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8단자가변임피던스전자파발생장치와이를이용한복사전자장내성측정시스템

  • 기술번호 : KST2015074512
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전기장 강도 측정기 교정용, 자기장 강도 측정기 교정용, 안테나 교정용 및 전기 전자 장비의 불요 전자파 간섭 및 내성 (EMI/EMS) 측정용 등으로 사용되는 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생 장치 및 이를 이용한 복사 전자장 내성 측정 시스템에 관한 것이다.종래의 시험장치는 주파수에 따라 각기 다른 전파 임피던스를 갖기 때문에 펄스 자기장 내성처럼 광대역 신호에 대한 시험을 지원할 수가 없고 자기장 혹은 전기장 측정용 안테나 고정시, 매 주파수에 따라 위치를 변경해야 하는 문제점들이 있었다.본 발명은 상술한 문제점들을 극복하기 위한 것으로 주파수와 독립적으로 균일한 임의의 전파 임피던스를 갖는 수평 수직 전자파를 형성하도록 한 것이다.
Int. CL G01R 33/00 (2006.01)
CPC G01R 29/0814(2013.01) G01R 29/0814(2013.01)
출원번호/일자 1019940036340 (1994.12.23)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0139728-0000 (1998.03.05)
공개번호/일자 10-1996-0024449 (1996.07.20) 문서열기
공고번호/일자 (19980715) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 발송
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.12.23)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤재훈 대한민국 대전직할시중구
2 김진석 대한민국 대전직할시유성구
3 오길남 대한민국 대전직할시유성구
4 조광윤 대한민국 대전직할시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1994.12.23 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163838-37
2 출원심사청구서
Request for Examination		 1994.12.23 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163839-83
3 특허출원서
Patent Application		 1994.12.23 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163837-92
4 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification		 1997.04.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163840-29
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 1997.07.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0091028-43
6 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1997.08.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163841-75
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 1997.09.22 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163842-10
8 의견서
Written Opinion		 1997.10.22 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163844-12
9 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 1997.10.22 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163845-57
10 심사참고자료제출서
Submission of Examination reference		 1997.10.22 수리 (Accepted) 1-1-1994-0163843-66
11 등록사정서
Decision to grant		 1998.02.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0091029-99
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

전기 전자장비의 불요 전자파 간섭 및 내성(EMI/EMS)측정용 등으로 사용되는 임피던스 전자파 발생장치에 있어서, 피시험체가 놓이는 공간으로 결합 전송 선로의 형태를 갖되 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 내부도체가 내부 모서리에 상하

2 2

제1항에 있어서, 상기 제 1, 제 2, 제 3, 제 4 내부도체는 단면이 원형 또는 구형 중 어느 하나의 구조를 갖는 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치

3 3

제1항에 있어서, 상기 도축코넥터 접속 영역부의 내부도체가 접하는 상기 제 2 외부도체의 모서리부분은 곡면처리하여 쇼트 페스(Short pass)현상을 줄이도록 한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치

4 4

제1항 또는 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 제 1,2,3,4, 내부도체는 적어도 2개 이상의 부분이 조립되어 형성된 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치

5 5

제1항에 있어서, 상기 테이퍼 영역부는 상기 피시험체 영역부에서 동축코넥터 접속 영역부 쪽으로 갈수록 점차 좁아지는 구조를 갖되 피시험체 영역부 쪽을 중심이 내부 방향에 위치하는 원 곡면을 형성하고 동축코넥터 접속 영역부쪽을 중심이 외부방향에 위치하는 원곡면으로 형성 대치하도록 한 8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치

6 6

8 단자 가변 임피던스 전자파 발생장치의 좌단 제 4 N 형 코넥터와 우단 제 1 N 형 코넥터는 종단 시키고, 좌단 제 1 N 형 코넥터는 제 1 T 연결자에 연결하고, 좌단 제 2, 제 3 N 형 코넥터는 각각 스위치 S3 에 연결하고, 이 S3 의 한 출력단은 종단시키고 다른 한단은 제 1 T 연결자에 연결하고 상기 제 1 T 연결자는 가변 감쇠기를 거쳐 다시 제 3 T 연결자에 연결하며, 우단 제 4 N 형 코넥터는 제 3 T 연결자에 연결하고 우단 제 3, 4, N 형 코넥터는 각각 스위치 S4 에 연결되며 이 스위치 S4 의한 출력단은 종단시키고 다른 한 단은 제 2 T 연결자에 연결하고, 이 제 2 T 연결자는 다시 스위치 S2를 통해 직접 또는 180°지연기를 거쳐 스위치 S1 에 연결되고 다시 제 3 T 연결자에 연결되는 구조를 갖는 8 단자 가변임피던스 전자파 발생장치를 이용한 복사 전자장 내성측정 시스템

7 7

제6항에 있어서, 상기 좌단 각 N 형 코넥터에서 상기 제 1 T 연결자에 도달하는 전송 길이가 동일하도록 형성한 8 단자 가변임피던스 전자파 발생장치를 이용한 복사 전자장 내성측정 시스템
8 8

제7항에 있어서, 상기 우단 각 N 형 코넥터에서 상기 제 2 T 연결자에 도달하는 전송길이가 동일하도록 형성한 8 단자 가변임피던스 전자파 발생장치를 이용한 복사 전자장 내성측정 시스템

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.