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STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

  • 기술번호 : KST2015075712
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 STM-N 동기식 광전송 시스템에서 전송 채널의 오류를 검출하는데 사용되는 B2바이트를 이용하여 STM-1 단위의 EB를 검출하는 회로에 관한 것으로서, 동기식 전송 시스템에서는 시스템의 전송 오류를 평가하기 위한 방법으로 STM-N 프레임내의 B2 오버헤드 바이트를 사용한 BIP(Bit Interleaved Parity) 방식을 사용하고 있다. 현재까지 B2 바이트를 사용한 전송 오류 측정은 BIP를 각각 검출하여 누적하는 방식을 취하고 있으나 최근에는 EB(Errored Block)을 사용하는 것이 세계적인 추세이다. 기본적인 설계개념은 모두 동일하므로 본 발명에서는 STM-4에 대하여 언급하기로 한다. 본 발명에서는 8병렬 STM-4 신호를 수신하여 B2 바이트의 오류를 검출하고 최종적으로 STM-1 단위의 EB 오류를 검출하기 위하여 수신된 8병렬 STM-4 신호에서 BIP 계산기를 이용하여 B2 바이트 값을 계산한다. 이후 계산된 B2 바이트 값과 다음 프레임의 B2 바이트를 BIP 오류 검출기에서 비트별로 비교하여 STM-4 신호 전체에 대한 BIP 오류를 먼저 찾아낸다. BIP 오류를 찾아낸 후 이를 STM-1단위로 분리하여 EB를 검출한다. STM-N 광전송 시스템의 전송 오류 평가 방법이 EB로 변경되는 추세에 맞추어 EB를 이용한 전송 오류 방식을 구현하는 회로 방식을 제공함으로써 최근에 개정된 국제 표준안을 수용하는 광전송 시스템을 구현할 수 있도록 하였다.
Int. CL H04L 1/00 (2006.01)
CPC H04L 1/0061(2013.01) H04L 1/0061(2013.01) H04L 1/0061(2013.01) H04L 1/0061(2013.01)
출원번호/일자 1019960064715 (1996.12.12)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0198420-0000 (1999.03.02)
공개번호/일자 10-1998-0046390 (1998.09.15) 문서열기
공고번호/일자 (19990615) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1996.12.12)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종호 대한민국 대전광역시 유성구
2 이태희 대한민국 대전광역시 유성구
3 김동현 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
3 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination		 1996.12.12 수리 (Accepted) 1-1-1996-0215669-40
2 특허출원서
Patent Application		 1996.12.12 수리 (Accepted) 1-1-1996-0215667-59
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1996.12.12 수리 (Accepted) 1-1-1996-0215668-05
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1997.03.24 수리 (Accepted) 1-1-1996-0215670-97
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1997.08.27 수리 (Accepted) 1-1-1996-0215671-32
6 등록사정서
Decision to grant		 1998.12.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1996-0459086-81
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
8 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent		 1999.03.10 수리 (Accepted) 1-1-1999-5105570-70
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

STM-N 동기식 광전송시스템에 있어서, 입력클럭에 동기되어 수신된 8개 병렬 STM-4 신호에서 한 프레임동안의 B2 바이트 값을 계산하는 비트 인터리브드 패리티(BIP) 계산수단과; 상기 계산된 B2 바이트 값과 다음 프레임의 B2 바이트를 비트별로 비교하여 STM-4 신호 전체에 대한 BIP 오류를 검출하는 BIP 오류검출수단과; 상기 검출된 BIP 오류를 STM-1 단위로 분리하여 에러블록(EB) 오류를 검출하는 EB 오류 검출수단과; 그리고 상기 입력클럭과 입력 프레임 싱크 신호(FS)를 받아 상기 각 수단에 타이밍 신호를 공급하는 타이밍 발생수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

2 2

제1항에 있어서, 상기 BIP 계산수단은 상기 8개의 병렬 STM-4 신호 각각과 이전까지 계산되어 저장된 각 값을 12번째마다 논리 연산하는 논리연산부와; 입력클럭에 동기되어 상기 논리 연산된 각 결과를 받아 상기 타이밍 발생수단에서 발생된 인에이블 신호(B2-EN)상태에 따라 계산된 한 프레임 동안의 B2 바이트 값을 저장한 후 출력하고, 상기 타이밍 발생수단에서 공급된 클리어신호(CLR)에 따라 리셋된 후 다음 한 프레임동안의 B2 바이트를 계산하는 BIP 계산부로 구성된 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

3 3

제2항에 있어서, 상기 논리연산부는 8개의 배타적 논리합(XOR) 게이트인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

4 4

제2항에 있어서, 상기 BIP 계산부는 계산된 B2 바이트 값은 B2 바이트를 계산하지 않는 첫번째 열의 RSOH(중계구간 오버헤드) 시점에서 출력하는 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

