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쌍극자트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015074580
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에서는, 쌍극자 트랜지스터의 컬렉터 접합층에 금속성 박막의 컬렉터 메몰층을 증착시킨 후 소자격리영역을 식각하여 외부컬렉터 저항을 최소화하고, 절연막과 다결정막을 증착하여 기판에 직접 접합시키고 반대편의 기판을 기계화 연마로 평탄화시킨다.이로써, 컬렉터 접합층의 전류와 같은 방향의 측면저항이 금속성 컬렉터 메몰층에 의해 거의 없어지므로 고속 및 고주파특성 등의 트랜지스터 성능향상을 얻을 수 있다.
Int. CL H01L 21/331 (2006.01)
CPC H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01) H01L 29/0821(2013.01)
출원번호/일자 1019940035491 (1994.12.21)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0137552-0000 (1998.02.10)
공개번호/일자 10-1996-0026425 (1996.07.22) 문서열기
공고번호/일자 (19980601) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.12.21)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성현 대한민국 대전직할시유성구
2 조덕호 대한민국 대전직할시유성구
3 염병렬 대한민국 대전직할시유성구
4 한태현 대한민국 대전직할시유성구
5 이수민 대한민국 대전직할시유성구
6 강진영 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.12.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0159808-28
2 출원심사청구서
Request for Examination
1994.12.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0159809-74
3 특허출원서
Patent Application
1994.12.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0159807-83
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0159810-10
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0159811-66
6 등록사정서
Decision to grant
1998.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0089027-05
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

소정의 기판(1)위에 컬렉터(2)를 형성하고, 그 위에 컬렉터 접합층(3)을 형성한 후에, 국부적으로 절연막(4)을 형성하는 공정(A)과,

상기 컬렉터 접합층(3)위에 금속성 박막층(5)을 형성하고 소자의 활성영역과 컬렉터 금속접촉영역을 제외한 부분을 식각하는 공정(B)과,

상기 식각된 금속성 박막층(5)위에 절연막(6)을 도포하고 박막(7)을 성장시키는 공정(C)과,

상기 도포된 박막(7)을 평탄화시키고, 소정의 기판(9)고 직접 접합(Direct bonding)시키는 공정(D)과

2 2

제1항에 있어서,

상기 컬렉터(2)와 컬렉터 접합층(3)은 다결정 반도체박막 또는 다결정 반도체 박막을 성장시키는 것에 의해 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

3 3

제1항에 있어서,

상기 컬렉터(2)과 컬렉터 접합층(3)은 금속성 박막을 성장시키는 것에 의해 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

4 4

제1항에 있어서,

상기 금속성 박막층(5)은 순수금속 또는 내화금속으로 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

5 5

제1항에 있어서,

상기 절연막(4)은 열산화막, 증착산화막, 질화막, 폴리에미드(polyemide), 또는 붕소와 인이 함유된 절연막 BPSG(boron phosphorus silica glass) 중 하나로 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

6 6

제1항에 있어서,

상기 절연막(6)은 산화막, 질화막 또는 폴리에미드 중 하나로 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

7 7

제1항에 있어서,

상기 절연막(6)은 다결정 박막, 비정질박막, 또는 붕소와 인을 포함한 절연막 BPSG 중 하나로 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

8 8

제1항에 있어서,

박막(7)은 다결정박막, 비정질박막, 또는 붕소와 인이 함유된 절연막 BPSG 중 하나로 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

9 9

제8항에 있어서,

상기 다결정 박막(7)은 다결정규소, 다결정 GaAs, 다결정 InP중 하나로 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

10 10

제8항에 있어서, 상기 비정질 박막(7)은 비정질규소, 비정질 GaAs, 비정질 InP, 폴리에미드 중 하나로 형성되는 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

11 11

제1항에 있어서,

상기 기판(9)은 규소, GaAs, InP, 사파이어, 다이아몬드 중 하나인 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.