요약 | 본 발명은 위상형 입력 물체를 명암의 광세기 분포로 변환하여 눈으로 입력 물체를 측정할 수 있는 기존의 위상-광세기 변환용 현미경(Zernike phase-contrast microscope)을 평판 광학계로 구성한 평판 광학적 위상-광세기 변환용 현미경에 관한 것으로, 기존의 위상-광세기 변환용 현미경에 사용되는 모든 광학 부품들을 한 장의 유리기판 상에 높은 정밀도를 가지고 견고하게 접합하거나 직접 유리기판 상에 제작함으로써, 전체 현미경 광학계를 안정적이고 소규모로 할 수 있으며, 정교한 정렬 정확도를 가지고 집적할 수 있는 평판 광학적 위상-광세기 변환용 현미경에 관한 것이다. |
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Int. CL | G02B 21/00 (2006.01) |
CPC | G02B 21/14(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019970000631 (1997.01.13) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0218665-0000 (1999.06.10) |
공개번호/일자 | 10-1998-0065558 (1998.10.15) 문서열기 |
공고번호/일자 | (19990901) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (1997.01.13) |
심사청구항수 | 5 |