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에미터다운쌍극자트랜지스터의제조방법

  • 기술번호 : KST2015074771
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 에미터가 콜렉터보다 아래에 있는 쌍극자 트랜지스터에서 선택적 결정성장방법으로 베이스층을 형성하여 자기정렬 구조를 만들고, 에미터층으로서 규소다결정막을 증착하고 순차적으로 금속성 박막층을 증착하여 기계화 연마로 평탄화 시킨후, 기판에 직접 접합(direct bonding)시켜 에미터-베이스 접합면적을 최소화하고 얕은 접합계면을 형성시켜 전류이득 극대화를 이루며 베이스 전달시간이 감소하고 에미터 접합층의 측면저항을 최소화시킴으로써 고속 및 고주파 특성 등의 트랜지스터 성능 향상을 얻을 수 있다.
Int. CL H01L 21/328 (2006.01)
CPC H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01) H01L 29/0804(2013.01)
출원번호/일자 1019940033902 (1994.12.13)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0137571-0000 (1998.02.10)
공개번호/일자 10-1996-0026418 (1996.07.22) 문서열기
공고번호/일자 (19980601) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.12.13)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성현 대한민국 대전직할시유성구
2 조덕호 대한민국 대전직할시유성구
3 한태현 대한민국 대전직할시유성구
4 이수민 대한민국 대전직할시유성구
5 염병렬 대한민국 대전직할시유성구
6 강진영 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1994.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152513-57
2 출원심사청구서
Request for Examination
1994.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152515-48
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.12.13 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152514-03
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.09 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152516-94
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.20 수리 (Accepted) 1-1-1994-0152517-39
6 등록사정서
Decision to grant
1998.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0085065-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
8 출원인정보변경(경정)신고서
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2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
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2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
13 출원인정보변경(경정)신고서
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2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
18 출원인정보변경(경정)신고서
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2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
19 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법에 있어서,

소정의 기판(1)위에 콜렉터 접합층(2) 및 콜렉터층(3)을 순차적으로 성장시키고, 국부적으로 절연막(4)을 형성하여 소자의 활성영역과 비활성영역을 격리한 후에 그 위에 질화막(5)과 다결정 박막(6)을 순차적으로 증착한 후, 다결정 박막(6)의 비활성영역을 식각하고, 상기 식각된 다결정 박막(6)위에 산화막(7)을 도포하고 상기 산화막(7)과 상기 다결정 박막(6)을 소자의 에미터영역의 형성을 위하여 식각하는 제1공정과;

상기 제1공정에 의하여 형성된 표면위에 다결정 박막(6)을 도포하고 상기 에미터영역의 측면에 측면 다결정막(8)을 식각공정으로 형성시키고, 상기 형성된 측면 다결정막(8)의 표면을 열처리로 산화시켜 절연 산화막(9)을 형성시키고 제2공정과;

질화막(5)을 식각하고 선택적 결정성장법으로 베이스층(10)을 성장시키는 제3공정과;

고농도의 다결정규소 박막(11)을 도포하고 열처리하여 에미터-베이스 접합계면(12)을 형성하고 평탄화시킨 후에 금속성 박막층(13)과 박막(14)을 순차적으로 도포시키고, 상기 도포된 박막(14)과 소정의 기판(16)사이에 직접 접합계면(15)이 형성되도록 직접접합을 수행시키는 제4공정; 및

상기 제1공정에서부터 사용된 기판(1)을 제거시키고 콜렉터 접합층(2)을 부분적으로 연마한 후에 트랜지스터의 표면을 보호하기 위하여 절연막(17)을 증착시키고, 상기 증착된 절연막(17)에 금속성 박막층(13)과 다결정 박막층(6) 및 콜렉터 접합층(2)에 접촉하기 위한 접촉 개구면들을 식각한 후에 배선공정에 의하여 저항성 접촉을 형성시키는 제5공정으로 구성됨을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

