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고주파 측정 오차 보정 방법

  • 기술번호 : KST2015075770
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야고주파 측정의 오차를 보정하는 방법.2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제일반적인 오차 보정방법으로 계산된 측정용 보조기구의 특성으로부터 보정기구의 특성 임피던스를 구하여 일단 계산되었던 측정용 보조기구의 특성을 재계산함으로써, 특성이 검증되지 않은 표준 보정기구를 사용하더라도 고주파 측정오차를 정확히 보정하고자 함.3. 발명의 해결방법의 요지측정용 보조기구를 두 개의 전송선(104,105)과 전송선 연결부위의 기생성분(106)으로 모델링 하고, 각 전송선의 전달특성을 이용하여 측정 기준점을 이동함으로써 2 단자가 서로 만나게 하였을 경우의 반사계수 치이로부터 측정용 보조기구의 특성 추출에 사용된 표준 보정기구의 특성 임피던스를 계산하는 단계로 이루어짐.4. 발명의 중요한 용도측정장치에 이용됨.고주파, 오차 보정, 임피던스
Int. CL G01R 23/00 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019960049301 (1996.10.28)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0211026-0000 (1999.04.29)
공개번호/일자 10-1998-0029967 (1998.07.25) 문서열기
공고번호/일자 (19990715) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1996.10.28)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이창석 대한민국 대전광역시 서구
2 황인갑 대한민국 전라북도 전주시 완산구
3 김민건 대한민국 대전광역시 유성구
4 이재진 대한민국 대전광역시 유성구
5 편광의 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination		 1996.10.28 수리 (Accepted) 1-1-1996-0169127-03
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1996.10.28 수리 (Accepted) 1-1-1996-0169126-57
3 특허출원서
Patent Application		 1996.10.28 수리 (Accepted) 1-1-1996-0169125-12
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1997.04.09 수리 (Accepted) 1-1-1996-0169128-48
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 1998.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1996-0448142-93
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 1999.01.25 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-1999-5023145-88
7 의견서
Written Opinion		 1999.01.25 수리 (Accepted) 1-1-1999-5023142-41
8 등록사정서
Decision to grant		 1999.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0073455-40
9 FD제출서
FD Submission		 1999.04.30 수리 (Accepted) 2-1-1999-5076836-28
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

(정정)

측정물의 고주파 특성을 측정하여 측정오차를 보정하는 고주파 측정오차 보정 방법에 있어서,

고주파용 커넥터와 유전체 기판위에 제작된 제 1 전송선으로 구성된 고주파 측정용 보조기구에 의한 영향을 보정하기 위하여, 상기 고주파용 커넥터 부분은 소정의 특성 임피던스를 갖는 제 2 전송선으로 모델링하며, 상기 제 1 전송선은 소정의 길이를 갖는 제 3 전송선으로 모델링하며, 모델링한 접합부에는 특성을 모르는 기생성분이 병렬로 연결되도록 모델링하는 제 1 단계; 및

미리 계산된 측정용 보조기구의 특성으로부터 상기 고주파용 커넥터와 상기 제 1 전송선에 의한 영향을 제거한 후, 상기 커넥터쪽의 단자와 상기 제 1 전송선쪽 단자의 특성차이를 이용하여 상기 제 1 전송선의 특성 임피던스를 계산하고, 상기 제 1 전송선의 특성 임피던스 계산값을 이용해 상기 측정용 보조기구의 특성을 다시 계산하여 계산한 값에 따라 상기 측정용 보조기구의 특성을 보정하는 제 2 단계

를 포함하여 이루어진 고주파 측정오차 보정 방법

2 2

(정정)

제 1 항에 있어서,

상기 제 2 단계에서,

상기 제 1 및 제 3 전송선의 영향을 제거하고 상기 제 1 및 제 3 전송선쪽 단자를 단락하여 상기 기생성분의 영향을 제거한 상태에서의 특성을 끝이 단락된 전송선의 특성과 비교하여 전기적 위상각을 계산하는 것을 특징으로 하는 고주파 측정오차 보정 방법

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1 US05862144 US 미국 FAMILY

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1 US5862144 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.