맞춤기술찾기

이전대상기술

도파관형 광 검출기

  • 기술번호 : KST2015076690
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 파장 분할 다중화방식(WDM)을 사용하는 광 전송 시스템의 교환기에서, 전송된 광 신호를 수신하여 전기적인 신호로 변환하는 다파장 역다중화와 필터링 기능을 함께 갖는 도파관형 광 검출기에 관한 것으로서, 전송된 광 신호를 입력하는 다중 파장 입력부와, 상기 다중 파장 입력부로부터 출력된 광 신호를 N개의 광 신호로 분할하는 1×N 다중파장 분할부와, 상기 1×N 다중파장 분할부로부터 분할되어 출력되는 광 신호를 각각 전송하는 N개의 광 도파로와, 상기 광 도파로를 통하여 전송되는 광 신호를 필터링하는 파장 필터부와, 상기 파장 필터부로부터 필터링된 광 신호를 검출하여 전기적인 신호로 변환하여 출력하는 광 검출부로 구성된 광 검출기를 제공함으로써, 파장 역다중화 및 광 검출 과정에서 발생할 수 있는 광 손실 및 에러 요인들을 감소시키고, 광 증폭 및 광 패키징 등의 부분을 줄일 수 있으므로 비용의 감소와 광 네트워크의 구성을 간소화할 수 있으며, 누화 현상을 감소시킬 수 있는 효과가 있다
Int. CL H04B 10/25 (2013.01) H04B 10/2581 (2013.01)
CPC H04Q 11/0005(2013.01) H04Q 11/0005(2013.01) H04Q 11/0005(2013.01) H04Q 11/0005(2013.01)
출원번호/일자 1019980004653 (1998.02.16)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0261274-0000 (2000.04.17)
공개번호/일자 10-1999-0070043 (1999.09.06) 문서열기
공고번호/일자 (20000701) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1998.02.16)
심사청구항수 3

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 현경숙 대한민국 대전광역시 유성구
2 유병수 대한민국 대전광역시 서구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
2 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1998.02.16 수리 (Accepted) 1-1-1998-0014841-63
2 특허출원서
Patent Application
1998.02.16 수리 (Accepted) 1-1-1998-0014840-17
3 출원심사청구서
Request for Examination
1998.02.16 수리 (Accepted) 1-1-1998-0014842-19
4 등록사정서
Decision to grant
2000.02.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0038421-71
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

파장 분할 다중화방식을 사용하는 광 전송 시스템의 교환기에서 전송된 광 신호를 수신하여 전기적인 신호로 변환하는 광 검출기에 있어서,

전송된 광 신호를 입력하는 다중 파장 입력부(11)와,

상기 다중 파장 입력부(11)로부터 출력된 광 신호를 N개의 광 신호로 분할하는 1×N 다중파장 분할부(12)와,

상기 1×N 다중파장 분할부(12)로부터 분할되어 출력되는 광 신호를 각각 전송하는 N개의 광 도파로(13)와,

상기 광 도파로(13)를 통하여 전송되는 광 신호를 필터링하는 파장 필터부(14)와,

상기 파장 필터부(14)로부터 필터링된 광 신호를 검출하여 전기적인 신호로 변환하여 출력하는 광 검출부(15)로 구성되어, 다파장 역다중화와 필터링 기능을 함께 갖는 것을 특징으로 하는 도파관형 광 검출기

2 2

제 1 항에 있어서,

상기 필터부(14)는, 굴절률 차이를 이용하여 단일 파장을 추출하기 위한 수직 결합형 구조인 것을 특징으로 하는 도파관형 광 검출기

3 3

제 1 항에 있어서,

상기 광 검출기는, 전압을 가하기 위한 n형 오믹 접촉층(20)과,

상기 n형 오믹 접촉층(20)의 상부에 위치하는 n형 반도체 기판(21)과,

상기 n형 반도체 기판(21)의 상부에 위치하여 클래딩 역할을 하는 버퍼(22)와,

상기 버퍼(22)의 상부에 위치하여 빛이 통과되는 코아층(23)과,

상기 코아층(24)의 상부에 위치하고, 유도 격자(24a)를 구비하여, 수직 결합을 유도하는 클래딩층(24)과,

상기 클래딩층(24)의 상부에 위치하여 유도된 빛을 통과시키는 코아층(25)과,

상기 코아층(25)의 상부에 위치하며 검출된 빛을 흡수하여 전류로 전환하는 광 검출층(26)과,

상기 광 검출층(26)의 상부에 위치하며 전류통과 및 전압을 가하는 p형 반도체층(27)과,

상기 p형 반도체층(27)의 상부에 위치하는 p형 오믹 접촉층(28)으로 구성된 것을 특징으로 하는 도파관형 광 검출기

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.