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이종접합 바이폴러 트랜지스터의 제조방법_

  • 기술번호 : KST2015075238
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 바이폴러 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 저심도랑과 폴리실리콘 측벽막 형성공정, 자기정렬된 컬렉터-베이스 형성 공정, 및 선택적 컬렉터 이온주입에 의한 선택적 컬렉터 영역 형성공정이 개별적인 마스크의 사용없이 하나의 마스크에 의해 수행되므로 제작이 용이하며, 소자간의 격리를 위해 저심 도랑을 사용함으로써, 격리공정이 단순하며 용이할 뿐만 아니라 베이스 기생저항의 증가가 상기 저심도랑 상부에 형성된 다결정 규소 측벽막에 의해 방지되고, 상기 저심도랑에 의해 다결정 규소 측벽막 밑의 기생용량 형성이 방지된다.
Int. CL H01L 29/70 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019950052690 (1995.12.20)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0205017-0000 (1999.03.31)
공개번호/일자 10-1997-0054342 (1997.07.31) 문서열기
공고번호/일자 (19990701) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1995.12.20)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 염병렬 대한민국 대전광역시 유성구
2 조덕호 대한민국 대전광역시 유성구
3 한태현 대한민국 대전광역시 유성구
4 이수민 대한민국 대전광역시 유성구
5 편광의 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1995.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203927-65
2 출원심사청구서
Request for Examination
1995.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203929-56
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1995.12.20 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203928-11
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.05.07 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203930-03
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1997.08.25 수리 (Accepted) 1-1-1995-0203931-48
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1998.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0107564-58
7 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
1998.11.28 수리 (Accepted) 1-1-1995-0755933-86
8 의견서
Written Opinion
1998.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1995-0759654-35
9 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
1998.12.24 수리 (Accepted) 1-1-1995-0759655-81
10 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1998.12.24 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-1995-0759653-90
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
12 등록사정서
Decision to grant
1999.01.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0015321-93
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
25 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

바이폴러 트랜지스터의 제조방법에 있어서, 반도체 기판(1)상에 전도성 매몰 컬렉터(2), 컬렉터용 박막(3), 컬렉터 싱커(6)를 순차적으로 형성하는 제1단계 ; 상기 1단계의 결과물 위에 규소 산화막(8), 베이스 전극용 다결정 규소막(9), 질화 규소막(10), 및 규소 산화막(11)을 순차적으로 형성하는 제2단계 ; 상기 제2단계 후에 활성영역을 정의하고 식각을 통하여 상기 규소 산화막(8)을 노출시킨 후, 노출된 활성영역의 측벽에 스페이서용 절연막을 형성하여 활성영역을 한정하는 제3단계 ; 상기 제3단계의 결과물을 마스크로 이용하여 활성영역의 컬렉터 박막(3)을 노출시킨 후 측벽에 격리를 위한 예비 측벽막(14)을 형성하고, 노출된 컬렉터 표면에 마스킹용 열산화막(16)을 형성하는 제4단계 ; 상기 예비 측벽막(14)에 의해 한정된 활성역영에 불순물을 이온주입하여 선택적 컬렉터 영역(15)을 형성하는 제5단계 ; 상기 예비 측벽막(14)을 제거하여 노출된 부위를 이방성 식각하여 소자의 격리를 위한 저심도랑(17)을 상기 컬렉터 영역(15)의 박막보다 더 깊게 형성하고 열산화막으로 채우는 제6단계 ; 상기 저심 도랑(17) 상부에 상기 베이스 전극용 다결정 규소박막(9)과 동등한 높이로 다결정 규소 측벽막(18)을 형성하는 제7단계 ; 상기 규소 산화막(11), 질화 규소막(10), 및 상기 컬렉터 영역(15) 상면의 마스킹용 열산화막(16)을 제거하여 상기 베이스 전극용 다결정 규소박막(9)과 상기 컬렉터 영역(15)을 노출시킨 후, 베이스 박막(19)을 형성하는 제8 단계 ; 베이스 전극을 정의하는 마스크로 베이스 전극영역 이외의 상기 베이스 박막(19), 베이스 전극용 다결정 규소박막(9), 규소 산화막(8), 다결정 측벽막(18), 스페이서용 측벽막(12), (13)을 제거한 후 페시베이션 절연막(20)을 도포하는 제9단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이종 접합 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 제1단계의 컬렉터 싱커(6) 형성후, 싱커 내부의 불순물 활성화 및 그 상부의 열산화 규소막(7)을 더 형성을 위하여 열처리 공정을 부가 하는 것을 특징으로 하는 이종접합 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 제3단계의 스페이서용 절연막이 소자의 신뢰성 향상을 위해 서로 식각율이 상이한 질화 규소막(12)과, 규소 산화막(13)의 이중막으로 형성하는 것을 특징으로 하는 이종접합 바이폴러 트랜지스터의 제조방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 제8단계의 베이스 박막(19)은, Si/SiGe/Si의 삼중막으로 형성하는 것을 특징으로 하는 이종접합 바이폴러 트랜지스터 제조방법

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US05798277 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 DE19643903 DE 독일 DOCDBFAMILY
2 DE19643903 DE 독일 DOCDBFAMILY
3 US5798277 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.