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표면 검사 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015077448
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야본 발명은 표면 검사 장치 및 그 방법에 관한 것임.2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제본 발명은 피검사체 표면의 명도가 비균일한 상태 또는 피검사체의 표면에 무늬가 있는 상태에서도 얼룩이나 이물질 등을 검출할 수 있는 표면 검사 장치 및 그 방법과 상기 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공하는데 그 목적이 있음.3. 발명의 해결방법의 요지본 발명은, 피검사체의 표면 영상을 획득하기 위한 영상 획득 수단; 및 획득된 피검사체의 표면 영상에 대한 명도 변화 크기와 명도 변화 방향을 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성을 강조하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하기 위한 제어 수단을 포함한다.4. 발명의 중요한 용도본 발명은 피검사체의 표면 검사 등에 이용됨.표면 검사, 명도 변화 크기, 명도 변화 방향, 대칭성, 대칭도 맵
Int. CL G01B 11/24 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1019990056196 (1999.12.09)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0353864-0000 (2002.09.10)
공개번호/일자 10-2001-0055119 (2001.07.04) 문서열기
공고번호/일자 (20020926) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1999.12.09)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박창준 대한민국 대전광역시유성구
2 김현진 대한민국 대전광역시서구
3 오원근 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정지원 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로**길**, ***호(서초동,서초빌리지프라자)(특허법인이노(제*분사무소))
2 최종식 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)(신성특허법인(유한))
3 신성특허법인(유한) 대한민국 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1999.12.09 수리 (Accepted) 1-1-1999-0167138-62
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2002.01.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0017348-78
4 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2002.03.25 수리 (Accepted) 1-1-2002-5075280-03
5 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2002.04.25 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2002-0124502-44
6 의견서
Written Opinion
2002.04.25 수리 (Accepted) 1-1-2002-0124503-90
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
8 등록결정서
Decision to grant
2002.08.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0290362-99
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

피검사체의 표면을 검사하기 위한 표면 검사 장치에 있어서,

상기 피검사체의 표면 영상을 획득하기 위한 영상 획득 수단; 및

상기 획득된 피검사체의 표면 영상에 대한 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성을 강조하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하기 위한 제어 수단

을 포함하는 표면 검사 장치

2 2

제 1 항에 있어서,

상기 제어 수단은,

상기 피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 각 화소(pixel)의 명도 변화 크기와 화소의 명도 변화 방향을 획득한 후에, 상기 획득한 두 가지 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 자체 내부 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 얻어 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 장치

3 3

제 2 항에 있어서,

상기 제어 수단이 명도 변화 크기와 명도 변화 방향을 획득하는 과정은,

소정의 화소를 기준으로 하여 그 기준 화소의 옆쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값과 상기 기준 화소의 아래쪽 또는 위쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값의 평균제곱근(root mean square)을 취하여 화소의 명도 변화 크기를 구한 후에, 상기 두 개의 명도 차이 값의 벡터 곱으로 구해지는 새로운 벡터의 방향을 화소의 명도 변화 방향으로 취하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 장치

4 4

제 2 항에 있어서,

상기 제어 수단이 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득하는 과정은,

대칭 쌍(pair)들의 대칭 기여도(symmetry contribution)를 누적하여 대칭도(symmetry magnitude)를 측정하고, 각 화소에 대한 상기 대칭도를 영상 좌표에 사상(mapping)시켜 대칭도 맵을 획득하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 장치

5 5

제 4 항에 있어서,

상기 대칭 기여도는,

배경의 명도 변화나 배경 무늬에 상관없이 얼룩이나 이물질 등에 의한 대칭 기여도만이 누적되도록 하기 위하여, 거리 가중 함수(distance weighting function), 위상 가중 함수(phase weighting function), 대칭 쌍의 두 화소의 명도 변화 크기의 곱, 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 수렴하는지 발산하는지에 대한 값 및 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 동일방향인지 타방향인지에 대한 값을 곱하여 구하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 장치

6 6

제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 영상 획득 수단은,

상기 제어 수단의 제어에 따라 구동되어 구동력을 제공하기 위한 구동력 제공 수단;

상기 구동력 제공 수단에 의해 움직이면서 상기 피검사체의 위치를 이동시키기 위한 이동 수단;

상기 이동 수단 상에 위치하는 상기 피검사체의 표면을 촬영한 영상을 입력하기 위한 영상 입력 수단; 및

상기 영상 입력 수단을 통하여 입력되는 영상을 전처리하기 위한 영상 처리 수단

을 포함하는 표면 검사 장치

7 7

표면 검사 장치에 적용되는 표면 검사 방법에 있어서,

피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 화소(pixel)의 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 화소의 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 획득하는 제 1 단계;

상기 제 1 단계에서 획득한 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득하는 제 2 단계; 및

상기 제 2 단계에서 획득한 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 이용하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 제 3 단계

를 포함하는 표면 검사 방법

8 8

제 7 항에 있어서,

상기 제 1 단계는,

상기 피검사체의 표면 영상을 입력받는 제 4 단계;

소정의 한 화소를 기준으로 하여 그 기준 화소의 옆쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값과 상기 기준 화소의 아래쪽 또는 위쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값의 평균제곱근(root mean square)을 취하여 화소의 명도 변화 크기를 구하는 제 5 단계; 및

상기 제 5 단계에서 구한 두 개의 명도 차이 값의 벡터 곱으로 구해지는 새로운 벡터의 방향을 화소의 명도 변화 방향으로 취하는 제 6 단계

를 포함하는 표면 검사 방법

9 9

제 7 항 또는 제 8 항에 있어서,

상기 제 2 단계는,

상기 소정의 화소를 기준으로 하여 찾고자 하는 얼룩이나 이물질의 최대 크기 만큼의 일정 영역 안에서 대칭 위치에 존재하는 화소들인 대칭 쌍(pair)들의 대칭 기여도(symmetry contribution)를 누적하여 상기 기준 화소를 중심으로 한 영역의 대칭도(symmetry magnitude)를 측정하는 제 7 단계; 및

각 화소에 대한 대칭도를 영상 좌표에 사상(mapping)시켜 대칭도 맵을 획득하는 제 8 단계

를 포함하는 표면 검사 방법

10 10

제 9 항에 있어서,

상기 대칭 기여도는,

배경의 명도 변화나 배경 무늬에 상관없이 얼룩이나 이물질 등에 의한 대칭 기여도만이 누적되도록 하기 위하여, 거리 가중 함수(distance weighting function), 위상 가중 함수(phase weighting function), 대칭 쌍의 두 화소의 명도 변화 크기의 곱, 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 수렴하는지 발산하는지에 대한 값 및 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 동일방향인지 타방향인지에 대한 값을 곱하여 구하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 방법

11 11

대용량 프로세서를 구비한 표면 검사 장치에,

피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 화소(pixel)의 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 화소의 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 획득하는 제 1 기능;

상기 제 1 기능에서 획득한 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득하는 제 2 기능; 및

상기 제 2 기능에서 획득한 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 이용하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 제 3 기능

을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체

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1 US6606394 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.