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실리콘팁을갖는전계방출소자의게이트전극제조방법

  • 기술번호 : KST2015076549
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광 콘트라스트 증가물질을 이용한 실리콘 팁을 갖는 전계방출 소자의 게이트 전극의 형상을 제조하는 방법에 관한 것으로서, 유리기판상에 폴리실리콘 혹은 비정질 실리콘을 증착하고, 실리콘 팁을 형성시킨 후 게이트 절연막(2)을 플라즈마 화학증착방법(PECVD)이나 저압 화학증착방법(LPCVD)으로 소정 두께로 저온에서 증착시키고, 그 결과물 위에 블랭크 노광에너지에 의해 조절되는 게이트 개구 형상을 형성시키기 위해 게이트 전극 금속층을 증착시키고, 이 위에 알루미늄(Al)을 사용한 게이트 전극 마스킹용 박막을 증착시킨 후 상기 게이트 전극 마스킹용 박막 위에 포토레지스트와 상기 포토레지스터 위에 도포되는 두께 차이에 따라 블랭크 노광 빛을 선별적으로 투과하여 게이트 개구 형상을 포토레지스트 상에 자동정렬하는 광 콘트라스트 증가물질을 순차로 도포시킨 후 마스크 패턴이 없는 블랭크 노광 및 현상공정을 수행하여 게이트 개구형상을 포토레지스트상에 자기 정렬형태로 형성시키며, 상기 포토레지스트를 마스킹층으로 하여 상기 게이트 전극 마스킹용 박막을 식각한 후, 이 박막을 마스킹층으로 하여 게이트 전극 금속층을 식각하여 상기 게이트 절연막을 노출시키고, 잔류한 포토레지스트를 플라즈마를 이용하여 제거한 후, 게이트 절연 산화막의 일부를 식각용액(BOE 6:1)을 이용하여 습식식각하여 팁을 노출시킨 후, 게이트 전극을 패터닝(patterning)하고 식각함으로써, 화학 기계적 연마나 에치백 시 나타나는 게이트 배선의 단선을 해결할 수 있고, 게이트 형상크기의 불균일성을 개선할 수 있으므로 제조공정의 수율향상을 도모할 수 있으며, 반도체 공정 장비의 이용 및 집적회로 제조공정과 양립성 있게 제작할 수 있는 효과를 갖는다.
Int. CL H01J 9/02 (2006.01)
CPC H01J 9/148(2013.01) H01J 9/148(2013.01) H01J 9/148(2013.01) H01J 9/148(2013.01)
출원번호/일자 1019980023728 (1998.06.23)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0284586-0000 (2000.12.20)
공개번호/일자 10-2000-0002810 (2000.01.15) 문서열기
공고번호/일자 (20010502) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1998.06.23)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박종문 대한민국 대전광역시 유성구
2 윤용선 대한민국 대전광역시 유성구
3 진영모 대한민국 대전광역시 유성구
4 백규하 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 출원심사청구서
Request for Examination
1998.06.23 수리 (Accepted) 1-1-1998-0074353-89
2 특허출원서
Patent Application
1998.06.23 수리 (Accepted) 1-1-1998-0074351-98
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1998.06.23 수리 (Accepted) 1-1-1998-0074352-33
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2000.04.19 수리 (Accepted) 9-1-2000-0000641-92
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2000.05.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0119719-04
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2000.07.27 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2000-5227964-10
7 의견서
Written Opinion
2000.07.27 수리 (Accepted) 1-1-2000-5227963-75
8 등록사정서
Decision to grant
2000.12.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0319462-01
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

유리기판(10)상에 폴리실리콘 혹은 비정질 실리콘(1)을 증착하고, 실리콘 팁(9)을 형성시킨 후 게이트 절연막(2)을 플라즈마 화학증착방법(PECVD)이나 저압 화학증착방법(LPCVD)으로 소정 두께로 저온에서 증착시키는 제 1 공정; 상기 제 1 공정의 결과물 위에 블랭크 노광에너지에 의해 조절되는 게이트 개구 형상을 형성시키기 위해 게이트 전극 금속층(3)을 증착시키고, 이 위에 알루미늄(Al)을 사용한 게이트 전극 마스킹용 박막(5)을 증착시키는 제 2 공정; 상기 게이트 전극 마스킹용 박막(5) 위에 포토레지스트(6)와 상기 포토레지스트 위에 도포되는 두께 차이에 따라 블랭크 노광 빛을 선별적으로 투과하여 게이트 개구 형상을 포토레지스트 상에 자동정렬하는 광 콘트라스트 증가물질(7)을 순차로 도포시킨 후 마스크 패턴이 없는 블랭크 노광 및 현상공정을 수행하여 게이트 개구형상을 포토레지스트(6)상에 자기 정렬형태로 형성시키는 제 3 공정; 및 상기 포토레지스트(6)를 마스킹층으로 하여 상기 게이트 전극 마스킹용 박막(5)을 식각한 후, 이 박막(5)을 마스킹층으로 하여 게이트 전극 금속층(3)을 식각하여 상기 게이트 절연막을 노출시키고, 잔류한 포토레지스트를 플라즈마를 이용하여 제거한 후, 게이트 절연 산화막(2)의 일부를 식각용액(BOE 6:1)을 이용하여 습식 식각하여 팁을 노출시킨 후, 게이트 전극을 패터닝(patterning)하고 식각하는 제 4 공정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 실리콘 팁을 갖는 전계 방출 소자의 게이트 전극 제조방법

2 2

제1항에 있어서, 상기 광 콘트라스트 증가물질(7)은 CE388WS 또는 CEM420WS를 사용하는 것을 특징으로 하는 실리콘 팁을 갖는 전계 방출 소자의 게이트 전극 제조방법

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패밀리정보가 없습니다
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