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미세 티자형 게이트 전극의 제작방법

  • 기술번호 : KST2015076505
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 게이트의 길이와 수직방향의 높이를 조절할 수 있고, 게이트 누설 전류를 줄일 수 있는 미세 선폭의 T자형 게이트 전극을 제어성 좋게 한 반도체 소자의 미세 T자형 게이트 전극 제작방법에 관한 것이다. 이 방법을 살펴보면, 기판(1)위에 활성층(2)과 캡층(3)을 성장한 후 오믹 금속층(4)을 형성하고, 표면 보호 및 게이트 다리의 높이 조절용 절연막(5)을 증착한다. 그 후 게이트 다리 및 머리용 레지스트(6, 7)를 도포하고 열처리 한다. 게이트 패턴부(8)를 형성하고, 게이트 길이 조절용 절연막(9)을 증착한다. 절연막의 비등방성 식각 공정으로 측면부(10a)를 남기고 바닥부는 제거한다. 다단계 게이트 리세스 공정으로 등방성 식각부(11a), 선택 식각부(11b), 저속 식각부(11c)를 형성한다. 그리고나서, 게이트 금속막(12)의 증착 및 리프트 오프 공정에 의한 T자형 게이트 금속을 완성한다. 이에 따라서, 전자빔 리소그래피를 절연막과 리세스 식각 방법과 결합하여 T자형 게이트 금속을 형성하는 방법으로 게이트 다리의 길이와 높이 및 머리부의 크기를 임의로 조절할 수 있게 하여 게이트 저항을 줄이고, 동시에 머리부와 게이트 접촉면과의 분리거리를 크게 하여 게이트 기생성분을 줄일 수 있게 하며, 다단계 식각 방법으로 게이트 누설 전류를 억제하여 소자의 특성을 향상 시킬 수 있도록 한 것이다. 각 소자의 게이트 금속의 다리 높이는 초기의 절연막과 레지스트의 두께로 조정하고, 전자빔의 노광 에너지와 절연막의 두께로 길이를 조정하며, 머리부는 패턴 설계로 자유롭게 조절할 수 있도록 하므로써 기존의 공정 보다 재현성 있는 T자형 게이트 금속을 얻을 수 있도록 한 것이다. 따라서 이 공정은 웨이퍼 내에서 균일하고 재현성 있는 게이트 전극을 얻을 수 있는 방법이다.
Int. CL H01L 29/12 (2006.01)
CPC H01L 29/66621(2013.01) H01L 29/66621(2013.01)
출원번호/일자 1019980016753 (1998.05.11)
출원인 한국전자통신연구원, 주식회사 케이티
등록번호/일자 10-0276077-0000 (2000.09.26)
공개번호/일자 10-1999-0084769 (1999.12.06) 문서열기
공고번호/일자 (20010115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1998.05.11)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이진희 대한민국 대전광역시 유성구
2 박병선 대한민국 대전광역시 유성구
3 윤형섭 대한민국 대전광역시 유성구
4 맹성재 대한민국 대전광역시 유성구
5 박철순 대한민국 대전광역시 유성구
6 편광의 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 케이티 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1998.05.11 수리 (Accepted) 1-1-1998-0053073-63
2 출원심사청구서
Request for Examination
1998.05.11 수리 (Accepted) 1-1-1998-0053074-19
3 특허출원서
Patent Application
1998.05.11 수리 (Accepted) 1-1-1998-0053072-17
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.20 수리 (Accepted) 4-1-1999-0010652-29
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2000.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2000-0005008-66
6 등록사정서
Decision to grant
2000.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0191051-81
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2002-0032774-13
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.03.13 수리 (Accepted) 4-1-2009-5047686-24
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2010-5068437-23
13 출원인정보변경(경정)신고서
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2012.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2012-5005621-98
14 출원인정보변경(경정)신고서
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2012.03.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5058926-38
15 출원인정보변경(경정)신고서
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2012.06.08 수리 (Accepted) 4-1-2012-5122434-12
16 출원인정보변경(경정)신고서
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2013.07.31 수리 (Accepted) 4-1-2013-5106568-91
17 출원인정보변경(경정)신고서
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2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018159-78
18 출원인정보변경(경정)신고서
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2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