2 2

제1항에 있어서,

상기 에미터와 상기 베이스 사이의 계면이 동종접합 또는 이종접합이 되도록 하는 베이스층을 가짐을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

3 3

제1항에 있어서,

상기 콜렉터 접합층(2)을 단결정 반도체 박막 또는 다결정 반도체 박막을 성장하여 형성하고, 상기 콜렉터 접합층(2)을 형성하기 위하여 금속성 박막층을 사용하며, 상기 콜렉터(3)와 콜렉터 접합층(2)을 전부 금속성 박막층으로 사용하는 것을 포함하여 완성됨을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

4 4

제1항에 있어서,

상기 제1절연막(4)과 상기 제2절연막(17)을 산화막, 질화막, 폴리에미드(polyemide) 또는 붕소와 인을 포함한 절연막 BPSG(boron phosphorus silica glass)의 일군중에 어느 하나로 사용하는 것을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

5 5

제1항에 있어서,

서브콜렉터층인 상기 금속성 박막층(13)을 순수 금속 또는 내화금속으로 형성시키는 것을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

6 6

제1항에 있어서,

상기 박막(14)을 다결정규소, 다결정 GaAs 또는 다결정 InP 등의 일군 중의 어느 하나로 형성된 다결정 박막과, 비정질규소, 비정질 GaAs, 비정질 InP 또는 폴리에미드 등의 일군중의 어느 하나로 형성된 비정질 박막 및 붕소와 인을 포함한 절연막 BPSG을 사용하는 것을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

7 7

제1항에 있어서,

상기 기판(16)을 규소, GaAs, InP, 사파이어 또는 다이아몬드 등의 일군 중의 어느 하나로 사용하는 것을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

8 8

제5항에 있어서,

상기 금속성 박막층(13)을 전자빔 증착법(electron beam evapora-tion), 스파터닝증착법(sputtering), 전기도금 증착법(electro plating), 분자선 이온 증착법(molecular beam epitaxy), 화학증기 증착법(chemical vapor deposition) 또는 화학선 증착법(chemical beam deposition) 등의 일군 중의 어느 하나로 증착시키는 것을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

9 9

제1항에 있어서,

상기 에피층(2), (3)을 MBE(molecular beam epitaxy), CVD(chemical vapor deposition), CBE(chemical beam epitaxy), VPE(vapor phase epitaxy) 또는 LPE(liquid phase epitaxy) 등의 일군 중의 어느 하나로 증착시키는 것을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

10 10

제1항에 있어서,

상기 절연막(4)을 CVD(chemical vapor deposition), CBE(chemical beam epitaxy), VPE(vapor phase epitaxy) 또는 LPE(liquid phase epitaxy) 등의 일군의 박막성 증착법중의 어느 하나로 증착시키는 것을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

11 11

에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법에 있어서,

소정의 기판위에 콜렉터 접합층 및 콜렉터층을 순차적으로 성장시키고, 국부적으로 절연막을 형성하기 위하여 소자의 활성영역과 비활성영역을 격리한 후에 상기 기판의 상부의 전면에 질화막과 다결정 박막을 순차적으로 증착한 후, 비활성영역위에 위치한 다결정박막의 일부분을 식각하고, 상기 식각된 다결정 박막위에 산화막을 도포하고 상기 소자의 에미터영역의 형성을 위하여 상기 산화막과 상기 다결정박막 및 상기 질화막까지 식각하는 공정과;

형성된 표면위에 다결정 박막의 도포 및 절연을 위하여 산화막을 도포하고 에미터영역의 측면에 측면 다결정막과 산화막을 식각하여 형성시키는 공정과;

콜렉터 영역으로 이온주입에 의하여 베이스를 형성시키는 공정과;

고농도의 다결정규소 박막을 도포하고 열처리하여 에미터-베이스 접합계면을 형성하고 평탄화시킨후에 금속성 박막층과 박막을 순차적으로 도포시키고, 상기 도포된 박막과 소정의 기판사이에 직접 접합계면이 형성되도록 직접접합을 수행시키는 공정과;

