1-1-1993-0133302-06
9 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.07.28 수리 (Accepted) 1-1-1993-0133303-41
10 등록사정서
Decision to grant
1997.10.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1993-0061535-08
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

컬렉터용 규소박막층(41)과 (42)를 형성한 후, 그 위에 활성영역과 비활성영역을 격리시키기 위해서 국부적으로 절연막(43)을 형성하고, 컬렉터를 금속접촉시키기 위한 연결부분(44)을 불순물 주입에 의해서 형성하고, 이 위에 베이스 박막(45), 베이스전극용 박막(46)을 형성하는 공정(a)과, 상기 베이스 전극용 박막(46)을 식각하고 그 위에 절연막(47)을 도포한 다음, 상기 절연막(43)의 소정부분으로부터 우측에 형성되어 있는 상기 베이스 박막(45), 베이스 전극용 박막(46), 절연막(47)을 순서적으로 식각하는 공정(b)과, 상기 베이스 전극용 박막(46)인 베이스 전극부분을 격리시키기 위해서 측면절연막(48)을 도포한 후 비등방성 식각으로 상기 측면절연막(48)을 형성하는 공정(c)과, 상기 절연막(47)을 식각하여 에미터 영역을 정의한 다음, 에미터 박막(49)을 형성하고, 상기 컬렉터를 금속 접촉시키기 위한 연결부분(44)위에 상기 에미터 박막(49)을 형성하여 불순물 이온을 에미터 박막에 주입한 후 식각하는 공정(d)과, 상기 (d) 공정에 소자를 보호하기 위해 절연막(50)을 도포하고, 금속접촉영역을 정의하기 위해서 상기 절연막(47,50)을 식각하는 공정(e)과, 상기 공정(e)에서의 금속접촉영역에 금속(51)을 증착하고 마스크로 하여 배선을 정의해서 금속(51)을 식각하는 공정(f)이 포함되는 것을 특징으로 하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 공정(a)에서 베이스박막(45)으로 규소저매늄 단일층이나 규소와 규소저매늄으로 된 다층구조박막을 사용하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 공정(d)에서 에미터를 형성하기 위해서 단결정 반도체 박막(52)과 다결정 반도체 박막(53)을 부가하는 공정(h)을 포함하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

4 4

제3항에 있어서, 상기 에미터를 형성하기 위해서 분자선 에피택시(MBE), 화학선 에피택시(CBE), 화학기상증착(CVD)등의 결정박막성장법을 이용하는 것을 특징으로 하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

5 5

제1항에 있어서, 상기 공정(a∼b)같이 베이스 전극용 박막(46)을 소자의 활성영역상에 형성한 후 식각하는 것을 특징으로 하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

6 6

제1항에 있어서, 상기 공정(a∼d)과 같이 베이스 전극용 박막(46)과 에미터 박막(49)을 격리시키는 것을 특징으로 하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

7 7

제1항에 있어서, 상기 공정(c)에 측면절연막(48)을 형성하지 않는 대신 공정(g)을 사용하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

8 8

제1항에 있이서 상기 공정(c)의 절연막(47) 대신에 산화규소막/질화막/다결정 규소박막을 순서적으로 형성하고 식각하여 에미터 영역을 정의하는 것을 특징으로 하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

9 9

제1항에 있어서, 상기 공정(c)의 절연막(47) 대신에 산화규소막/질화막/다결정 규소박막을 순서적으로 형성하고 식각하여 에미터 영역을 정의하는 것을 특징으로 하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

10 10

제1항에 있어서, 상기 공정(d)의 에미터박막(49)은 사용하고 컬렉터(44)상의 에미터박막(49)을 사용하지 않는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

11 11

제1항에 있어서, 상기 공정(d)의 에미터박막(49)에 불순물을 에미터박막(49)도포와 동시에 주입하거나, 도포후 주입하는 것을 특징으로 하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

12 12

제1항에 있어서, 상기 공정(d)의 에미터박막(49)을 도포하지 않고 이온 주입으로 에미터를 형성한 후 금속(51)과 접촉시키는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

13 13

제1항에 있어서, 상기 공정(d)의 에미터박막(49)을 도포하기 전에 이온 주입으로 에미터를 형성한 후 에미터박막(49)를 도포하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

14 14

제1항에 있어서, 상기 공정(a)의 베이스전극용 박막(46)을 금속성 실리사이드 대신에 단결정이나 다결정규소박막으로 된 단일층구조나 혹은 단결정규소박막과 다결정규소박막의 다층구조를 사용하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

15 15

제1항에 있어서, 상기 공정(a)의 베이스전극용 박막(46)을 금속실리사이드단일층 구조 대신 다층구조를 사용하는 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
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국가 R&D 정보가 없습니다.