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삼원계 확산 방지막 형성 방법

  • 기술번호 : KST2015075798
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 배선 금속의 특성 개선을 위한 열처리 공정에 의해 배선 금속의 확산 방지막 내부로의 확산 속도와 실리콘의 확산 방지막 내부로의 확산 속도가 상이한 점을 이용하여 상부의 배선 금속이 확산 방지막 내부를 완전히 관통하여 하부의 실리콘층에 도달하기 전에 확산 방지막 내부에 침투한 실리콘과 이원계 확산 방지막간에 화합물을 형성하게 함으로써 확산 방지 특성이 우수한 삼원계 확산 방지막 형성 방법이 개시된다.
Int. CL H01L 21/22 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019960052620 (1996.11.07)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0240649-0000 (1999.10.28)
공개번호/일자 10-1998-0034537 (1998.08.05) 문서열기
공고번호/일자 (20000201) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1996.11.07)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김윤태 대한민국 대전광역시 유성구
2 전치훈 대한민국 대전광역시 유성구
3 백종태 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)
2 최승민 대한민국 서울특별시 중구 통일로 **, 에이스타워 *층 (순화동)(법무법인 세종)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1996.11.07 수리 (Accepted) 1-1-1996-0178974-58
2 특허출원서
Patent Application
1996.11.07 수리 (Accepted) 1-1-1996-0178973-13
3 출원심사청구서
Request for Examination
1996.11.07 수리 (Accepted) 1-1-1996-0178975-04
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1997.03.12 수리 (Accepted) 1-1-1996-0178976-49
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
1999.04.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0129262-82
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
1999.06.25 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-1999-5232142-98
7 의견서
Written Opinion
1999.06.25 수리 (Accepted) 1-1-1999-5232133-87
8 등록사정서
Decision to grant
1999.09.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0282291-06
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2008.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2008-5055003-22
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

실리콘 기판 상부에 실리사이드를 증착하는 단계와, 상기 실리사이드 상부에 내화 금속 질화물을 증착하는 단계와, 상기 내화 금속 질화물 상부에 배선 금속을 증착하는 단계와, 열처리 공정을 실시하여 상기 실리사이드 및 내화 금속 질화물 사이에 삼원계 확산 방지막을 형성하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 실리사이드는 내화 금속계인 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

3 3

제1항에 있어서, 상기 내화 금속 질화물은 TiN, TaN 및 WN 중 어느 하나로 이루어지며,상기 삼원계 확산 방지막은 내화 금속 질화물과 실리사이드 내의 Si와 반응하여 Ti-Si-N, Ta-Si-N 및 W-Si-N와 같은 삼원계 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

4 4

제1항에 있어서, 상기 배선 금속은 알루미늄 및 구리 중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

5 5

실리콘 기판 상부에 내화 금속 질화물을 증착하는 단계와, 상기 내화 금속 질화물 상부에 배선 금속을 저온 증착하는 단계와, 상기 실리콘 기판 상부에 실리사이드가 형성됨과 동시에 상기 내화 금속 질화물 및 상기 실리사이드 사이에 삼원계 확산 방지막이 형성되도록 열처리 공정을 실시하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

6 6

제5항에 있어서, 상기 배선 금속은 알루미늄 및 구리 중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

7 7

실리콘 기판 상부에 내화 금속을 증착하는 단계와, 상기 내화 금속을 열변환하여 실리콘 기판 상부에 실리사이드와 내화 금속 질화물을 동시에 형성하는 단계와, 상기 내화 금속 질화물 상부에 배선 금속을 저온 증착하는 단계와, 열처리 공정을 실시하여 상기 실리사이드 및 내화 금속 질화물 사이에 삼원계 확산 방지막을 형성하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

8 8

제7항에 있어서, 상기 내화 금속은 Ti, Ta, W 중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

9 9

제7항에 있어서, 상기 열변환은 질소 분위기에서 수행하는 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

10 10

제7항에 있어서, 상기 배선 금속은 알루미늄 및 구리 중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 삼원계 확산 방지막 형성 방법

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DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US6066554 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.