상기 기판을 제거시키고 콜렉터 접합층을 부분적으로 연마한 후에 트랜지스터의 표면을 보호하기 위하여 절연막을 증착시키고, 상기 증착된 절연막에 금속성 박막층과 다결정 박막층 및 콜렉터 접합층에 접촉하기 위하여 접촉 개구면들을 식각한 후에 배선공정으로 구성되어 완성됨을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

12 12

에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법에 있어서,

소정의 기판위에 콜렉터 접합층 및 콜렉터층 및 베이스층을 순차적으로 성장시키고서, 국부적으로 절연막을 형성하기 위하여 소자의 활성영역과 비활성영역을 격리한 후에 다결정 박막을 증착시키고 비활성영역위에 위치한 다결정 박막의 일부분을 식각하고 산화막을 도포하고 소자의 에미터영역 형성을 위하여 상기 산화막과 상기 다결정 박막을 상기 형성된 베이스층의 활성영역의 끝선에 맞추어서 식각하는 공정과;

상기 형성된 표면위의 다결정 박막을 도포시키고 에미터영역의 측면에 측면 다결정막을 형성시키고 상기 형성된 측면 다결정막의 표면을 열처리하여 절연 산화막을 형성하는 공정과;

고농도의 다결정규소 박막을 도포하고 열처리하여 에미터-베이스 접합계면을 형성하고 평탄화시킨후에 금속성 박막층과 박막을 순차적으로 도포시키고, 상기 도포된 박막과 소정의 기판사이에 직접 접합계면이 형성되도록 직접접합을 수행시키는 공정과;

상기 소정의 기판을 제거시키고 콜렉터 접합층을 부분적으로 연마한 후에 트랜지스터의 표면을 보호하기 위하여 절연막을 증착시키고 상기 증착된 절연막에 금속성 박막층과 다결정 박막층 및 콜렉터 접합층에 접촉하는 접촉 개구면들을 식각한 후에 배선공정으로 구성되어 완성됨을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

13 13

에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법에 있어서,

소정의 기판위에 에피층의 성장공정 및 절연막의 형성공정을 수행하지 않고서, 질화막과 다결정 박막을 순차적으로 증착시킨 후에, 정의되어질 소자의 비활성영역에 위치한 다결정 박막의 일부분을 식각하고 상기 다결정 박막위에 산화막을 도포하고 소자의 에미터영역의 형성을 위하여 상기 산화막과 상기 다결정 박막을 식각하는 공정과;

형성된 표면위의 상기 다결정 박막과 상기 산화막의 식각된 부위를 도포하는 측면에 측면 다결정막을 형성시킨 후에 측면 다결정막의 표면에 절연 산화막을 형성시키는 공정과;

질화막을 식각하고 선택적 결정성장법에 의하여 베이스층을 성장시키는 공정과;

고농도의 다결정규소 박막을 도포하고 열처리하여 에미터-베이스 접합계면을 형성하고 평탄화시킨후에 금속성 박막층과 박막을 순차적으로 도포시키고 상기 도포된 박막과 소정의 기판사이에 직접 접합계면이 형성되도록 직접접합을 수행시키는 공정; 및

상기 기판을 기계화적 연마에 의하여 질화막을 연마정지층으로 이용하여 제거시키고 그 위에 콜렉터층 및 콜렉터 접합층을 형성시키고, 국부적으로 절연막을 형성하거나 질화막의 상단까지 식각하여 소자의 활성영역과 비활성영역을 격리시킨후에 트랜지스터의 보호를 위한 절연막을 증착시키고 상기 증착된 절연막에 금속성 박막층과 다결정 박막층 및 콜렉터 접합층에 접촉하는 접촉 개구면들을 식각한 후에 배선공정하는 공정으로 구성되어 완성됨을 특징으로 하는 에미터 다운 쌍극자 트랜지스터의 제조방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.