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초미세게이트화합물반도체소자의제조방법

  • 기술번호 : KST2015073995
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 갈륨비소를 기판으로 사용하는 각종 화합물 반도체 소자의 제조방법에 관한 것으로서, 화합물 반도체 기판(1)을 준비하는 공정과, 상기 반도체 기판(1)상에 유전체 박막(2)을 형성하는 공정과, 상기 유전체 박막(2) 상에 도포 및 감광막(3)을 식각하여 역메사 패턴의 식각된 부분을 갖는 공정과, 상기 역메사 패턴에 의해 노출된 상기 유전체 박막(2)을 상기 기판(1)에 대해 소정 각도로 경사되게 식각하는 공정과, 전자빔 가열방식을 이용하여 상기 식각공정과는 반대되는 방향의 경사각으로 상기 감광막(3)상에 게이트 금속(6)을 형성하되, 상기 역메사 패턴에 있어서 노출된 기판(1) 상에 역메사 구조의 게이트(7)가 형성하는 공정과, 게이트 금속(6)과 감광막(3) 및 유전체 박막(2)을 차례로 식각하여 상기 기판(1)에 형성된 역메사 구조의 게이트(7)만 남게 하는 공정과, 상기 기판(1) 상에 도포된 소정 패턴의 감광막(3a)에 의해 오믹금속(8)을 형성하는 소스전극(9)과 드레인 전극(10) 및 게이트 전극을 형성하는 공정을 포함한다.
Int. CL H01L 21/336 (2006.01)
CPC G03F 7/094(2013.01) G03F 7/094(2013.01) G03F 7/094(2013.01)
출원번호/일자 1019920023355 (1992.12.04)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0100721-0000 (1996.06.17)
공개번호/일자 10-1994-0016617 (1994.07.23) 문서열기
공고번호/일자 1019960003851 (19960323) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1992.12.04)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박성호 대한민국 대전직할시서구
2 강진영 대한민국 대전직할시유성구
3 박형무 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인한국전자통신연구소 대한민국 대전직할시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1992.12.04 수리 (Accepted) 1-1-1992-0126786-70
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.04 수리 (Accepted) 1-1-1992-0126788-61
3 출원심사청구서
Request for Examination
1992.12.04 수리 (Accepted) 1-1-1992-0126790-53
4 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.04 수리 (Accepted) 1-1-1992-0126789-17
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1992.12.04 수리 (Accepted) 1-1-1992-0126787-15
6 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1994.03.03 수리 (Accepted) 1-1-1992-0126791-09
7 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1996.02.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0041828-77
8 등록사정서
Decision to grant
1996.06.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1992-0041829-12
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

화합물 반도체 기판(1)을 준비하는 공정과, 상기 반도체 기판(1)상에 유전체 박막(2)을 형성하는 공정과, 상기 유전체 박막(2)상에 도포 및 감광막(3)을 식각하여 역메사 패턴의 식각된 부분을 갖는 공정과, 상기 역메사 패턴에 의해 노출된 상기 유전체 박막(2)을 상기 기판(1)에 대해 소정 각도로 경사되게 식각하는 공정과, 전자 빔 가열방식을 이용하여 상기 식각공정과는 반대되는 방향의 경사각으로 상기 감광막(3)상에 게이트 금속(6)을 형성하되, 상기 역메사 패턴에 있어서 노출된 기판(1)상에 역메사 구조의 게이트(7)가 형성하는 공정과, 게이트 금속(6)과 감광막(3) 및 유전체 박막(2)을 차례로 식각하여 상기 기판(1)에 형성된 역메사 구조의 게이트(7)만 남게 하는 공정과, 상기 기판 (1)상에 도포된 소정 패턴의 감광막(3a)에 의해 오믹 금속(8)을 형성하여 소스전극(9)과 드레인 전극(10) 및 게이트 전극을 형성하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 초미세 게이트 화합물 반도체 소자의 제조방법

2 2

제 1 항에 있어서, 상기 유전체 박막(2)은 실리콘 질화막 및 실리콘 산화막 중 어느 하나를 플라즈마 화학증착법으로 형성되는 것을 특징으로 하는 초미세 게이트 화합물 반도체 소자의 제조방법

3 3

제 1 항에 있어서, 상기 감광막(3)의 역메사 패턴의 형성은 염화벤젠에 의한 감광막 표면강화를 이용 또는 이미지 반전용 감광막을 이용하여 된 것을 특징으로 하는 초미세 게이트 화합물 반도체 소자의 제조방법

4 4

제 1 항에 있어서, 상기 역메사 패턴에 의해 노출된 유전체 박막(2)의 식각공정은 상기 기판(1)을 소정 각도로 기울여 놓고 전자 사이클로트론 공명장치에 의해 플라즈마 빔을 수직으로 조사하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 초미세 게이트 화합물 반도체 소자의 제조방법

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제 1 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 기판(1)의 경사각도는 기판의 수직방향에 대해 임의적으로 변화시킴으로써 게이트 길이의 변화가 가능한 것을 특징으로 하느 초미세 게이트 화합물 반도체 소자의 제조방법

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제 1 항에 있어서, 상기 기판(1)은 불순물이 이온주입 되어 전기적 활성층을 선택적으로 형성한 갈륨비소 기판과 이종접합 구조의 에피택셜층을 형성한 갈륨비소 기판 중 어느 하나를 사용한 것을 특징으로 하는 초미세 게이트 화합물 반도체 소자의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.