요약 | 본 발명은 관찰중심적으로 정의된 이에프에스엠(EFSM)모델을 기반으로 데이타가 고려된 시험열 자동생성 방법에 관한 것으로서, 다중 모듈 EFSM 모델인 프로토콜 명세(스펙)를 단일 모듈 EFSM 모델로 변환된 후 시험 케이스를 자동생성하기 위해 데이터 부분을 관찰중심적으로 관점에서 재정의하여 새로운 EFSM모델로 변환하는 제2과정과, EFSM 모델에 대해 "top-down search"를 수행하는 제3과정과, all-du-paths 범주에 상응하는 데이터 부분에 대한 경로를 선택하는 제4과정과, 경로에 대해 각 상태와 이전 시험열에 대한 정보의 저장을 통해 루프처리 방법으로 경로의 길이를 최소화하는 제5과정과, 실행 가능한 경로가 되도록 입력안의 매개변수 값을 선택해주고 출력매개변수 값을 구하는 제6과정과, 데이타 부분 시험경로를 통해 포함되지 않은 제어 부분을 시험하는 경로를 구하는 제7과정으로 이루어진 것을 특징으로 한다. |
---|---|
Int. CL | G06F 17/10 (2006.01) |
CPC | H04L 12/2898(2013.01) H04L 12/2898(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019950049259 (1995.12.13) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | |
공개번호/일자 | 10-1997-0049732 (1997.07.29) 문서열기 |
공고번호/일자 | |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 거절 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (1995.12.13) |
심사청구항수 | 2 |