| 요약 |
본 발명은 마이크로스트립형의 고온초전도 마이크로파 전송선소자, 주로 수동소자들의 저온고주파 특성을 측정하기 위한 치구(또는 test fixture, 또는 jig)장치와 이를 활용하여 삽입손실, 반사손실등 마이크로파 특성을 정밀하게 측정하기 위한 저손실 접축방법에 관한 것이다.기존의 치구와 이를 이용한 접촉방식으로는 X-band(8-12GHz)정도의 고주파 영역에서 컨넥터와 전송선소자의 입출력단사이에 우수하고 연속적인 전송선로 (transmission line)특성을 유지하기가 어려워, 구현한 고운 초전도 마이크로파 소자의 고주파특성을 손실없이 측정하기가 어려웠을 뿐만아니라 접촉상황 여부가 직접 살펴볼 수도 확인할 수도 없었다.본 발명은 상기한 문제점을 해소하고 마이크로스트립형 전송선 소자의 저온고주파 특성을 잘 평가하기 위하여, 측정용 치구(test fixture)를 3-성분형태로 구성하였다.하부성분과 중간성분 결합시, 탄성이 우수한 Be-Cu스프링을 삽입하고 조임나사로 조이면서 탄력과 역탄력을 주어, 두 성분이 평행을 이루도록 하였고 특수하게 제작한 상부성분(뚜껑)을 이용하여 전송선로 특성이 잘 유지되는 상태를 현미경을 사용하여 확인한 후, 상부성분(뚜껑)을 밀봉하는 방식으로 치구(test fixture)를 제작하였는 바, 이러한 방식에 의하면 탄력과 역탄력을 주면서도 전송선소자와 컨넥터의 센터-핀이 휘어지지않은 채 역학적 그리고 전기적으로 잘 결합될 수 있다.한편, 기존의 치구(test fixture)들은 접촉특성이 우수한 지의 여부를 확인하기가 어려웠지만, 본 발명에서는 접촉(contact)상태를 현미경으로도 확인할 수 있고, 계측기(Vector Network Analyzer)를 사용하여 재확인할 수 있는 장점이 있다.
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