5 5

제2항에 있어서, 상기 BIP 계산부는 12비트 쉬프트 레지스터인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

6 6

제1항에 있어서, 상기 BIP 오류검출수단은 상기 다음 프레임의 8개의 병렬 STM-4 신호 각각과 상기 BIP 계산수단에서 계산되어 프레임의 첫번째 RSOH 시간에 병렬 로딩된 B2 바이트 값 각각을 차례로 비교 연산하는 논리연산부와; 상기 타이밍 발생수단에서 발생되는 신호선택신호(COUNT)의 상태에 따라 8개의 쉬프트 레지스터의 동작신호 경로가 바뀌도록 상기 논리 연산된 각각의 출력과 자신이 아닌 다음 쉬프트 레지스터의 12번째 비트 출력(QL)중 어느 하나를 각각 선택함과 동시에 상기 논리연산된 출력과 외부로부터 입력된 0신호중 어느 하나를 선택하는 신호선택부와; 상기 입력클럭에 동기되고, 상기 타이밍 발생수단에서 공급되는 인에이블신호에 의해 인에이블 되어, 상기 신호선택부에서 선택된 출력을 받아 상기 타이밍 발생 수단에서 발생된 로딩신호(LOAD)에 의해 상기 계산된 B2 바이트 계산값을 병렬 로딩하고, 상기 논리연산부를 통해서 비교되는 값을 저장하면서 12비트 동안의 상기 타이밍 발생수단에서 발생된 B2 바이트 시간(B2-T)이 1이 될때 BIP 오류 유무를 알려주는 값을 저장하는 오류 유무상태 저장부와; 상기 하나의 오류 유무 상태를 상기 타이밍 발생수단에서 발생되어 반전된 BIP-T 시간일 때에만 출력하는 오류 상태 출력 제어부와; 그리고 상기 출력된 오류 유무 상태를 상기 입력클럭에 동기시켜 리타이밍하여 출력시키는 제1리타이밍부로 구성된 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

7 7

제6항에 있어서, 상기 논리연산부는 8개의 배타적 논리합 게이트인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

8 8

제6항에 있어서, 상기 오류 유무 상태 저장부는 8개의 12비트 쉬프트 레지스터인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

9 9

제6항 또는 제8항에 있어서, 상기 오류 유무 상태 저장부는 상기 1의 신호선택신호에 의해 한개의 96비트 쉬프트 레지스터로 동작하고, 상기 0의 신호선택신호에 의해 8개의 12비트 쉬프트 레지스터로 동작하는 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

10 10

제6항에 있어서, 상기 오류 유무 상태 저장부는 공급되는 인에이블 신호는 상기 타이밍 발생수단에서 발생된 B2 바이트 시간(B2-T) 신호와 BIP출력시간을 지정하는 BIP-T 신호를 논리곱 게이트를 통해 논리곱하여 공급한 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

11 11

제6항에 있어서, 상기 오류상태 출력 제어부는 논리곱 게이트인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

12 12

제6항에 있어서, 상기 제1리타이밍부는 D-플립플롭인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

13 13

제1항에 있어서, 상기 오류 검출수단은 상기 BIP 오류 검출수단의 출력과 검출된 STM-1 단위의 EB 오류를 논리 합하는 논리합 게이트와; 상기 입력클럭에 동기되어 상기 타이밍 발생수단에서 발생된 BIP-T신호를 리타이밍시키는 제2 리타이밍부와; 상기 리타이밍된 신호와 상기 타이밍 발생수단에서 발생된 EB-T(에러블록시간)신호를 논리곱하여 인에이블 신호를 출력하는 논리곱 게이트와; 매 프레임마다 공급되는 상기 입력클럭과 상기 타이밍 발생수단에서 발생된 클리어신호(CLR)에 따라 상기 BIP 오류검출수단에서 순서적으로 출력된 STM-1 신호의 BIP오류를 상기 인에이블 신호 상태가 1일 때 각각 발생된 STM-1 단위의 EB 값을 저장하는 EB 오류 값 저장부와; 상기 저장된 EB 오류 값을 반전된 EB-T시간 동안에만 출력하도록 제어하는 EB 오류 값 출력 제어부와; 그리고 상기 제어에 따라 출력된 EB 오류값을 리타이밍시켜 출력하는 제3리타이밍부로 구성된 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

14 14

제13항에 있어서, 상기 제2리타이밍부는 D-플립플롭인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

15 15

제13항에 있어서, 상기 EB 오류값 저장부는 4비트 쉬프트 레지스터인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

16 16

제13항에 있어서, 상기 EB 오류값 출력 제어부는 논리곱 게이트인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

17 17

제13항에 있어서, 상기 제3리타이밍부는 D-플립플롭인 것을 특징으로 하는 STM-N 신호에서 STM-1 단위의 에러블록 검출회로

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.