화합물 반도체 기판 위에 활성층과 캡층을 성장한 후 오믹 금속층을 형성하고, 이 위에 기판의 표면 보호 및 게이트 다리의 높이를 조절하기 위한 제 1 절연막을 형성하는 제 1 공정과;

상기 제 1 절연막 위에 게이트의 다리용 제 1 레지스트와 머리용 제 2 레지스트를 순차로 각기 도포한 후 열처리하는 제 2 공정과;

상기 레지스트들을 전자빔에 의해 노광한 후 현상하여 T자형 게이트의 머리용 및 다리용 패턴을 동시에 형성하는 제 3 공정과;

상기 게이트 패턴에 제 2 절연막을 저온에서 형성하여 게이트 길이를 조절하는 제 4 공정과;

상기 형성된 제 2 절연막의 측면만을 남기면서 상기 게이트 다리 패턴에 위치한 제 1 절연막 일부만을 비등방성 식각하는 제 5 공정과;

상기 식각 후, 다단계 게이트 리세스를 수행하는 제 6 공정과; 및

상기 게이트 리세스 공정 후, 전자빔을 사용하여 게이트 금속을 증착하고서 리프트 오프 공정에 의해 T자형 게이트를 완성하는 제 7 공정으로 형성하는 것을 특징으로 하는 미세 T자형 게이트 전극의 제작방법

2 2

제 1 항에 있어서,

게이트 저항을 줄이고 동시에 게이트 금속의 기생성분을 줄이기 위해 상기 제 1 절연막과 제 1 레지스트의 각 두께를 합한 두께에 따라 게이트 다리의 높이를 조절하는 것을 특징으로 하는 미세 T자형 게이트 전극의 제작방법

3 3

제 1 항에 있어서,

상기 제 1 레지스트의 두께에 따라 게이트 다리의 높이를 조절하는 것을 특징으로 하는 미세 T자형 게이트 전극의 제작방법

4 4

제 1 항에 있어서,

상기 제 2 절연막의 두께(t)는 하기 수학식 1에 따라 형성하는 것을 특징으로 하는 미세 T자형 게이트 전극의 제작방법

5 5

제 1 항에 있어서,

상기 게이트 다리의 높이는 전자빔의 노광 에너지 조절과 상기 제 2 절연막의 두께로 미세하게 조절하는 것을 특징으로 하는 미세 T자형 게이트 전극의 제작방법

6 6

제 1 항에 있어서,

상기 다단계 게이트 리세스 공정은,

상기 제 1, 2 절연막을 비등방성 식각하는 공정에서 발생하는 표면손상층을 제거하여 게이트 누설전류를 감소시키기 위해 상기 캡층의 일부를 등방성 식각에 의해 식각하는 제 1 식각 단계와;

기판내의 문턱전압과 포화전류의 균일도를 높이기 위해서 상기 활성층에서 식각 정지가 일어나게 상기 캡층의 나머지 부분을 선택적 식각에 의해 식각하는 제 2 식각 단계와; 및

소자의 문턱전압을 정확히 조절하기 위해 습식식각에 비해 상대적으로 느린 저속 식각에 의해 상기 활성층을 원하는 두께만큼 식각하는 제 3 식각 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 미세 T자형 게이트 전극의 제작방법

7 7

제 6 항에 있어서,

상기 다단계 게이트 리세스 공정은 하나의 챔버내에서 연속적으로 건식식각 공정에 의해서만 수행하는 것을 특징으로 하는 미세 T자형 게이트 전극의 제작방법

8 8

제 6 항에 있어서,

상기 다단계 게이트 리세스 공정은 습식식각 또는 건식식각을 병행하여 각 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 미세 T자형 게이트 전극의 제작방법

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