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광대역티이엠셀및자동측정용광대역티이엠셀

  • 기술번호 : KST2015074713
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전송선로 내부에서 균등전자장이 발생되는 특성을 이용하여, 전자장 강도 측정기 교정용, 안테나 교정용 및 전기전자 장비의 불요전자파 간섭 및 내성(EMI/EMS)측정용 등으로 사용되는 자동측정용 광대역 티이엠 셀 및 광대역 티이엠 셀(BTEM cell : Broadband Transverse Electromagnetic cell)에 관한 것으로 티이엠 셀의 2단자 측정을 유지하면서 티이엠 셀의 크기와 무관하게 사용주파수대역을 확장시킬 수 있도록 하고 미약공진 주파수(potentially critical resonance frequency)에서 발생되는 진행방향의 전자계 성분을 억제하도록 하여 전자파장해 및 내성측정의 정확도, 재현성을 높일 수 있도록 한 것이다.
Int. CL G01R 33/00 (2006.01)
CPC G01R 29/0828(2013.01)
출원번호/일자 1019940031030 (1994.11.24)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0121209-0000 (1997.08.26)
공개번호/일자 10-1996-0018611 (1996.06.17) 문서열기
공고번호/일자 1019970008142 (19970521) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.11.24)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤재훈 대한민국 대전직할시중구
2 이애경 대한민국 대전직할시유성구
3 심환우 대한민국 경상북도청송군
4 조광윤 대한민국 대전직할시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1994.11.24 수리 (Accepted) 1-1-1994-0139966-65
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.11.24 수리 (Accepted) 1-1-1994-0139965-19
3 특허출원서
Patent Application
1994.11.24 수리 (Accepted) 1-1-1994-0139964-74
4 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1997.04.07 수리 (Accepted) 1-1-1994-0139967-11
5 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1997.04.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0078178-22
6 등록사정서
Decision to grant
1997.08.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0078179-78
7 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.20 수리 (Accepted) 1-1-1994-0139968-56
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

서로 다른 동축 코넥터의 구조와 티이엠의 셀의 구조를 임피던스 정합이 유지되도록 연결한 동축코넥터 이음매 영역부(3)와; 피시험체가 놓이는 공간과 동축 코넥터 이음매를 연결시키고 내부도체를 회전시킬 수 있는 동력전달체가 설치되어, 외부에서 구동이 가능하도록 한 테이퍼 영역부(2)와; 피시험체가 놓이는 피시험체 영역부(1)와; 피시험체의 회전에 대한 방위 변화를 구현하는 회전탁자 영역부(4)로 구성된 티이엠 셀에 있어서, 내부도체(10)는 비도전성판(39)위에 일렬로 나열한 도금(38)처리를 하고, 외부도체(7)(8)(9)에는 전자파 흡수 훼라이트(40)를 부착하여 구성함을 특징으로 하는 광대역 티이엠 셀 및 자동측정용 광대역 티이엠셀

2 2

제1항에 있어서, 외부도체(7),(8),(9)에 부착한 전자파 흡수 훼라이트(40)는 감쇠특성을 고려하여 훼라이트(40)간의 간격을 저주파대 특성이 좋은 것은 넓게 하고, 고주파대 특성이 좋은 것은 좁게 나열한 것을 특징으로 하는 광대역 티이엠 셀 및 자동측정용 광대역 티이엠셀

3 3

제1항에 있어서, 외부도체(7),(8),(9)에 부착한 전자파 흡수 훼라이트(40)는 자체의 폭(41)을 저주파대와 고주파대의 특성에 따라 달리 선택하여 부착하는 것을 특징으로 하는 광대역 티이엠 셀 및 자동측정용 광대역 티이엠 셀

4 4

제1항 내지 제3항에 있어서, 전자파 흡수 훼라이트(40)가 부착된 외부도체(7),(8),(9)는 내부에 훼라이트(40)의 파손을 방지하기 위하여 유전율이 낮은 비전도성 재료로 엷게 코팅처리한 것을 특징으로 하는 광대역 티이엠 셀 및 자동측정용 광대역 티이엠 셀

5 5

제1항에 있어서, 내부도체의 도금(38)은 위 아래로 일정한 배열로 이루어져 있으며, 서로간의 캐패시턴스 결합을 최소로 하도록 하여 횡전류의 발생을 억제하기 위하여 내부도체 위부분의 도금부위(38A)와 아래부분의 도금부위(38B)는 서로 어긋나게 배열한 것을 특징으로 하는 광대역 티이엠 셀 및 자동측정용 광대역 티이엠셀

6 6

제1항에 있어서, 제1구동축 회전시 테이퍼 영역부(2)와 피시험체 영역부(1)에 위치하는 내부도체(10)의 휨을 방지하기 위해 제3외부도체(8) 혹은 제2외부도체(9)양측을 서로 외부에서 봉 혹은 단단한 금속막대로 연결 고정시킴을 특징으로 하는 자동 측정용 광대역 티이엠 셀

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.