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산화막 전류 구경을 갖는 장파장용 수직 공진 표면 방출레이저 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015078075
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저는, 제1 도전형의 반도체 기판과, 반도체 기판 위에 형성되어 브래그 반사 조건을 충족시키는 하부 거울층과, 하부 거울층 위에 형성된 활성층과, 활성층 위에 형성되어 활성층으로의 전류 이동 경로를 제공하는 전류 통로층과, 활성층 위에서 전류 통로층을 감싸면서 활성층으로의 전류 이동 경로를 제한하는 전류 제한층과, 전류 통로층 및 전류 제한층 위에 형성된 내부 공진 접촉층과, 내부 공진 접촉층의 일부 표면 위에 형성되어 브래그 반사 조건을 충족시키는 상부 거울층과, 내부 공진 접촉층의 노출 표면 및 상부 거울층의 표면 위에 형성된 제1 전극, 및 반도체 기판의 일정 표면 위에 형성된 제2 전극을 구비한다.
Int. CL H01S 5/183 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020010069489 (2001.11.08)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0397371-0000 (2003.08.27)
공개번호/일자 10-2003-0038072 (2003.05.16) 문서열기
공고번호/일자 (20030913) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2001.11.08)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 신재헌 대한민국 대전광역시유성구
2 권오균 대한민국 대전광역시유성구
3 한원석 대한민국 대전광역시유성구
4 주영구 대한민국 대전광역시유성구
5 유병수 대한민국 대전광역시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이영필 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)
2 이해영 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2001.11.08 수리 (Accepted) 1-1-2001-0289929-60
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2003.06.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2003.07.15 수리 (Accepted) 9-1-2003-0028977-75
5 등록결정서
Decision to grant
2003.07.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0297964-17
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

제1 도전형의 반도체 기판;

상기 반도체 기판 위에 형성되어 브래그 반사 조건을 충족시키는 하부 거울층;

상기 하부 거울층 위에 형성된 활성층;

상기 활성층 위에 형성되어 상기 활성층으로의 전류 이동 경로를 제공하는 전류 통로층;

상기 활성층 위에서 상기 전류 통로층을 감싸면서 상기 활성층으로의 전류 이동 경로를 제한하는 전류 제한층;

상기 전류 통로층 및 전류 제한층 위에 형성된 내부 공진 접촉층;

상기 내부 공진 접촉층의 일부 표면 위에 형성되어 브래그 반사 조건을 충족시키는 상부 거울층;

상기 내부 공진 접촉층의 노출 표면 및 상기 상부 거울층의 표면 위에 형성된 제1 전극; 및

상기 반도체 기판의 일정 표면 위에 형성된 제2 전극을 구비하는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저

2 2

제1항에 있어서,

상기 상부 거울층은 제1 폭의 제1 메사 구조를 갖고, 상기 전류 제한층, 전류 통로층 및 내부 공진 접촉층은 상기 제1 폭보다 큰 제2 폭을 갖는 제2 메사 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저

3 3

제1항에 있어서,

상기 하부 거울층 및 제2 전극은 상기 반도체 기판과 동일한 제1 도전형으로 도핑되고, 상기 내부 공진 접촉층 및 제1 전극은 상기 반도체 기판과 반대인 제2 도전형으로 도핑된 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저

4 4

제1항에 있어서,

상기 상부 거울층은 도핑되지 않은 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저

5 5

제1항에 있어서,

상기 전류 통로층은 InAlAs 벌크층이고 상기 전류 제한층은 InAlAs 산화막인 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저

6 6

제1항에 있어서,

상기 제1 전극은 5000Å 이상의 두께를 갖는 금 전극인 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저

7 7

제1 도전형의 반도체 기판 위에 하부 거울층, 활성층, 제1 반도체층, 내부 공진 접촉층 및 상부 거울층을 순차적으로 성장시키는 단계;

제1 마스크막 패턴을 식각 마스크로 하여 상기 상부 거울층이 제1 폭의 제1 메사 구조를 갖도록 제1 식각 공정을 수행하는 단계;

상기 제1 식각 공정에 의해 노출된 상기 내부 공진 접촉층 및 상부 거울층 위에 제2 마스크막 패턴을 형성하는 단계:

상기 제2 마스크막 패턴을 식각 마스크로 하여 상기 제1 반도체층 및 내부 공진 접촉층이 상기 제1 폭보다 큰 제2 폭의 제2 메사 구조를 갖도록 제2 식각 공정을 수행하는 단계;

상기 제2 반도체층의 측면을 산화시키는 산화 공정을 수행하여 상기 활성층 및 내부 공진 접촉층 사이의 전류 통로층 및 상기 전류 통로층을 둘러싸는 전류 제한층을 형성하는 단계:

상기 제2 마스크막 패턴을 제거하는 단계;

상기 내부 공진 접촉층 및 상부 거울층 표면 위에 제1 전극을 형성하는 단계: 및

상기 반도체 기판의 일정 표면 위에 제2 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저의 제조 방법

8 8

제7항에 있어서,

상기 반도체 기판은 InP 기판을, 상기 하부 거울층 및 상부 거울층은 InAlGaAs/InAlAs, InAlGaAs/InP 또는 GaAsSb/AlAsSb의 다층 박막을, 상기 활성층은 InGaAs 또는 InGaAsP의 양자 우물을, 그리고 상기 제1 반도체층은 InAlAs 벌크층을 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저의 제조 방법

9 9

제8항에 있어서,

상기 제1 반도체층은 Al이 In보다 더 많이 첨가되어 InP에 대해 격자 부정합되는 InAlAs 긴장 벌크층을 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저의 제조 방법

10 10

제7항에 있어서,

상기 제2 마스크막 패턴은 실리콘 질화막을 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저의 제조 방법

11 11

제7항에 있어서,

상기 제2 메사 구조의 제2 폭은 상기 제1 메사 구조의 제1 폭보다 2-3

12 12

제7항에 있어서,

상기 제1 및 제2 식각 공정은 건식 식각 공정을 사용하여 수행하는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저의 제조 방법

13 13

제7항에 있어서,

상기 산화 공정은 수증기 분위기 및 450-550℃의 온도에서 수행하는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저의 제조 방법

14 14

제7항에 있어서,

상기 제1 식각 공정인 종료된 후 상기 내부 공진 접촉층 표면 위에 잔재하는 상부 거울층 제거를 위한 습식 식각 공정을 수행하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 장파장용 수직 공진 표면 방출 레이저의 제조 방법

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