요약 | 본 발명은 원자층 증착 장비를 이용하여 형성한 스트론튬 탄탈륨 산화막의 형성 방법과 그 응용에 관한 것으로, 원자층 증착법에 플라즈마를 이용해서 증착한 스트론튬 탄탈륨 산화막은 누설 전류가 매우 낮고 유전 상수가 열처리 조건에 따라 30~100 특성을 갖는데, 이 박막을 이용하여 금속막/강유전체막/절연막/실리콘 구조로 형성되는 NDRO형 강유전체 메모리 소자의 절연막, 실리콘 산화막을 대신하는 게이트 산화막, 전계 발광 디스플레이 소자의 절연막 등에 사용되는 구조를 구현한다.스트론튬 탄탈륨 산화물 박막, 플라즈마, 유전막, 절연막 |
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Int. CL | H01L 21/31 (2006.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020000072033 (2000.11.30) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0382149-0000 (2003.04.16) |
공개번호/일자 | 10-2002-0042228 (2002.06.05) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20030509) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2000.11.30) |
심사청구항수 | 6 |