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자체고유열저항을줄이는다중칩패키지제작방법

  • 기술번호 : KST2015074775
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 보드(Board;2차 패키징), 또는 시스템(3차 패키징) 차원에서가 아니라 1차 패키징, 즉, 다중화 패키지를 구성하는 여러 가지 요소 기판의 제작공정에서 근본적인 원인인 복합재료로 구성된 패키지의 자체 고유 열저항을 줄이기 위한 다중칩 패키지의 제작방법을 제공하는데 그 목적이 있으며, 다중칩 패키지 기판인 세라믹 기판(1)상에 실장될 소자들(5)의 위치에 다수의 비아홀(2)을 형성시키는 제1공정과, 열전도성이 좋은 페이스트(3)를 기판위에 놓고, 프린터(Printer)를 이용하여 스퀴징(Squeezing)하여 상기 비아홀(2)에 페이스트(3)를 채우고 건조(Drying) 및 굽기(Firing)공정을 통하여 살기 페이스트(3)를 고체화시키는 제2공정과, 비아홀(2) 부분을 제외한 상기 세라믹기판(1) 윗면에 컨덕터 패턴(Conductor Pattern)인 유전체 및 도전체층(4)을 형성하고, 수동소자와 능동소자(5)를 세라믹기판(1)위에 실장하는 제3공정과, 상기 세라믹 기판(1) 밑면에 금속판(7)을 부착하는 제4공정과, 상기 세라믹 기판(1)상에 실장된 수동소자나 능동소자(5)가 외부로부터 오염되는 것을 막기 위하여 세라믹 기판상의 소자(5)들을 캡(8)으로 허메틱 실링(Hermetic Sealing)하는 제5공정을 포함한다.
Int. CL H01L 23/28 (2006.01)
CPC H01L 23/15(2013.01) H01L 23/15(2013.01)
출원번호/일자 1019940003065 (1994.02.21)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0121659-0000 (1997.08.29)
공개번호/일자 10-1995-0025962 (1995.09.18) 문서열기
공고번호/일자 1019970007843 (19970517) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1994.02.21)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영진 대한민국 대전직할시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1994.02.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0014567-19
2 특허출원서
Patent Application
1994.02.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0014565-17
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1994.02.21 수리 (Accepted) 1-1-1994-0014566-63
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.04.07 수리 (Accepted) 1-1-1994-0014568-54
5 출원공고결정서
Written decision on publication of examined application
1997.04.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0008076-00
6 등록사정서
Decision to grant
1997.08.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1994-0008077-45
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

다중칩 패키지 기판인 세라믹기판(1)상에 실장될 소자들(5)의 위치에 다수의 비아홀(2)을 형성시키는 제1공정과, 열전도성이 좋은 페이스트(3)를 기판위에 놓고, 프린터(Printer)를 이용하여 스퀴징(Squeezking)하여 상기 비아홀(2)에 페이스트(3)를 채우고 건조(Drying) 및 굽기(Firing) 공정을 통하여 상기 페이스트(3)를 고체화시키는 제2공정과, 비아홀(2) 부분을 제외한 상기 세라믹판(1) 윗면에 컨덕터 패턴(Conductor Pattern)인 유전체 및 도전체층(4)을 형성하고, 수동소자와 능동소자(5)를 세라믹기판(1) 위에 실장하는 제3공정과, 상기 세라믹판(1) 밑면에 금속판(7)을 부착하는 제4공정과, 상기 세라믹 기판(1)상에 실장된 수동소자나 능동소자(5)가 외부로 부터 오염되는 것을 막기 위하여 세라믹 기판상의 소자(5)들을 캡(8)으로 허메틱 실링(Hermetic Sealing)하는 제5공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 세라믹기판(1)의 양측면에 PCB에 표면 실장법을 사용하여 자동화 할 수 있도록 일렉트리 에지 클립(Elootrio Edge Clip ; 9)을 부착시키는 제6공정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

3 3

제1항에 또는 제2항에 있어서, 상기 세라믹기판(1)은 후막공정(Thick Film)이 가능한 92%의 알루미나(Al2O3) 기판을 사용하는 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

4 4

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제1공정에서 형성되는 비아홀은(2), 1㎜ 내지 2

5 5

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제1공정에서의 비아홀 형성은 총 비아홀(2)의 전체면적이 세라믹기판(1)의 전체면적의 10%가 넘지 않도록 형성하는 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

6 6

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제2공정에서의 페이스트(3)는 은(Au) 페이스트나 구리(Cu) 페이스트중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

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제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제3공정에서의 소자(5)들의 실장은 도전체층에 연결하기 위하여 베어칩(Bare Chip)인 경우에는 와이어 본딩(Wire Bonding)에 의하여 실장하고, 칩 저항, 칩 캐패시터는 표면 실장에 의해 실장하는 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

8 8

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제4공정에서의 금속판(7)은 써멀 에폭시(6)를 사용하여 부착하는 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

9 9

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제4공정에서의 금속판(7)은 상기 비아홀(2)을 채운 페이스트(3)의 재료와 동일한 성분의 재료로 구성하는 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

10 10

제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 캡(8)은 Kovar 재료를 사용한 캡인 것을 특징으로 하는 다중칩 패키지 제작방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.